【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储器领域，尤其涉及一种存储器测试方法及装置。
技术介绍
随着处理器技术的不断进步，过去几年中大容量存储器件的设计和开发呈指数 级增长；而这些大容量存储器件重新设计的关键部件不是速度更快的处理器，而是采用 闪存取代了硬盘。这些装置的可靠性取决于存储器的正确设计和测试。存储器测试的主 要目标是验证存储器件上的每一个存储位都能够可靠地储存数据。验证存储器件所需的 关键测试包括验证物理连接、检查存储器的每一位并描述器件特征。 常见的存储器测试方法有扫描图形法、跨步图形法、棋盘图形法、五步棋盘法 等等；方案较多，测试复杂度各有不同，但上述不同的存储器的测试方法都聚焦在检测 存储器的外围互连故障和内部单元故障，更多的考虑存储器内部的各类逻辑错误和耦合 错误类型。其中外围互连故障如开路、短路和逻辑故障等而内部单元测试一般包括存储 单元阵列故障、译码电路和读写逻辑故障等。 专利技术人发现现有技术至少存在如下问题上述存储器的检测方法，虽然能够检 测到存储器的外围互连故障和内部单元故障，但是无法检测出硬件及PCB(Print Circuit Board)设计上存在的...
【技术保护点】
一种存储器测试方法，其特征在于，包括： 按照内存地址递变的方式将第一测量向量值和所述第一测量向量值的翻转值交替写入存储器； 依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息。
【技术特征摘要】
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