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存储器测试方法及装置制造方法及图纸
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下载存储器测试方法及装置的技术资料
文档序号:4206123
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本发明公开了一种存储器测试方法及装置,涉及存储测试领域,实现了对信号完整性问题的测试,使信号完整性存在的隐患暴露出来。本发明包括:按照内存地址递变的方式将第一测量向量值和所述第一测量向量值的翻转值交替写入存储器;依次从所述存储器读取数据,若...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。
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