存储器负载能力测试装置制造方法及图纸

技术编号:10022371 阅读:129 留言:0更新日期:2014-05-09 04:42
本发明专利技术涉及一种存储器负载能力测试装置,测试装置包括存储器插槽和第一接线端。存储器插槽用于插接待测存储器,存储器插槽包括电源引脚、接地引脚和第一电压输出引脚。电源引脚用于接收外部电源电压,并用于为待测存储器供电。接地引脚连接至地,并用于与待测存储器的接地引脚连接。第一电压输出引脚用于与待测存储器的第一电压引脚连接。第一接线端用于与第一输出电压引脚和第一负载分别连接。当测试装置对待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时,第一电压输出引脚通过第一接线端输出第一电压到第一负载,以对第一电压的带载能力进行测试。使用该测试装置进行测试不仅可以节省测试时间,而且还可以保护预安装待测存储器的主机板。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种存储器负载能力测试装置,测试装置包括存储器插槽和第一接线端。存储器插槽用于插接待测存储器,存储器插槽包括电源引脚、接地引脚和第一电压输出引脚。电源引脚用于接收外部电源电压,并用于为待测存储器供电。接地引脚连接至地,并用于与待测存储器的接地引脚连接。第一电压输出引脚用于与待测存储器的第一电压引脚连接。第一接线端用于与第一输出电压引脚和第一负载分别连接。当测试装置对待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时,第一电压输出引脚通过第一接线端输出第一电压到第一负载,以对第一电压的带载能力进行测试。使用该测试装置进行测试不仅可以节省测试时间,而且还可以保护预安装待测存储器的主机板。【专利说明】存储器负载能力测试装置
本专利技术涉及一种存储器负载能力测试装置,尤其涉及一种双倍速率(Double DateRate, DDR)同步动态随机存储器(Synchronous Dynamic Random Access Memory, SDRM)的负载能力测试装置。
技术介绍
目前,存储器,如DDR(为方便叙述,简称上述同步动态随机存储器为DDR),已被普遍运用在伺服器与计算机等电子装置的主机板上。为确保该存储器所带负载能力在预定的规格内,通常对已安装在主机板上的存储器进行负载测试。测试时,一般都先将DDR铜皮上的绿油漆刮掉,然后焊上负载线进行负载测试。然,随着DDR数量的增多,测试者则需焊接多条负载线,如此测试不仅耗时而且易破坏主机板。
技术实现思路
为解决现有技术存储器负载能力测试耗时且易破坏主机板的技术问题,有必要提供一种方便测试存储器负载能力的测试装置。本专利技术提供一种存储器负载能力测试装置,其包括存储器插槽和第一接线端。该存储器插槽用于插接待测存储器,该存储器插槽包括电源引脚、接地引脚和第一电压输出引脚。该电源引脚用于接收外部电源电压,并用于为该待测存储器供电。该接地引脚连接至地,并用于与该待测存储器的接地引脚连接。该第一电压输出引脚用于与该待测存储器的第一电压引脚连接。 该第一接线端用于与该第一输出电压引脚和第一负载分别连接。当该存储器负载能力测试装置对该待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时,该第一电压输出引脚通过该第一接线端输出该第一电压到该第一负载,以对该第一电压的带载能力进行测试。相较于现有技术,由于本专利技术存储器负载能力测试装置为一独立的装置,因此当用户使用该存储器负载能力测试装置对待测存储器的带载能力进行测试时,只需将该待测存储器插接于该存储器插槽上,然后将第一负载与该第一接线端连接即可,而无需再在该待测存储器上焊接负载线进行负载测试。当测试完毕之后,再将合格的待测存储器安装在主机板上。如此,不仅可以节省测试时间,还可以保护主机板。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术存储器负载能力测试装置的一较佳实施例的结构示意图。主要元件符号说明【权利要求】1.一种存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器负载能力测试装置包括: 存储器插槽,该存储器插槽用于插接待测存储器,该存储器插槽包括: 电源引脚,用于接收外部电源电压,并用于为该待测存储器供电; 接地引脚,该接地引脚连接至地,并用于与该待测存储器的接地引脚连接;和 第一电压输出引脚,用于与该待测存储器的第一电压引脚连接; 第一接线端,用于与该第一输出电压引脚和第一负载分别连接; 当该存储器负载能力测试装置对该待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时,该第一电压输出引脚通过该第一接线端输出该第一电压到该第一负载,以对该第一电压的带载能力进行测试。2.如权利要求1所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器负载能力测试装置进一步包括取样元件,该取样元件的一端用于与该第一电压输出引脚连接,另一端与该第一接线端连接,在该存储器负载能力测试装置对该待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时,通过对该取样元件上的信号进行取样来获得该第一负载的负载电流。3.如权利要求1所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器插槽进一步包括第二电压输出引脚,该第二电压输出引脚用于与该待测存储器的第二电压引脚连接,该存储器负载能力测试装置进一步包括第二接线端,该第二接线端用于与该第二输出电压引脚和第二负载分别连接,当该存储器负载能力测试装置对该待测存储器的第二电压引脚所输出的第二电压进行测试时,该第二电压输出引脚通过该第二接线端输出该第二电压到该第二负载,以对该第二电压的带载能力进行测试。4.如权利要求3所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器负载能力测试装置进一步包括取样元件,该取样元件的一端用于与该第二电压输出引脚连接,另一端与该第二接线端连接,在该存储器负载能力测试装置对该待测存储器的第二电压引脚所输出的第二电压进行测试时,通过对该取样元件上的信号进行取样来获得该第二负载的负载电流。5.如权利要求4所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该取样元件用于与该第二电压输出引脚连接的一端进一步用于与该第一电压输出引脚连接,在该存储器负载能力测试装置对该待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时,通过对该取样元件上的信号进行取样来获得该第一负载的负载电流。6.如权利要求2、4-5中任意一项所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该取样元件包括取样电阻,通过对该取样电阻两端的电压进行取样来获得第一负载和/或第二负载的负载电流。7.如权利要求3-5中任意一项所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器负载能力测试装置进一步包括选择开关,该存储器负载能力测试装置通过该选择开关来选择是该第一接线端与该第一电压输出引脚连接,还是该第二接线端与该第二电压输出引脚连接。8. 如权利要求7所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该选择开关包括第一输入端、第二输入端、输出端和导电杆,该导电杆与该输出端电连接,该第一输入端与该第一电压输出引脚电连接,该第二输入端与该第二电压输出引脚电连接,该输出端与该第一接线端和该第二接线端分别电连接。9.如权利要求8所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器负载能力测试装置进一步包括承载基板,该承载基板承载该存储器插槽、该第一接线端、该第二接线端、该选择开关和该取样元件。10.如权利要求8所述的存储器负载能力测试装置,其特征在于:该存储器负载能力测试装置进一步包括包括输入接口,该输入接口接收外部电源电压,并输出接收到的电源电压到该电源引脚,为该待测存储器提供电源电压。【文档编号】G11C29/56GK103778969SQ201210399465【公开日】2014年5月7日 申请日期:2012年10月19日 优先权日:2012年10月19日 【专利技术者】周海清, 涂一新 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周海清涂一新
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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