存储器测试方法及装置制造方法及图纸

一种存储器测试方法及装置，所述方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复。本发明专利技术在以扇区为单位进行修复的情况下，当测试发现扇区内存在某个字节测试未通过时，不再对该扇区内剩余的字节进行测试，测试指针直接跳到下一个扇区的第一个字节，从而避免了不必要的冗余测试，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
存储器测试方法及装置
本专利技术涉及存储器
，特别是涉及一种存储器测试方法及装置。
技术介绍
存储器（Memory）是计算机系统中的记忆设备，用来存放程序和数据。计算机中全部信息，包括输入的原始数据、计算机程序、中间运行结果和最终运行结果都保存在存储器中。存储器根据控制器指定的位置存入和取出信息。有了存储器，计算机才有记忆功能，才能保证正常工作。存储器经制造完成后，在出厂前需要先对其质量进行测试，该测试工作可以通过多种方式来完成，例如可以直接测试、用嵌入式CPU进行测试或采用内建自测试技术（MBIST）等。在测试过程中若发现存储器存在质量问题，测试未通过时，例如数据无法写入/读取，或存储的数据丢失等等，需要对存在质量问题的存储器进行修复。一个存储器可以包括多个扇区（Sector），例如可以是几百或几千个等。每个扇区可以分别包括512个字节（Byte），当然，也可以是1024字节、256字节或其他适当的字节数。当发现某个存储器存在质量问题时，只需要对存储器内存在问题的部分进行修复即可，而不必涉及整个存储器。通常情况下，可以以扇区为单位对存在问题的存储器进行修复，即：当某个扇区内存在某一字节测试未通过，则对该扇区进行修复。当然，也不排除以字节或以整个存储器为单位进行修复的可能。现有技术在对存储器的质量进行测试时，以扇区为序，并在每个扇区中依次对每一个字节进行测试。专利技术人发现：在以扇区为单位对存储器进行修复的情况下，当发现扇区内存在某个字节测试未通过（fail）时，已经足以得出“该扇区需要进行修复”的结论，此时，没有必要再对该扇区内剩余的字节进行测试。由此可见，现有技术中对存储器进行测试的方法存在一定的冗余（redundancy）测试，导致测试效率较低。因此，在以扇区为单位对存储器进行修复的情况下，如何避免冗余测试，提高测试效率，是一个亟需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术解决的是现有技术中存储器测试方法存在一定的冗余测试，测试效率较低的技术问题。为了解决上述问题，本专利技术实施例提供一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，所述每个扇区分别包括多个字节，所述测试方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。可选的，所述以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试具体是：以字节为单位，在所述存储器内以扇区为序，在每个扇区内以字节为序对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。可选的，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内的所有扇区或所述存储器内nvr阵列中的所有扇区。可选的，所述存储器测试方法采用内建自测试技术对所述存储器进行测试。为了解决上述问题，本专利技术实施例还提供一种存储器测试装置，包括：测试模块、判断模块和修复模块，其中：所述测试模块，用于以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；所述判断模块，用于在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；所述测试模块，还用于在所述判断模块执行操作之后，若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试，若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；修复模块，用于对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。可选的，所述以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试具体是：以字节为单位，在所述存储器内以扇区为序，在每个扇区内以字节为序对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。可选的，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内的所有扇区或所述存储器内nvr阵列中的所有扇区。可选的，所述存储器测试装置采用内建自测试技术对所述存储器进行测试。与现有技术相比，本专利技术的技术方案具有以下有益效果：在以扇区为单位进行修复的情况下，当测试发现扇区内存在某个字节测试未通过时，不再对该扇区内剩余的字节进行测试，测试指针直接跳到下一个扇区的第一个字节，从而避免了不必要的冗余测试，提高了测试效率。附图说明图1是本专利技术实施例中对存储器进行测试示意图；图2是本专利技术实施例一中存储器测试方法流程图；图3是本专利技术实施例二中存储器测试装置结构框图。具体实施方式正如
技术介绍
部分所分析的，现有技术中存储器测试方法存在一定的冗余测试，导致测试效率较低。为此，本专利技术提供了一种存储器测试方法，在以扇区为单位进行修复的情况下，当测试发现扇区内存在某个字节测试未通过时，不再对该扇区内剩余的字节进行测试，测试指针直接跳到下一个扇区的第一个字节，从而避免了不必要的冗余测试，提高了测试效率。如图1所示，在对存储器进行测试时，计算机101连接烧录器102，烧录器102连接待测的存储器103。操作者通过计算机101来控制烧录器102，从而实现对存储器103的写入、擦除、读取等操作。可以理解的是，每次测试不限于单个存储器103，所述计算机101可以同时控制多个烧录器102，同时对多个存储器103进行相关操作。此外，可以通过程序来取代操作者，从而实现测试的自动化。为使本领域技术人员更好地理解和实现本专利技术，以下参照附图，通过具体实施例进行详细说明。实施例一参照图2所示的存储器测试方法流程图，以下通过具体步骤进行详细说明：S201，以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。如
技术介绍
部分所述，一个存储器可以包括多个扇区。每个扇区可以分别包括多个字节。本实施例中以容量为132K的快闪存储器为例，该存储器内包括246个扇区，其中，每个扇区包括512字节。该步骤可以以多种可选的方式实施。例如，可以在整个存储器内以扇区为序，在每个扇区内，再以字节为序进行测试。例如，也可以对存储器内所有字节进行统一编号，从而实现完全以字节为序进行测试。上述测试顺序的设定可以通过软件的方式来实现。例如通过计算机执行用于测试的测试程序。所述存储器内可以包括存储有扇区地址（SectorAddress）的扇区地址寄存器，所述测试程序包括对测试指针的运算，所述测试指针指向扇区地址寄存器内某一扇区地址，可以通过对所述测试指针的控制，实现对测试顺序的控制。以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区。遍历所述存储器内所需测试的所有扇区后，测试结束。所需测试的扇区可以由操作者在测试程序中设置。例如可以设置为对存储器内的全部扇区进行测试，当然，也可以仅仅只对部分扇区进行测试，例如，存储器可以包括用于测试的nvr阵列和供用户实际使用的main阵列，在具体实施中，可以设置只对nvr阵列进行测试。S202，分别判断所述各个字节测试是否通过。在所述对各个字节进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，所述每个扇区分别包括多个字节，其特征在于，所述测试方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，每个所述扇区分别包括多个字节，其特征在于，所述测试方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。2.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试具体是：以字节为单位，在所述存储器内以扇区为序，在每个扇区内以字节为序对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。3.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内的所有扇区。4.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内nvr阵列中的所有扇区。5.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法采用内建自测试技术对所述存储器进行测试。6.一种存储器测试装置，包括：测...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱亮，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31