存储器测试方法及装置制造方法及图纸

一种存储器测试方法及装置，所述方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复。本发明专利技术在以扇区为单位进行修复的情况下，当测试发现扇区内存在某个字节测试未通过时，不再对该扇区内剩余的字节进行测试，测试指针直接跳到下一个扇区的第一个字节，从而避免了不必要的冗余测试，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
存储器测试方法及装置
本专利技术涉及存储器
，特别是涉及一种存储器测试方法及装置。
技术介绍
存储器（Memory）是计算机系统中的记忆设备，用来存放程序和数据。计算机中全部信息，包括输入的原始数据、计算机程序、中间运行结果和最终运行结果都保存在存储器中。存储器根据控制器指定的位置存入和取出信息。有了存储器，计算机才有记忆功能，才能保证正常工作。存储器经制造完成后，在出厂前需要先对其质量进行测试，该测试工作可以通过多种方式来完成，例如可以直接测试、用嵌入式CPU进行测试或采用内建自测试技术（MBIST）等。在测试过程中若发现存储器存在质量问题，测试未通过时，例如数据无法写入/读取，或存储的数据丢失等等，需要对存在质量问题的存储器进行修复。一个存储器可以包括多个扇区（Sector），例如可以是几百或几千个等。每个扇区可以分别包括512个字节（Byte），当然，也可以是1024字节、256字节或其他适当的字节数。当发现某个存储器存在质量问题时，只需要对存储器内存在问题的部分进行修复即可，而不必涉及整个存储器。通常情况下，可以以扇区为单位对存在问题的存储器进行修复，即：当某个扇区内存本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，所述每个扇区分别包括多个字节，其特征在于，所述测试方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，每个所述扇区分别包括多个字节，其特征在于，所述测试方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。2.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试具体是：以字节为单位，在所述存储器内以扇区为序，在每个扇区内以字节为序对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。3.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内的所有扇区。4.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内nvr阵列中的所有扇区。5.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法采用内建自测试技术对所述存储器进行测试。6.一种存储器测试装置，包括：测...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱亮，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31