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本发明公开了一种测试储存装置的方法，包含：（ａ）将一特定测试字符串（ｐａｔｔｅｒｎ）写入一储存装置的一储存单位；（ｂ）读取写入该储存单位的该特定测试字符串；（ｃ）判断所读取的该特定测试字符串之一错误位数；以及（ｄ）若该错误位数大于一错误位临...该专利属于慧帝科技（深圳）有限公司;慧荣科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过慧帝科技（深圳）有限公司;慧荣科技股份有限公司授权不得商用。