不正常盘片区别方法技术

一种不正常盘片区别方法，首先形成过薄数据层的ＳＡ值、标准ＳＡ值及过厚数据层的ＳＡ值的三个测试ＳＡ值；调整至前述测试ＳＡ值；进行聚焦，并记录聚焦误差信号；比较出最大聚焦误差信号及其相对应的测试ＳＡ值；检查相对应的测试ＳＡ值等于标准ＳＡ值，不相等则区别为不正常盘片，重新调整ＳＡ值，以提升信号质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关一种，尤其是关于光驱区别盘片基板厚度过薄或过厚等不正常盘片的方法。
技术介绍
由于光驱读取头中物镜等光学元件相当小，小光学元件的材质、成形、曲面及平滑度，在制造过程中均难以掌控，导致投射光束的亮度不均，容易造成像差(SphericalAberration,简称SA)，让光束聚焦点质量不佳，影响记号正确的判读。 如图1所示，为美国第6756574号专利案的先前技术像差校正系统。光驱的读取头1以激光装置2发出激光束，经过多个光学元件3、像差校正单元4至物镜5，将光束聚焦投射至盘片6的数据层7。光束经数据层7反射回读取头l，再由光学元件3折射，照射在检光装置8的A、B、C、D受光面。由信号处理装置9以受光面(A+C)-(B+D)信号，形成聚焦误差信号(FocusingError，简称FE)，传输至微处理装置10，控制致动器11驱动物镜5移动，将光束锁定聚焦在数据层7。 另外，光驱根据盘片6的规格，数据层7相邻盘片基板(Substrate) 12具有标准厚度d，并设定该盘片6对应的SA值。由微处理装置10发出控制信号至SA调整装置13，调整像差校正单元4的透镜分开距离，改变光束投射路径，以改善光束聚焦点的质量。使经数据层7反射回读取头1的光束，形成最佳信号。 然而，光驱所设的SA值，是针对规格盘片数据层的标准位置，盘片常因不同厂商及制造过程的误差等，造成盘片基板厚度变化，而改变数据层的位置。基板厚度过薄或过厚等不正常盘片，相对规格所设的SA值，无法使其光束聚焦点的质量达到最佳。因而，导致光驱伺服系统所有信号质量随着降低，甚至造成读写数据错误或失败。因此，已知光驱在区别不正常盘片上，仍有问题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，通过正常盘片、过薄或过厚基板的SA值，形成三个测试SA值， 一一进行聚焦行程测试，由产生最大聚焦误差信号的相对SA值，区别出不正常的盘片。 本专利技术另一目的在于提供一种，利用区别不正常盘片所得最大聚焦误差信号相对的SA值，预先校正像差，使其光束聚焦点的质量达到最佳，以提升信号质量。 为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的，首先形成过薄数据层的SA值、标准SA值及过厚数据层的SA值的三个测试SA值；调整至前述测试SA值；进行聚焦，并记录聚焦误差信号；比较出最大聚焦误差信号及其相对应的测试SA值；检查相对应的测试SA值等于标准SA值，不相等则区别为不正常盘片；重新调整SA值，最后结束区别作业。附图说明图1为先前技术光驱像差校正系统的功能方块图。图2为盘片剖面的示意图。图3为本专利技术区别正常数据层过程的示意图。图4为本专利技术区别过薄数据层过程的示意图。图5为本专利技术区过厚数据层过程的示意图。图6为本专利技术的流程图。l读取头2激光装置3光学元件4像差校正单元5物镜6盘片7数据层8检光装置9信号处理装置10微处理装置ll致动器12基板13SA调整装置20盘片21基板22、24、25数据层23保护层具体实施例方式有关本专利技术为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并配 合图式加以说明如下。 请参考图2，为盘片20的剖面。盘片20是在底层的基板21上，涂设数据层22，再 覆上保护层23所形成。各种盘片20规格，对数据层22设有标准位置。数据层22通过基板 21的厚度，使数据层22位在盘片中的特定位置，以形成记号(pit)记录数据。本专利技术不正 常盘片区别方法，是针对该数据层22标准位置的特性。因一般光驱针对各种盘片20规格 所定的数据层22标准位置，测试储存有相对应设定的标准SA值，以维持最佳的信号质量。 如基板21的厚度过厚，其数据层24位置高过标准数据层22，厚度过薄的基板21，其数据层 25位置则低于标准数据层22。不符合标准盘片所定的规格，即属不正常盘片。对不正常盘 片，标准数据层22位置所相对应的标准SA值，不能正确校正像差，就无法使聚焦点获得最 佳的信号质量，需要加以区别，以便先行调整SA值。 如图3、图4及图5所示，分别为本专利技术区别正常数据层、过薄数据层及过厚数据层 的过程。将SA值分别调设在偏过薄数据层的SA1值、标准SA值及偏过厚数据层的SA2值， 上下移动物镜进行聚焦行程。由于标准SA值被设在正常数据层的标准位置，可使投射在数 据层标准位置的聚焦点，获得最佳的信号质量，即其聚焦误差信号会达到最大幅度。针对标 准SA值，将SA值调设到相对偏过薄的数据层，亦可使投射在过薄数据层位置的聚焦点，获 得接近最大幅度的聚焦误差信号。而调设到相对偏过厚的数据层，则可使投射在过厚数据 层标准位置的聚焦点，获得接近最大幅度的聚焦误差信号。 图3所用的盘片为正常盘片，也就是数据层位于规格所定的位置。当SA值调设在偏过薄数据层的SA1值时，SA1值是针对过薄数据层位置的调整像差。但正常盘片数据层位 于标准位置，并不在过薄数据层的位置，上下移动物镜的聚焦行程a及b，所产生的聚焦误 差信号幅度虽会升高，但未到最大。再将SA值调设至标准SA值，针对标准数据层位置的调 整像差，再上下移动物镜的聚焦行程c及d，标准数据层将获得最大幅度的聚焦误差信号。 接着调设SA值至偏过厚数据层的SA2值时，SA2值是针对过厚数据层位置的调整像差，因正 常盘片数据层位于标准位置，并不在过厚数据层的位置，上下移动物镜的聚焦行程e及f ， 所产生的聚焦误差信号幅度虽会升高，亦未到最大。 图4所用的盘片为过薄数据层的盘片。当SA值调设在偏过薄数据层的SA1值时。 但盘片的数据层恰位于过薄数据层的位置，上下移动物镜的聚焦行程a及b，所产生的聚焦 误差信号幅度，会到达最大幅度。再将SA值调设至标准SA值，再上下移动物镜的聚焦行程 c及d，标准SA值是针对标准数据层位置的调整像差，因过薄的数据层不在标准位置，所产 生的聚焦误差信号幅度虽会升高，但信号幅度相对较小。接着调设SA值至偏过厚数据层的 SA2值时，因过薄的数据层不在过厚数据层位置，上下移动物镜的聚焦行程e及f ，所产生的 聚焦误差信号幅度虽会升高，离过薄的数据层较远，信号幅度相对最小。 图5所用的盘片为过厚数据层的盘片。当SA值调设在偏过薄数据层的SA1值时。 因过厚数据层不在过薄数据层位置，上下移动物镜的聚焦行程a及b，所产生的聚焦误差信 号幅度虽会升高，离过厚的数据层较远，信号幅度相对最小。再将SA值调设至标准SA值， 再上下移动物镜的聚焦行程c及d，标准SA值是针对标准数据层位置的调整像差，因过薄 的数据层不在标准位置，所产生的聚焦误差信号幅度虽会升高，距离过厚的数据层较近，信 号幅度相对较大。接着调设SA值至偏过厚数据层的SA2值时，因数据层就在过厚数据层位 置，上下移动物镜的聚焦行程e及f，将获得最大幅度的聚焦误差信号。 由图3、图4及图5所获得聚焦误差信号相对SA值变化的结果显示，最大幅度的 聚焦误差信号随着数据层的位置改变。当对任一盘片，将SA值分别调设在偏过薄数据层的 SA1值、标准SA值及偏过厚数据层的SA2值，上下移动物镜进行聚焦行程。对产生的聚焦误 差信号，比较出最大的聚焦误差信号，由其相对应的SA值，与标准SA值比较，如与标准SA 值相同则为正常盘片，不相同即可判断为不正常盘片。当判断为不正常盘片时，就可提供光 驱伺服本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种不正常盘片区别方法，其步骤包含：（１）形成过薄数据层的ＳＡ值、标准ＳＡ值及过厚数据层的ＳＡ值的三个测试ＳＡ值；（２）调整至前述测试ＳＡ值；（３）进行聚焦，并记录聚焦误差信号；（４）比较出最大聚焦误差信号及其相对应的测试ＳＡ值；（５）检查该相对应的测试ＳＡ值是否等于标准ＳＡ值假如相等，区别为正常盘片，否则为不正常盘片；以及（６）结束区别作业。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐嘉星，陈培纲，萧亦隆，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]