电路布局的线迹检查方法技术

技术编号:4263773 阅读:243 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种电路布局的线迹检查方法。于布局图中,选取布局线迹作为检查线迹,其中此布局线迹具有多条线段。沿着布局线迹,选择上述线段中的第一线段与第二线段分别作为第一比较线与第二比较线,其中第一线段具有第一端点与第二端点,第二线段具有第三端点与第四端点,且上述第二端点与上述第三端点连接成共同端点。依据第一端点、第四端点以及共同端点的坐标位置,判断第一比较线与第二比较线之间的夹角是否小于等于90度,以产生判断结果。若判断结果为是,则产生提示讯息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种,且特别是有关于一种于电路布局中找出具有直角或锐角的布局线迹的检查方法。
技术介绍
在完成电路布局后,通常要进行各种检查。线迹(Trace)检查便是诸多检查项目当中的其中一项。由于布局工程师在进行电路布局的过程中,往往会一不小心就留下具有直角(两线段之间的夹角呈现90度)或锐角(两线段之间的夹角小于90度)的线迹。而这些具有直角或锐角的线迹,很有可能在实体印刷电路板运作时,产生尖端放电的效应。 —般来说,检查具有直角或锐角的线迹,往往必须由布局工程师以人工方式,一条线迹一条线迹的进行检查。当检查到某一条线迹后,再由人工判断方式此线迹是否为具有直角或锐角的线迹。然而,一般产品的电路布局中所使用的线迹,数量少则数十条,多则达到上千条。如此以人工方式一条线迹一条线迹的检查,将会非常的耗时。并且,由于以人工的方式进行检查,也常常因为人为疏失而有错误情形发生。
技术实现思路
本专利技术提供一种,藉此可以快速地检测出具有直角或锐角的布局线迹,以便于让布局工程师进行修正,进而避免尖端放电的现象。 本专利技术提出一种。此方法包括下列步骤。首先,于布局图中,选取布局线迹作为检查线迹,其中此布局线迹具有多条线段。之后,沿着该检查线迹,选择上述线段中的第一线段与第二线段分别作为第一比较线与第二比较线,其中第一线段具有第一端点与第二端点,第二线段具有第三端点与第四端点,且上述第二端点与上述第三端点连接成共同端点。接着,依据第一端点、第二端点以及共同端点的坐标位置,判断第一比较线与第二比较线之间的夹角是否小于等于90度,以产生判断结果。若判断结果为是,则产生提示讯息。 在本专利技术一实施例中,上述产生提示讯息是以高亮度标示出布局线迹。 在本专利技术一实施例中,上述产生提示讯息的步骤包括将布局线迹加入清单中,并且显示此清单。 在本专利技术一实施例中,上述线迹检查方法更包括当判断结果为否时,选择第二线段与第三线段分别作为第一比较线与第二比较线,其中该第二线段与该第三线段具有一共同端点。 在本专利技术一实施例中,上述线迹检查方法更包括判断所有布局线迹是否检查完毕。之后,当判断所有布局线迹尚未检查完毕时,于布局图中选取新布局线迹。接着,将新布局线迹作为检查线迹。 在本专利技术一实施例中,上述判断第一比较线与第二比较线之间的夹角是否小于等于90度的步骤包括下列步骤。首先,利用第一端点、第四端点与共同端点的坐标位置,判断第一比较线与第二比较线其中之一是否为水平线。当第一比较线为水平线,且共同端点位 于第一端点的右方时,若共同端点的X轴坐标大于等于第四端点的X轴坐标,则判断第一比 较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。而当第二比较线为水平线,且共同端点位于 第四端点的右方时,若共同端点的X轴坐标大于等于第一端点的X轴坐标,则判断第一比较 线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。 在本专利技术一实施例中,上述判断第一比较线与第二比较线之间的夹角是否有小于 等于90度的步骤包括下列步骤。首先,利用第一端点、第四端点与共同端点的坐标位置,判 断第一比较线与第二比较线其中之一是否为水平线。当第一比较线为水平线,且共同端点 位于第一端点的左方时,若共同端点的X轴坐标小于等于第四端点的X轴坐标,则判断第一 比较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。而当第二比较线为水平线,且共同端点位 于第四端点的左方时,若共同端点的X轴坐标小于等于第一端点的X轴坐标,则判断第一比 较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。 在本专利技术一实施例中,上述判断第一比较线与第二比较线之间的夹角是否有小于 等于90度的步骤包括下列步骤。首先,利用第一端点、第四端点与共同端点的坐标位置,判 断第一比较线与第二比较线其中之一是否为垂直线。当第一比较线为垂直线,且共同端点 位于第一端点的下方时,若共同端点的Y轴坐标小于等于第四端点的Y轴坐标,则判断第一 比较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。而当第二比较线为垂直线,且共同端点位 于第四端点的下方时,若共同端点的Y轴坐标小于等于第一端点的Y轴坐标,则判断第一比 较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。 在本专利技术一实施例中,上述判断第一比较线与第二比较线之间的夹角是否有小于 等于90度的步骤包括下列步骤。首先,利用第一端点、第四端点与共同端点的坐标位置,判 断第一比较线与第二比较线其中之一是否为垂直线。当第一比较线为垂直线,且共同端点 位于第一端点的上方时,若共同端点的Y轴坐标大于等于第四端点的Y轴坐标,则判断第一 比较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。而当第二比较线为垂直线,且共同端点位 于第四端点的上方时,若共同端点的Y轴坐标大于等于第一端点的Y轴坐标,则判断第一比 较线与第二比较线之间的夹角小于等于90度。 在本专利技术一实施例中,上述线迹检查方法更包括利用布局图中的格点,选择线段 中的第一线段与第二线段分别作为第一比较线与第二比较线,其中第一端点、第四端点与 共同端点对应于布局图中的格点。 在本专利技术一实施例中,上述布局图为印刷电路板的布局图。 本专利技术提出一种计算机可读取储存媒体,用以储存计算机程序,此计算机程序用以加载至计算机系统中并且使得上述计算机系统上述。 本专利技术提出一种内储用于检查布局线迹的计算机程序产品,当计算机加载该计算机程序并执行后,可完成上述。 本专利技术通过取得某布局线迹中相连接的二线段之端点的坐标位置,再利用上述端 点的坐标位置来判断该布局线迹中是否具有直角(两线段之间的夹角等于90度)或锐角 (两线段之间的夹角小于90度)的线段。若判断出该布局线迹中具有直角或锐角的线段, 则产生提示讯息。如此一来,本专利技术可以加快检查电路布局的布局线迹,而布局工程师可以 依据提示讯息以自动或手动进行修正,来避免尖端放电的效应。 为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附图式, 作详细说明如下。附图说明 图1绘示为本专利技术一实施例的流程图。 图2绘示为本专利技术一实施例的布局线迹的示意图。 图3A 图3H绘示为本专利技术一实施例的第一线段与第二线段的第一端点、共同端 点与第四端点的坐标位置的示意图。 图4绘示为本专利技术另一实施例的布局线迹的示意图。 具体实施例方式图1绘示为本专利技术一实施例的流程图。图2绘示为本发 明一实施例的布局线迹的示意图。请合并参照图1与图2,首先,在步骤S101中,于布局图 中选取其中一条布局线迹(图2中仅以布局线迹200做为范例)。其中布局线迹200具有 多条线段。在本实施例中,布局线迹200例如具有线段L1、 L2与L3,但不限制其范围。另 外,上述布局图可以为印刷电路板(Printed CircuitBoard, PCB)之布局图。 在步骤S103中,沿着布局线迹200,选择上述线段的第一线段与第二线段分别作 为第一比较线与第二比较线,其中第一线段具有第一端点与第二端点,第二线段具有第三 端点与第四端点,且第二端点与第三端点连接成共同端点。举例来说,假设选择线段L1作 为第一比较线,且选择线段L2作为第二比较线。线段L1具有第一端点211与第二端点212, 第二线段L2具有第三端点213与第四端点214。其中,线段Ll的第二端点212与线段L2 的第三端点213连接成共同端点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路布局的线迹检查方法,包括:于一布局图中,选取一布局线迹作为一检查线迹,其中该布局线迹具有多条线段;沿着该检查线迹,选择该些线段中的一第一线段与一第二线段分别作为一第一比较线与一第二比较线,其中该第一线段具有一第一端点与一第二端点,该第二线段具有一第三端点与一第四端点,且该第二端点与该第三端点连接成一共同端点;依据该第一端点、该第四端点以及该共同端点的坐标位置,判断该第一比较线与该第二比较线之间的一夹角是否小于等于90度,以产生一判断结果;以及若该判断结果为是,则产生一提示讯息。

【技术特征摘要】
一种电路布局的线迹检查方法,包括于一布局图中,选取一布局线迹作为一检查线迹,其中该布局线迹具有多条线段;沿着该检查线迹,选择该些线段中的一第一线段与一第二线段分别作为一第一比较线与一第二比较线,其中该第一线段具有一第一端点与一第二端点,该第二线段具有一第三端点与一第四端点,且该第二端点与该第三端点连接成一共同端点;依据该第一端点、该第四端点以及该共同端点的坐标位置,判断该第一比较线与该第二比较线之间的一夹角是否小于等于90度,以产生一判断结果;以及若该判断结果为是,则产生一提示讯息。2. 如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,产生该提示讯息是以高亮度标示出该布局线迹。3. 如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,产生该提示讯息的步骤包括将该布局线迹加入一清单中;以及显示该清单。4. 如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,还包括当该判断结果为否时,选择该些线段中的该第二线段与一第三线段分别作为该第一比较线与该第二比较线,其中该第二线段与该第三线段具有一共同端点。5. 如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,还包括判断该检查线迹的所有该些线段是否检查完毕;若该些线段已检查完毕,判断该布局图的所有布局线迹是否检查完毕;当所有布局线迹尚未检查完毕时,于该布局图中选取一新布局线迹;以及将该新布局线迹作为该检查线迹。6. 如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,判断该第一比较线与该第二比较线之间的夹角是否小于等于90度的步骤包括利用该第一端点、该第四端点与该共同端点的坐标位置,判断该第一比较线与该第二比较线其中之一是否为一水平线;当该第一比较线为该水平线,且该共同端点位于该第一端点的右方时,若该共同端点的X轴坐标大于等于该第四端点的X轴坐标,则判断该第一比较线与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;以及当该第二比较线为该水平线,且该共同端点位于该第四端点的右方时,若该共同端点的X轴坐标大于等于该第一端点的X轴坐标,则判断该第一比较线与该第二比较线之间的夹角小于等于90度。7. 如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,判断该第一比较线与该第二比较线之间的夹角是否有小于等于90度的步骤包括利用该第一端点、该第四端点与该共同端点的坐标位置,判断该第一比较线与该第二比较线其中之一是否为一水平线;当该第一比较线为该水平线,且该共同端点位于该第一端点的左...

【专利技术属性】
技术研发人员:何振东吴晟瑞
申请(专利权)人:英业达股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1