片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法技术方案

本发明专利技术公开了一种片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法，该片上系统芯片包括：第一ＩＯ？ＭＵＸ，用于将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线ＭＵＸ上，并由总线ＭＵＸ选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对外设和／或加速器的测试结果，并将测试结果发送到相应的第二ＩＯ？ＭＵＸ；至少一个第二ＩＯＭＵＸ，用于将测试结果发送到外部测试数据分析器，以实现对测试结果的分析。通过上述技术方案，解决了ＳＯＣ芯片不能够快速测试的问题，提高了芯片检测的正确率和效率，从而能够快速的挑选功能完好的芯片。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信领域，并且特别地，涉及一种。
技术介绍
目前，集成电路的片上系统芯片(System On Chip，简称为SOC)被广泛地应用 于通信，航空，控制等领域，SOC的集成度越来越高，例如，用于手机基带及应用芯片是包 含微控制单元(Micro ControllerUnit，简称为MCU)和数字信号处理(Digital Signal Processing,简称为DSP)在内的多核SOC。 相关技术中，对于复杂的信号处理，是通过硬件加速器的方法挂在DSP或MCU的总 线上来实现。当这种复杂的SOC芯片出厂时，通常使用诸如边界扫描(boundary scan)、测 试机(tester)的方法来检测芯片的好坏。 这种通用的测试方法并不能完全确保测试后芯片的功能，特别是上述复杂的加速器的功能。而另外的诸如trace的方法仅适合于debug,并不利于芯片功能的快速测试。此外，相关技术中还存在使用系统总线提供测试向量进行芯片测试的方法，但主要是使用信 号仿真单元将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的测试信号，并输出给外部测试芯片来实现测试的，但是，上述的处理并没有涉及到芯片内部的架构设计。然 而，目前尚未提出能够解决针对无法有效地快速测试SOC芯片的功能的问题的技术方案。
技术实现思路
考虑到目前无法有效地快速测试SOC芯片的功能的问题而做出本专利技术，为此，本 专利技术的主要目的在于提供一种，以解决相 关技术中的上述问题。 根据本专利技术的一个方面，提供了一种片上系统芯片，包括处理器、DMA，其中，处理 器、DMA通过总线MUX连接至外设和/或加速器并能够选择外设和/或加速器。 根据本专利技术的片上系统芯片进一步包括第一 10 MUX，用于将来自外部测试信号 发生器的测试数据传送到总线MUX上，并由总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对外设和/或加速器的测试结果，并将测试结果发送 到相应的第二 10 MUX ;至少一个第二 IOMUX，用于将测试结果发送到外部测试数据分析器， 以实现对测试结果的分析。 此外，上述芯片进一步包括至少一个中断控制器，用于通过产生中断来控制结果 和状态模块进行测试结果的输出。 其中，至少一个中断控制器连接至外部测试数据分析器，并用于将标识中断控制 器状态是否正常的数据发送至外部测试数据分析器。 此外，上述芯片进一步包括至少一个安全保险模块，用于在测试完成之后，废弃 测试总线。4 此外，上述芯片进一步包括与外部测试信号发生器连接的管脚，其中，管脚用于将 测试数据传输至第一 10 MUX，并用于通过第一 10 MUX实现片上系统芯片内的模块复用。 此外，上述芯片进一步包括寄存器，用于通过第一 10 MUX实现与外部测试信号 发生器的数据读写，以供外部测试信号发生器判断片上系统芯片的模块功能是否正常。 其中，外部测试数据分析器用于根据测试结果判断片上系统芯片是否正常。 根据本专利技术的另一方面，提供了一种对片上系统芯片进行测试的方法。 根据本专利技术的对片上系统芯片进行测试的方法包括外部测试信号发生器产生测 试数据以通过管脚驱动片上系统芯片中需要测试的处理器的总线；第一 10 MUX将管脚连 接到总线MUX上，由总线MUX选择外设或加速器并通过相应的通路对所选的外设或加速器 提供驱动；外设或加速器将测试结果通过结果和状态模块发送到外部测试数据分析器，以 供外部测试数据分析器对测试结果进行分析。 其中，外设或加速器将测试结果通过结果和状态模块发送到外部测试数据分析器 的具体处理为外设或加速器将测试结果发送到结果和状态模块；结果和状态模块将测试 结果通过第二 IOMUX发送到外部测试数据分析器。 此外，外部测试数据分析器对测试结果进行分析之后，上述方法进一步包括外部测试数据分析器根据分析结果判断测试是否通过；并在测试完成后，废弃测试总线。 借助于本专利技术的技术方案，通过对片上系统芯片结构的改进，解决了 SOC芯片不能够快速测试的问题，提高了芯片检测的正确率和效率，从而能够快速的挑选功能完好的心片。 本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变 得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明 书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明 附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实 施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中 图1是相关技术中以处理器为核心并带有基带加速器的SOC芯片结构框图； 图2是根据本专利技术装置实施例的片上系统芯片的结构框图； 图3是根据本专利技术优选实施例的双核片上系统芯片的结构框图； 图4是根据本专利技术方法实施例的对片上系统芯片进行测试的方法的流程图； 图5是本专利技术方法实施例所应用的测试环境示意图。具体实施方式 功能概述 在相关技术中，由于不能够对片上系统芯片进行快速有效的测试，因此，本专利技术对 片上系统芯片的结构进行了改进，并提出了基于改进后片上系统芯片的检测方法，具体处 理为外部测试信号发生器向基带芯片提供测试向量；第一 10 MUX和安全保险将外部测试 信号发生器的信号绕到AHB总线MUX上；由AHB总线MUX来选择不同的模块，并对其进行驱 动；外设或加速器的结果送至结果和状态模块，并由第二 IOMUX连接到外部测试数据分析器；外部测试数据分析器对接收的信息和已由仿真得到知结果进行比较来判断该测试是否 通过。 在对本专利技术的上述处理过程进行详细说明之前，首先对现有技术中的芯片结构进 行详细的说明。 以无线通讯Modem为例，通常无线通讯Modem的基带处理器是由ARM加DSP的双 核S0C系统所组成；当然也可以是单核Modem。并且，基带加速器(例如，Equalizer, Rake 接收机等)是通过总线挂在modem处理器(DSP或MCU)上的。 图1示出了一种以处理器(CPU/DSP)为核心并带有基带加速器的SOC芯片结 构。该芯片包括处理器、直接地址访问(DMA)单元、其它总线控制器(其它master)、总线 MUX(AHBMUX)、和外设等功能单元。 如图1所示，Modem处理器的内部总线可以通过总线桥(AHB)转换成通用总线，如 AHB总线(也可以是其它种类的总线)，Modem处理器和DMA等其它总线控制器是通过总线 复用来选择不同外设的；外设(例如RX、 TX、 UART、 Modem加速器、UART、 I2S等) 一般是通 过速度较低的总线桥(如ARM APB)来连接的。根据外设速度要求的不同，外设也可以挂在 较高速度的总线上(如SRAM等挂在AHB总线上)。 图1中所示的是单个CPU的结构，由双核所组成(DSP和ARM)的S0C芯片的结构 与图l类似，不再赘述。 以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。 装置实施例 根据本实施例，提供了一种片上系统芯片，包括处理器、DMA，其中，处理器、DMA通 过总线MUX连接至外设和/或加速器并能够选择外设和/或加速器。 图2示出了根据本专利技术装置实施例的片上系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种片上系统芯片，包括处理器、ＤＭＡ，其中，所述处理器、所述ＤＭＡ通过总线ＭＵＸ连接至外设和／或加速器并能够选择所述外设和／或所述加速器，其特征在于，所述片上系统芯片进一步包括：第一ＩＯＭＵＸ，用于将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线ＭＵＸ上，并由所述总线ＭＵＸ选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对所述外设和／或所述加速器的测试结果，并将所述测试结果发送到相应的第二ＩＯＭＵＸ；至少一个所述第二ＩＯＭＵＸ，用于将所述测试结果发送到所述外部测试数据分析器，以实现对所述测试结果的分析。

【技术特征摘要】
一种片上系统芯片，包括处理器、DMA，其中，所述处理器、所述DMA通过总线MUX连接至外设和/或加速器并能够选择所述外设和/或所述加速器，其特征在于，所述片上系统芯片进一步包括第一IO MUX，用于将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上，并由所述总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对所述外设和/或所述加速器的测试结果，并将所述测试结果发送到相应的第二IO MUX；至少一个所述第二IOMUX，用于将所述测试结果发送到所述外部测试数据分析器，以实现对所述测试结果的分析。2. 根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括至少一个中断控制器，用于通过产生中断来控制所述结果和状态模块进行测试结果的 输出。3. 根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述至少一个中断控制器连接至所述外 部测试数据分析器，并用于将标识所述中断控制器状态是否正常的数据发送至所述外部测 试数据分析器。4. 根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括 至少一个安全保险模块，用于在测试完成之后，废弃测试总线。5. 根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括与所述外部测试信号发生器 连接的管脚，其中，所述管脚用于将所述测试数据传输至所述第一 10 MUX，并用于通过所述 第一 IOMUX实现所述片上系统芯片内的模块复用。6. 根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶建平，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]