【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于高频数字测试领域，特别是一种高速动态随机存储器测试系统。
技术介绍
计算机技术的发展对随机动态存储器的运行速度及存储量提出更高的要求，而对 存储器的各项电气性能指标进行精确的测试是保证计算机系统可靠有效地运行的先决条 件。随着动态随机存储器工作频率的不断提高，对于存储器及存储器模组的测试难度和测 试成本也随之增加。事实上，随着高速动态随机存储器的工作频率越来越高，对于测试设备 的架构及其电气性能的要求也更为严苛。
技术实现思路
为了解决现有技术的上述技术问题，有必要提供一种低成本且高性能的高速动态 随机存储器测试系统。本专利技术解决现有的技术问题所采用的技术方案为一种高速动态随机存储器测试 系统，包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配 板，所述驱动板和适配板之间通过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过 同轴电缆输出到所述适配板。本专利技术一种高速动态随机存储器测试系统中，所述测试设备数量至少为一个，所 述测试设备通过通用串行总线连接到计算机。本专利技术一种高速动态随机存储器测试系统中，所述主板包括用于产生...
【技术保护点】
一种高速动态随机存储器测试系统，其特征在于：包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配板，所述驱动板和适配板之间通过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过同轴电缆输出到所述适配板。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇晖，
申请(专利权)人：深圳市忆嘉电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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