一种对锁相环进行锁定检测的方法技术

技术编号:3851371 阅读:286 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种对锁相环进行锁定检测的方法,该方法包括:当鉴频鉴相器的输入相位误差连续m个周期都小于t1的情况下,锁定检测电路输出高电平,将锁相环锁定;在锁定状态下,在一个比较周期内出现输入相位误差大于t2时,锁定检测电路输出低电平,锁相环失锁;其中,m为自然数,t1、t2为具体的时间数值,且t1<t2。本发明专利技术提供的这种对锁相环进行锁定检测的方法,通过多路衍生时钟对锁相环采集相位关系信息,能够给出锁定与否的判决信息,实现了对锁相环的锁定检测。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种对锁相环进行锁定检测的方法,其特征在于,该方法包括:当鉴频鉴相器的输入相位误差连续m个周期都小于t1的情况下,锁定检测电路输出高电平,将锁相环锁定;在锁定状态下,在一个比较周期内出现输入相位误差大于t2时,锁定检测电路输出低电平,锁相环失锁;其中,m为自然数,t1、t2为具体的时间数值,且t1<t2。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:田欢欢张海英
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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