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本发明公开了一种对锁相环进行锁定检测的方法，该方法包括：当鉴频鉴相器的输入相位误差连续ｍ个周期都小于ｔ１的情况下，锁定检测电路输出高电平，将锁相环锁定；在锁定状态下，在一个比较周期内出现输入相位误差大于ｔ２时，锁定检测电路输出低电平，锁相环...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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