【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体元件。
技术介绍
在如LSI器件的半导体器件中,在半导体芯片表面上形成诸如晶体管和各种电子元件的集成电路,因此当其工作时会产生热量。为了避免由于半导体芯片中产生的过度的热量而引起错误和故障,已经开发了用于从半导体器件有效散热的各种热沉(heatsink)结构和散热结构。例如,日本专利申请公开No.2002-158310讲授了一种配备有散热结构的半导体器件,其中与板连接的散热电极通过绝缘树脂(或绝缘层)朝向板散发由半导体芯片的表面产生的热量。在该半导体器件中,半导体芯片的表面区域和侧面区域由绝缘树脂(或绝缘层)覆盖。另外,日本专利申请公开No.2001-77236讲授了一种配备有散热结构的半导体器件,其中由用作电源的衬垫(pad)所产生的相对大量的热通过薄膜基底的散热图形(对应于布线部分)的方式经由在半导体元件表面形成的下填充(under-fill)材料而被耗散,该散热图形设置在半导体元件表面的周边部分中。在该半导体器件中,布线部分形成在其中形成集成电路的半导体芯片表面的旁边。制造晶片级芯片尺寸封装(WLCSP),使得在晶片被切割为大量的单个半导体 ...
【技术保护点】
一种半导体元件,其特征在于包括形成在半导体基底的预定表面上的多个端子,其中所述多个端子的至少一个端子备有磁性材料。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:野本健太郎,井川郁哉,齐藤博,佐藤隆志,大桥敏雄,大仓喜洋,
申请(专利权)人:雅马哈株式会社,
类型:实用新型
国别省市:JP[日本]
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