【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种研磨垫,它作为其特征为可在工业上容易进行微细表面加工的研磨垫而利用,并可作为以稳定且高研磨速度对作为半导体装置用的硅晶片、存储盘、磁盘、光学透镜或反射镜等的光学材料、玻璃板、金属等的要求高度表面平坦性的材料进行平坦化加工处理的研磨垫而使用。本专利技术的研磨垫,特别适合在将硅晶片、以及在之上形成有氧化物层、金属层等的设备(多层基板),在层叠·形成这些层之前进行平坦化的工序中使用。本专利技术还涉及上述研磨垫的制造方法以及研磨垫的缓冲层。
技术介绍
作为要求高度表面平坦性的材料的代表例,可例举制造半导体集成电路(IC、LSI)的、称作硅晶片的单晶硅的圆盘。硅晶片在IC、LSI等的制造工序中,为形成用于电路制作的各种薄膜的可信赖的半导体接合,在各薄膜制作工序中要求将表面高精度地平坦地加工。通常,研磨垫被固定在称作压磨板(platen)的可旋转的支撑圆盘上,半导体晶片被固定在可进行自公转运动的被称作研磨头的圆盘上。通过双方的旋转运动,在压磨板和研磨头之间产生相对速度,一边使分散有在碱性溶液或酸性溶液中悬浮二氧化硅系或二氧化铈系等的微细颗粒(磨粒)的研磨 ...
【技术保护点】
一种研磨垫用缓冲层,由研磨层和缓冲层构成,其特征在于,压缩回复率为90%以上。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:小野浩一,下村哲生,中森雅彦,山田孝敏,驹井茂,堤正幸,
申请(专利权)人:东洋橡膠工业株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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