【技术实现步骤摘要】
本技术系关于一种半导体功率晶体的焊线结构,尤指用于小外观(smalloutline)封装的半导体功率晶体的焊线结构。
技术介绍
请参阅图1,图1为已有半导体功率晶体的焊线结构示意图。如图1所示,在已有焊线结构中,导线架13主要具有第一电接脚1至第八电接脚8的电性连接处以及装载功率芯片的承座(几乎被此芯片的源极10a遮蔽处),而此功率芯片则具有源极10a、在同一表面上的栅极10b以及漏极(未描绘;在相对于源极10a另一面上)。由于半导体功率晶体必须容纳极大的电流通过源极10a,因此源极10a所占面积才会几乎涵盖了整个晶体表面,同时也须借着数条较长与较短的金焊线12a连通源极10a和导线架13的第一电接脚1、第二电接脚2、第三电接脚3。反观栅极10b,由于属控制电极而不会有太大的电流通过,因此栅极10b所占的面积则远小于源极10a,且仅需单一条金焊线12b连接至第四电接脚4。至于漏极,则因为整个漏极与导线架的底部表面相贴,而导通至第五电接脚5至第八电接脚8,而不须有导线连接。然而,导通源极10a和第一电接脚1、第二电接脚2、第三电接脚3的该群金焊线12a,由于其属于 ...
【技术保护点】
一种半导体功率晶体的焊线结构,系用于一小外观(small outline)封装的该半导体功率晶体,且该小外观导线架为共平面型,其特征在于,该焊线结构包含: 一导线架,系包含一第一电接脚、一第二电接脚、一第三电接脚、一第四电接脚; 一功率晶体,系具有一第一电极和一第二电极; 一焊线,其两端分别被焊接至该第二电极和该第四电接脚;以及 至少一铝带和铜带其中之一,其两端分别被焊接至该第一电极以及该第一电接脚、该第二电接脚、该第三电接脚。
【技术特征摘要】
1.一种半导体功率晶体的焊线结构,系用于一小外观(small outline)封装的该半导体功率晶体,且该小外观导线架为共平面型,其特征在于,该焊线结构包含一导线架,系包含一第一电接脚、一第二电接脚、一第三电接脚、一第四电接脚;一功率晶体,系具有一第一电极和一第二电极;一焊线,其两端分别被焊接至该第二电极和该第四电接脚;以及至少一铝带和铜带其中之一,其两端分别被焊接至该第一电极以及该第一电接脚、该第二电接脚、该第三电接脚。2.根据权利要求1所述的半导体功率晶体的焊线结构,其特征在于,该小外观(smalloutline)封装可为小外观晶体管(small outline transistor,SOT)、小外观封装(small outline package,SOP)、小外观二极管(small outline diode,SOD、收缩型小外观封装(shrink small outline package,SSOP)、薄型小外观封装(thin small outline package,TSOP)、薄且收缩型小外观封装(thin shrinksmall...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴家州,
申请(专利权)人:勤益电子上海有限公司,
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]
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