本实用新型专利技术公开了一种半导体纳米晶体管，包括玻璃管以及密封在玻璃管中的半导体纳米晶体，该玻璃管的管壁上间隔设有若干导电件，该导电件的长度方向沿玻璃管的长度方向延伸，且该导电件能随着玻璃管管壁的破裂而断开，导电件上间隔设有若干测试触点，以供测试设备通过连接其中的两个测试触点而形成闭合回路，当任意闭合回路出现无法导通的情况时，玻璃管的管壁出现破裂现象。本实用新型专利技术还公开了一种显示装置。本实用新型专利技术所提供的半导体纳米晶体管的玻璃管上的裂纹可侦测，从而能实现防止该半导体纳米晶体管的产品出现品质隐患的效果。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及显示装置领域，尤其涉及半导体纳米晶体管及具有该半导体纳米晶体管的显示装置。
技术介绍
目前，市场上的液晶电视对色彩饱和度的要求越来越高，为此，产生了 QD (QuantumDot，半导体纳米晶体)管的一种新应用，具体的，将QD管放在LED光源(蓝光LED)的正面，从而使得LED光源发出的蓝色光在通过QD管之后变为高色彩饱和度的白色光。然而，由于QD材质的易氧化性，使得QD不能暴露于空气中，故目前的QD需要封装于玻璃管中形成QD管，但由于密封QD的玻璃管容易在运输或装配过程中出现裂纹，而玻璃管上的裂纹通常难以通过肉眼完全检查出来，导致经常出现漏检的情况；且组装到模组中的QD管无法检查其玻璃管是否存在裂纹；又存在裂纹的QD管不会马上失效，而是由于玻璃管裂纹的存在，空气会缓慢渗入QD管中，经过一段时间后QD管中的QD才会因被氧化而失效，继而QD管出现功能问题，所以也无法通过对QD管进行短时间的测试而有效的拦截存在裂纹的QD管；因此，提供一种能侦测玻璃管上是否存在裂纹的QD管，以防止QD管的产品出现品质隐患，实为必要。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种半导体纳米晶体管及一种具有该半导体纳米晶体管的液晶电视，旨在使得半导体纳米晶体管的玻璃管上的裂纹可侦测，从而防止QD管的产品出现品质隐患。为实现上述目的，本技术提供一种半导体纳米晶体管，包括玻璃管以及密封在所述玻璃管中的半导体纳米晶体，所述玻璃管的管壁上间隔设有若干导电件，所述导电件的长度方向沿所述玻璃管的长度方向延伸，所述导电件随着所述玻璃管管壁的破裂而断开，所述导电件上间隔设有若干测试触点，以供测试设备通过连接所述若干测试触点中的两个测试触点而形成闭合回路。优选地，所述导电件连通所述玻璃管的两端，且所述导电件在所述玻璃管的两端分别设有至少一测试触点。优选地，所述导电件连通所述玻璃管的两端，且所述若干导电件在所述玻璃管的一端相互连接，每一导电件在所述玻璃管的另一端设有一测试触点。优选地，所述导电件为由透明材料所制成的透明件。优选地，所述导电件为设于所述玻璃管的管壁外侧上的导电薄膜件。优选地，所述导电件为由氧化物半导体材料制成的导电薄膜件。优选地，所述导电件为薄膜厚度为993纳米的导电薄膜件。此外，为实现上述目的，本技术还提供一种显示装置，包括所述的半导体纳米晶体管。本技术所提供的半导体纳米晶体管，其玻璃管的管壁上设有能随着管壁的破裂而断开的若干导电件，该若干导电件间隔设于管壁上，使得可通过测试设备连接导电件上的两个测试触点而形成闭合回路，通过测试设备检测相应闭合回路是否导通可判断其玻璃管的管壁是否破裂，特别的，当检测到闭合回路出现无法导通的情况时，可来判断玻璃管的管壁出现破裂现象，即，本技术所提供的半导体纳米晶体管的玻璃管上的裂纹可侦测，从而能实现防止该半导体纳米晶体管的产品出现品质隐患的效果。【附图说明】图1为本技术半导体纳米晶体管一实施例的结构示意图；图2为图1中半导体纳米晶体管沿S-S方向的截面示意图。本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。【具体实施方式】应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。本技术提供一种半导体纳米晶体管。参照图1和图2，在一实施例中，该半导体纳米晶体管包括玻璃管20以及密封在玻璃管20中的半导体纳米晶体30，该玻璃管20的管壁21上间隔设有若干导电件10，导电件10的长度方向沿玻璃管20的长度方向延伸，或者也可以认为，由于玻璃管20的形状近似为柱形，导电件10沿着玻璃管20的轴向延伸，从而导电件10在玻璃管20的管壁21上形成长条状的导电线路。当然，导电件10在玻璃管20的管壁21上的形状没有限制，例如，导电件10可以在玻璃管20的管壁21上形成螺旋状线路或者其他的不规则线路。可选地，可以在玻璃管20的外管壁上设置若干间隔开的导电件10。该导电件10能随着玻璃管20管壁21的破裂而断开，导电件10上间隔设有若干测试触点11，用户可将测试设备(如万用表、匹配设计的测试治具等)与若干测试触点11中的两个测试触点11进行连接，并在连接后形成相应的闭合回路，当测试设备检测到任意一闭合回路出现无法导通的情况时，可以判断该玻璃管20的管壁21出现破裂现象。由此，通过在玻璃管20的管壁21设置能随着管壁21的破裂而断开的若干导电件10，可以提高半导体纳米晶体管裂纹的可侦测性。在本实施例中，该导电件10为设于玻璃管20的管壁21外侧上的导电薄膜件，优选地，可通过湿式涂布法将导电件10涂设于玻璃管20的管壁21外侧，具体的，先使用对应的治具将玻璃管20管壁21上不需要涂设导电薄膜的部分进行遮挡，接着将其浸入导电涂料中以使导电涂料涂满玻璃管20管壁21上需要涂设导电薄膜的部分，再将其从导电涂料中取出，然后干燥，而在玻璃管20的管壁21外侧形成导电薄膜件(导电件10)，最后将对应的治具拆除即可；此工艺所得到的导电薄膜件的厚度极小，通常的，其厚度为纳米级的厚度，此厚度下的导电薄膜件可延展程度较小，从而能保证当玻璃管20的管壁21发生破裂时，涂设于管壁21外侧的导电件10(导电薄膜件)也随之发生断裂现象，从而可通过测试导电件10是否发生断裂而检测玻璃管20的管壁21是否发生破裂现象。需要强调的是，在本技术的其他实施例中，也可通过其他工艺将导电件10设在玻璃管20管壁21的表面(外侧或内侧均可)上，当然，也可将导电件10嵌入玻璃管20的管壁21中，只要能保证导电件10能随着管壁21的破裂而断开即可。本实施例所提供的半导体纳米晶体管，其玻璃管20的管壁21上设有能随着管壁21的破裂而断开的若干导电件10，该若干导电件10间隔设于管壁21上，使得可通过测试设备连接导电件10上的两个测试触点11而形成闭合回路，当该测试设备向其中一个测试当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半导体纳米晶体管，其特征在于，所述半导体纳米晶体管包括玻璃管以及密封在所述玻璃管中的半导体纳米晶体，所述玻璃管的管壁上间隔设有若干导电件，所述导电件的长度方向沿所述玻璃管的长度方向延伸，所述导电件随着所述玻璃管管壁的破裂而断开，所述导电件上间隔设有若干测试触点，以供测试设备通过连接所述若干测试触点中的两个测试触点而形成闭合回路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林杰，强科文，钟燮和，
申请(专利权)人：深圳TCL新技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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