【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及制造液晶显示器基板的一种方法及一种装置,更具体地涉及制造具有用于驱动开关元件的驱动电路的液晶显示器基板的一种方法,以及评价半导体晶体的装置与方法。具有用作开关元件的TFT(薄膜晶体管)的LCD(液晶显示器)能够显示极高质量的图象。因此,它们是有用的并越来越受到关注。附图说明图1为一块LCD基板的剖视图。如图中所示,TFT1b是形成在一块玻璃基板1a的中央部分上的。象素电极1c形成在基板1a的中央区域上并离开TFT1b,并且分别与TFT1b的漏极电气地连接。各TFT1b及与之关联的象素电极构成一个边长为几百微米的正方形象素单元U。在玻璃基板1a上排列有数十万个象素单元U。LCD基板还包括一个透明电极1d及一块透明基板1f。象素单元U公用的透明电极1d形成在透明基板1f上。基板1f是这样放置的,使电极1d以一个预定的距离离开玻璃基板1a的中央部分,而与象素单元U相对。在透明电极1d与玻璃基板1a的中央部分之间的空隙中填充液晶1e。玻璃基板1a的中央部分、象素单元U、液晶1e、透明电极1d及透明基板1f构成一个象素区10。图2为该LCD基板的透视图。如图所示,LCD基板还在玻璃基板1a的暴露部分上及沿象素区10的周边配置有集装的IC(集成电路)片11。IC片11形成一个门驱动器。IC片11的接线端耦合于扫描电极线,后者又与象素单元U的控制极与漏极相连。现在说明制造图1与2中所示的LCD基板的方法。首先,用诸如等离子体化学汽相淀积(CVD)法在玻璃基板上形成一层氢化非晶硅(a-SiH)膜。然后,在该非晶硅膜上形成各种膜与层并进行各种处理(包括蚀 ...
【技术保护点】
一种制造液晶显示器基板的方法,该基板包括一块基板、布置在基板的一个象素区中的多个半导体元件以及用于驱动这些半导体元件的多个驱动电路区,所述方法包括以下步骤:在所述基板上形成一层非晶半导体膜;间隙性地将具有预定尺寸截面的激光束脉冲作用在所述非晶半导体膜的目标表面区上,借此将所述目标表面区改变成基本上等于所述预定尺寸的岛形多晶硅区;使用所述岛形多晶硅区形成驱动电路区;以及使用一部分所述非晶半导体膜,在所述象素区中形成所述半导体元件并将所述半导体元件电气地连接到所述驱动电路区上。
【技术特征摘要】
JP 1993-1-25 29975/1993;JP 1992-11-16 330073/19921.一种制造液晶显示器基板的方法,该基板包括一块基板、布置在基板的一个象素区中的多个半导体元件以及用于驱动这些半导体元件的多个驱动电路区,所述方法包括以下步骤在所述基板上形成一层非晶半导体膜;间隙性地将具有预定尺寸截面的激光束脉冲作用在所述非晶半导体膜的目标表面区上,借此将所述目标表面区改变成基本上等于所述预定尺寸的岛形多晶硅区;使用所述岛形多晶硅区形成驱动电路区;以及使用一部分所述非晶半导体膜,在所述象素区中形成所述半导体元件并将所述半导体元件电气地连接到所述驱动电路区上。2.根据权利要求1的方法,其中所述岛形多晶体区为位于所述象素区外侧排列成一条直线并以预定的距离互相分隔开的矩形区域。3.根据权利要求1的方法,其中各所述岛形多晶体区是通过将多个激光束脉冲作用在一个目标表面区上而形成的。4.根据权利要求3的方法,其中所作用的各所述激光束脉冲具有比紧接在前面作用在该目标表面区上的另一个激光束脉冲更大的能量。5.根据权利要求3的方法,其中作用在所述一个目标表面区上的所述激光束脉冲具有相同的能量。6.根据权利要求5的方法,其中所述非晶半导体具有从300A至1500A的厚度范围,所述基板保持在从常温至550℃的范围内,并且所述次数是从30至1000次。7.根据权利要求6的方法,其中所述非晶半导体膜具有500A至1000A的厚度范围。8.根据权利要求3的方法,其中在作用每一个激光束脉冲时,检测所述一个目标表面已晶化了多少,并且在检测到所述一个目标表面已晶化到预定的程度时便终止激光束脉冲的作用。9.根据权利要求1的方法,其中所述非晶半导体膜为非晶硅膜。10.一种制造液晶显示器基板的方法,该基板包括一块基板、布置在该基板的一个象素区中的多个半导体元件、以及用于驱动该半导体元件的至少一个移位寄存器,所述方法包括下述步骤在所述基板上形成一层非晶半导体膜;在所述非晶半导体膜的目标表面区域上作用激光束脉冲,借此将所述目标表面区改变成多个岛形多晶体区;在所述岛形多晶体区中形成所述至少一个移位寄存器的部件,所述至少一个移位寄存器的各部件包括晶体管;以及形成布线层,借此电气地互相连接所述至少一个移位寄存器的部件,并将所述至少一个移位寄存器电气地连接到所述半导体元件上。11.一种评价半导体膜的晶化状态的方法,包括下述步骤在一种最佳晶化状态中的参照半导体材料上作用一个激光束,用分光仪检测所述参照半导体材料反射的激光束,从反射激光束中得出表示与所述参照半导体材料相关的带隙光谱反射率分布的第一信息,并将该第一信息存储在一个存储器中;在所述半导体材料的一个目标区上作用一个激光束,用所述分光仪检测所述目标区反射的激光束,并从反射的激光束中得出表示与所述目标区相关的带隙光谱反射率分布的第二信息;以及将所述第一信息与所述第二信息进行比较,并根据所述第一信息与所述第二信息之间的相似性评价所述目标区的晶化状态。12.根据权利要求11的方法,其中所述第一信息与所述第二信息各为带隙光谱反射率分布的至少一个峰值。13.根据权利要求12的方法,其中所述至少一个峰值为所述半导体材料在X点或Γ点或该两点上的带隙光谱反射率。14.根据权利要求11的方法,其中所述第一信息与所述第二信息具有带隙光谱反射率分布的图形。15.一种在评价目标表面区的晶化状态中用激光热处理来晶化非晶半导体材料的一个目标表面区以形成一层半导体薄膜的方法,所述方法包括下述步骤在一种最佳晶化状态的参照半导体材料上作用一个激光束,用一个分光仪检测所述参照半导体材料反射的激光束,从反射的激光束中得出表示与所述参照半导体材料相关的带隙光谱反射率分布的第一信息,并将该第一信息存储在一个存储器中;在所述半导体材料的目标区上作用一个激光束,在所述目标区上执行激光热处理中,用所述分光仪检测所述目标区反射的激光束,并从反射的激光束中得出表示与所述目标区相关的带隙光谱反射率分布的第二信息;以及将所述第一信息与所述第二信息进行比较并调节激光束的能量,使得所述第一信息与所述第二信息之间的差落入一个预定的范围中。16.根据权利要求15的方法,其中所述第一信息与所述第二信息各为带隙光谱反射率分布的至少一个峰值。17.根据权利要求15的方法,其中所述至少一个峰值为所述半导体材料在X点或Γ点或该两点上的带隙光谱反射率。18.根据权利要求15的方法,其中所述第一信息与所述第二信息各为带隙光谱分布的图形。1...
【专利技术属性】
技术研发人员:今桥一成,浜贵一,烟次郎,
申请(专利权)人:东京电子株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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