可自动产生并发送集成电路测试条件的系统与方法技术方案

在ＩＣ器的测试中自动生成测试条件并将该条件送到测试仪器的系统，包括：能从含有ＩＣ器件产品信息库的远程主机上为测试条件采集必要数据的数据采集装置；能通过将采集到的数据与一预定控制条件进行比较进而产生测试条件的运算装置；能通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机，并能将测试条件调入相应测试程序的发送装置。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体集成电路器件的测试。具体地说，是涉及这样一种系统和方法，它能够为IC器件的测试自动产生必要的测试条件，然后将测试条件发送到测试主机以使该测试条件被相应的测试程序调用，从而达到对每个测试仪器的控制。一般来说，ASIC(专用集成电路)器件，如掩模ROM(带掩模的只读存储器)的生产是根据特殊用户的定货或信息，如器件运行速度，Ce／Oe(芯片使能／输出使能)功能，运算模式，和ROM代码而完成的。该信息被直接反馈到掩模生产，晶片生产，EDS(电子成型分类)测试，封装装配和最终测试过程之中。ASIC器件的产品信息首先从用户或顾客处送到半导体工厂的市场部，市场部将在一个计算机系统(如远程主机)中建立一生产数据库，以便使许多不同的生产部门或工厂能够访问该主机，并通过使用生产数据库中的数据来获取他们自己所需的信息，进而生产出具有特殊功能，满足用户质量要求的IC器件。对于生产部门来说，测试部门必须根据产品信息将测试条件重新写入用于指定IC器件的测试程序。传统的办法是为写入测试条件，测试工程师首先访问远程主机并从主机中的生产数据库内下载所需的数据。通过分析下载数据，测试工程师可选择适合于指定器件的数据，并将其写入一测试程序。但是，由于测试条件的写入是手工完成，所以在新的专用器件定货后，人为错误是不可避免的并且很难迅速得到解决。因此，能够自动产生测试条件并能自动将测试条件调入测试程序是十分必要的。本专利技术的一个目的是能够自动产生测试条件并自动将测试条件调入测试程序。本专利技术的另一个目的则是提高测试过程的效率并减少测试时间。本专利技术所述的是一种能够自动产生并发送测试条件的系统，它包括能从存储着IC器件生产的信息的数据库中为测试条件采集必要数据的数据采集装置；能通过将采集到的数据与一预定控制条件进行比较进而产生测试条件的运作装置；能通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机，并能将测试条件调入相应测试程序的发送装置。该数据采集装置使用的是适于获取相关数据库的SQL语言，数据发送装置则采用TCP／IP协议。本专利技术所述的一种方法包括以下步骤从含有IC器件产品信息库的远程主机上为测试条件采集必要数据；通过将采集到的数据与一预定控制条件进行比较进而产生测试条件；通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机中，并将测试条件调入相应的测试程序。通过以下详细描述，本专业技术人员将会对本专利技术的目的，特点和优点有明确的认识。附图说明图1根据本专利技术所述的能够自动产生并发送测试条件的系统示意图。图2根据本专利技术所述的能够自动产生并发送测试条件的方法示意图。图3存储于远程主机系统中IC器件产品信息库的示例图。图4从图3所示数据库中选取的用于产生测试条件的数据示例。图5根据本专利技术所述的测试条件数据运算流程图。图6根据本专利技术所述的测试条件数据发送流程图。图7用于连接测试主机及系统，以便自动产生并发送测试条件的程序流。图1是根据本专利技术所述的能够自动产生并发送测试条件的系统示意图。用于自动产生并发送测试条件的系统10中的数据采集装置12能够访问含有全部生产信息的主机系统20中的数据库22，并能从数据库22中下载必需的数据。数据采集装置12可以是一SQL(结构查询语言)机(一种利用SQL语言获得相关数据库的结构)，该SQL机允许多个用户同时对远程主机20的数据库22进行访问和查询。存储于远程主机20中的数据库22是，如Oracle数据库。用于自动产生并发送测试条件的系统10中的运算装置14将数据采集装置12采集和修改的数据与一预定特殊控制条件进行比较，然后根据数据代码进行数据修改以产生一测试条件。发送装置16可将运算装置14产生的测试条件以能够由测试主机使用的文件形式发送到测试主机30中。为达到这个目的，发送装置16使用如远程主机连接用户结构。在测试主机30中存储有多个测试程序32，它用于控制多个测试仪器40运行实际测试过程。当IC器件(图中未画出)被安装进相应的测试仪器40之后，测试主机30将为测试仪器40提供一相应的测试程序，然后测试仪器40将给IC器件加上测试信号，进而对IC器件的各种电子性能进行测试。图2是根据本专利技术所述的能够自动产生并发送测试条件的方法示意流程图。流程从访问远程主机(步骤50)开始。通过输入用户名，口令和由数据库设定的ID(身份标志)数据，就可以获得对IC器件生产信息库的访问(步骤52)。在步骤54中，必需的数据是从数据库内获得的。当使用SQL语言时，可用以下选择语句。采集数据的分析和修改是在步骤56中完成的，进而根据被修改数据，将产生(步骤58)一个测试条件。如果被采集到的数据与已有数据相同(步骤60)，则不产生新的测试条件而只将原有的测试条件发送到测试主机系统中(步骤62)。如果被采集到的数据与已有数据不同，则新的测试条件将产生并被发送到测试主机中。测试条件的发送可以采用TCP／IP(传输控制协议／互联网协议)支持的各种应用程序，如Rlogin，Telnet，Ping，Finger，FTP和Rcp。图3是存储于远程主机系统中IC器件生产信息库的示例图。图3所示数据库的数据由35个字段构成，这些字段表示了掩模ROM器件的生产信息实例，该数据是根据器件的不同而变化的。在图3所示的数据库中，字段′ord_no′表示由市场部按顺序指定的用户序号，字段′line_no′表示用户报价条目的部件号，字段′schd_no′表示含有定日期和发货日期的时间表，字段′sales code′为市场部指定的用户代码，而字段′crc′则表示IC器件中所存储数据的数学和(校验和)。另一方面，字段′codepass′为猝发掩模ROM的口令，字段′user_code′以用户代码的形式描述了封装方法。字段′cms_code′以用户代码的形式描述了封装类型。字段′part_no′是用于控制晶片处理过程的用户代码。字段′pkg_type′表示封装类型，字段′part_no′是用于控制不同规格IC器件的数据字段，因为IC器件的规格是根据用户的要求而定的。字段′customer_id′表示市场部所管理的客户的身份标志。字段′customer_name′表示客户姓名。字段′domain′表示客户的居住地。字段′rec_date′表示用户定货的日期。而字段′ord_date′则表示市场部对生产工厂要求的交货日期。字段′ord_qty′表示定货量，字段′appli_flg′用于区分IC器件的用途，如作为工业中使用的个人电脑和传真，或者作为游戏器件来使用。字段′speed′表示用户要求的运算速度，字段′chksum′是IC器件内容的校验和值。字段′ctrl_pin′为控制管脚的规格(如由用户指定的芯片使能管脚和输出使能管脚)。字段′pkig′表示封装类型(如磁带盘卷型封装，盘型封装和管型封装)，字段′new_flag′用来区分定货的新旧顺序。字段′prty′表示IC器件的送货日期是否紧急，字段′ord_stat′表示一份定货的当前状态。字段′ord_memo′是一特殊控制代码，它用来测试IC器件是否能够满足用户专门要求的运行条件。字段′same_code′是含有相同内容的代码清单，字段′rtf_date′表本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在半导体集成电路器件的测试中自动产生测试条件，并能将产生的测试条件自动发送给测试仪器的系统，其特征在于包括：能从含有ＩＣ器件生产信息库的远程主机上为测试条件采集必要数据的数据采集装置；能通过将采集到的数据与一预定控制条件进行 比较进而产生测试条件的运算装置；能通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机，并能将测试条件调入相应测试程序的发送装置。

【技术特征摘要】
KR 1997-6-30 29710/971．一种用于在半导体集成电路器件的测试中自动产生测试条件，并能将产生的测试条件自动发送给测试仪器的系统，其特征在于包括能从含有IC器件生产信息库的远程主机上为测试条件采集必要数据的数据采集装置；能通过将采集到的数据与一预定控制条件进行比较进而产生测试条件的运算装置；能通过使用相应测试程序将测试条件发送到可以控制多个测试仪器的测试主机，并能将测试条件调入相应测试程序的发送装置。2．如权利要求1所述的系统，其特征在于IC器件是掩膜ROM(只读存储器)器件，数据库中存储信息的获得是根据用户对掩膜ROM的定货要求而确定的。3．如权利要求1所述的系统，其特征在于数据采集装置使用的是一种相关的数据库获取语言。4．如权利要求3所述的系统，其特征在于数据采集装置使用了一种格式为[select′items′from′tablename′where′conditio-n′orderby′sortingoption′]的选择语句。5．如权利要求1所述的系统，其特征在于发送装置使用一种主机连接用户结构。6．一种用于在半导体集成电路器件的测试中自动产生测试条件，并能将产生的测试条件自动发送给测试仪器的方法，其特征在于包括从含有IC器件生产信息库的远程主机上为测试条件采集必...

【专利技术属性】
技术研发人员：全遇撤，林钟焕，朴铉淑，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]