【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于一壳体,特别是用于一半导体装置,一半导体装置脚,以及一种制造脚的方法。
技术介绍
为了制造半导体装置(例如对应的,积体(模拟或数字)电子计算电路,半导体内存装置如功能性的内存装置(PLAs,PALs,等等)以及桌上型内存装置(例如ROMs或者RAMs,特别是SRAMs以及DRAMs)),所谓的晶圆(即单晶硅的薄碟)系被使用。晶圆被适当地处理(例如经过复数的涂布、曝光、蚀刻、扩散以及布植的处理步骤,等等),且接着例如锯开(或者例如刮以及切断),如此个别的装置系接着可以作用。在锯开晶圆之后,装置-其系接着可以个别的作用-系个别地被加载特别的壳体或者封包中,分别地(如对应的壳体适用于插入装设或者在表面上,如所谓的TSOP壳体,等等),以及接着对应的半导体装置接触(衬垫)(其系被提供,举例来说,在半导体装置的顶端)系-例如藉由适当的结合电线-与分别的壳体之适当的连接脚连接。连接脚用以连接一或复数的半导体装置至一对应的半导体装置模块(例如,一对应的电路板)。连接脚可能-特别是在TSOP壳体的例子中-例如从对应的壳体侧壁(例如从一左以及一右边壳体侧壁)侧面地 ...
【技术保护点】
一种用以制造脚(4a,4e)的方法,其中至少一脚(4e)从一基本主体(14)刺出,特别是一导线架(14),藉由一或复数的刺孔处理步骤,其特征在于该脚(4e)或者该脚(4e)之一部份(13a,13b,13c),分别地,仅在该脚(4e)之最终的刺出之后以一个别金属层(9)涂布。
【技术特征摘要】
DE 2003-1-16 10301480.21.一种用以制造脚(4a,4e)的方法,其中至少一脚(4e)从一基本主体(14)刺出,特别是一导线架(14),藉由一或复数的刺孔处理步骤,其特征在于该脚(4e)或者该脚(4e)之一部份(13a,13b,13c),分别地,仅在该脚(4e)之最终的刺出之后以一个别金属层(9)涂布。2.根据权利要求第1项所述之方法,其中在外部终端部分(13c)之该脚(4e)之正面(16)系亦被该金属层(9)所涂布。3.根据权利要求第1或第2项所述之方法,其中一或复数的金属沉积处理步骤,特别是镀锌处理步骤,系被使用以该个别金属层(9)涂布该脚(4e)。4.根据前述任何一项权利要求所述之方法,同时更包含下列步骤-装设该基本主体(14),特别是该导线架(14),于一壳体(11a)中,特别是一半导体装置壳体。5.根据权利要求第4项所述之方法,其中该基本主体(14)之装设,特别是该导线架(14)于该壳体(11a)中执行于该脚(4e)之最终刺出之前。6.根据前述权利要求中任何一项所述之方法,其中复数的脚(4e,4f,4g,4h)彼此肩并肩的被放置在一起,从该基本主体(14)刺出。7.根据权利要求第6项所述之方法,其中所有的脚(4e,4f,4g,4h)肩并肩地放置在一起,仅在该脚(4e,4f,4g,4h)之最终刺出后以一个别金属层(9)涂布。8.根据权利要求第6项所述之方法,其中仅一或复数的脚(4e)从肩并肩被放置在一起之该脚(4e,4f,4g,4h)中选出,仅于对应的脚(4e)之最终刺出后以一个别金...
【专利技术属性】
技术研发人员:C斯托肯,M多布勒,G埃格斯,
申请(专利权)人:因芬尼昂技术股份公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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