【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及利用等离子体对被处理件的表面实施蚀刻、堆积(成膜)、清洗等处理的等离子体处理方法以及装置。
技术介绍
对于基板等被处理件(以下简称基板)表面的等离子体处理,是按照如下的方式进行的。即,首先将基板搬入真空容器内,并载置在支承台上。在使真空容器的内部成为减压状态后,向真空容器内导入处理用气体(等离子体气体),采用各种方法投入能量而将等离子体气体等离子体化。通过适宜地设定导入的等离子体气体的种类和投入的能量等,对基板进行蚀刻、堆积、清洗等处理。 这里,通常为了便于操作,是将基板首先载置·固定在托盘上,然后,将载置了基板的托盘载置在真空容器内的支承台上。即,基板和托盘被一同装入真空容器内,在处理后,与托盘一同从真空容器中取出,然后进行后续工序的处理。在完成了规定的处理之后,从托盘上取下基板。 在支承台上进行等离子体处理的期间,由于等离子体的能量被施加于基板,所以基板的温度上升。在该温度上升过高时,基板本身的特性发生变化或劣化,会导致光致抗蚀剂的烧坏。因此,在多数的情况下,在等离子体处理期间,进行基板的冷却。通常是通过冷却载置了该基板的支承台,进行基板 ...
【技术保护点】
一种等离子体处理方法,是将被处理件载置在托盘上,进一步将该托盘载置在支承台上,通过等离子体对该被处理件的表面进行处理的等离子体处理方法,其特征在于,利用热剥离粘接构件粘接托盘和被处理件。
【技术特征摘要】
JP 2005-12-27 2005-376568;JP 2006-7-19 2006-1965581.一种等离子体处理方法,是将被处理件载置在托盘上,进一步将该托盘载置在支承台上,通过等离子体对该被处理件的表面进行处理的等离子体处理方法,其特征在于,利用热剥离粘接构件粘接托盘和被处理件。2.根据权利要求1所述的等离子体处理方法,其特征在于,在等离子体处理时对该支承台进行冷却。3.根据权利要求1或2所述的等离子体处理方法,其特征在于,热剥离粘接构件是发泡剥离剂。4.根据权利要求1或2所述的等离子体处理方法,其特征在于,热剥离粘接构件是发泡剥离性薄板。5.根据权利要求1或2所述的等离子体处理方法,其特征在于,在托盘的表面设置槽,一边将被处理件与托盘之间的气体从该槽释放,一边粘接托盘和被处理件。6.根据权利要求5所述的等离子体处理方法,其特征在于,在托盘的表面中槽所占有的面积的比例为5%~40%。7.根据权利要求5所述的等离子体处理方法,其特征在于,槽的深度为10μm~200μm。8.根据权利要求5所述的等离子体处理方法,其特征在于,隔着配置在被处理件周围的密封件载置盖,以机械方式将盖按压在被处理件上,且向由被处理件、密封件以及盖形成的施压室内注入气体,由此按压被处理件的整个面,将被处理件粘接在托盘上。9.根据权利要求8所述的等离子体处理方法,其特征在于,所述气体的压力为0...
【专利技术属性】
技术研发人员:西宫智靖,扇谷浩通,平本道广,
申请(专利权)人:莎姆克株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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