具有用于倾斜检测的图案的光盘制造技术

一光盘，具有一用于检测光盘倾斜量的图案。其上一具有凹坑图案和镜面图案的编码列被记录在同心或螺旋形的轨迹上，其中一具有预定的编码列的倾斜检测图案记录在光盘的一部分上，光盘的倾斜可通过通常的四元光检测器检出而无需附加的装置，如光耦合器。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于光盘播放机的光盘，更特殊地，涉及具有允许检测光盘的倾斜程度的图案的光盘。在小型光盘(CD)播放机或数字视盘(DVD)播放机中，光盘的倾斜是信号重现劣化的主要因素。特别地，当物镜的孔径比随着记录介质的密度增加以及激光束的波长缩短而增大时，由于倾斜而导致的性能劣化大为增加。对应地，由于高密度记录介质的光盘的倾斜而产生的性能劣化的校正就变的非常重要。为校正由于光盘在光盘播放机中的倾斜而导致的信号劣化，将主轴电机轴，或安放光盘或安放光学拾取机构以检出信号的底板倾斜。为进行校正，应当在光盘重放的开始阶段确定光盘以大多程度和向那个方向倾斜。一传统的倾斜检测装置如附图说明图1所示，并在美国专利No4,829,508中公开。在上述倾斜检测装置中，从发光二极管1中发射的光信号射到光盘4上，由光盘4反射的光信号由两个光接收二极管2和3接收，从而检测出光盘倾斜的程度。也就是说，在图1所示的结构中，如果光盘4没有倾斜，由两个光接收二极管2和3检测到的光信号的幅值大体相同。当光盘4倾斜时，由两个光接收二极管2和3检测到的光信号根据倾斜的程度而不同。倾斜的程度由一个差分放大器5检测。其检测由两个光接收二极管2和3检测到的光信号之间的差别。这里，发光二极管1和光接收二极管2和3以光耦合器的形式来体现。具有上述结构的传统的倾斜检测装置需要一附加的光学机构，如光耦合器，用来检测倾斜的程度。另外，需要一附加的信号处理部分以检测光盘的倾斜。进一步，由于存在检测信号因为机械结构和光盘组件的初始状态的偏移，信号检测的程度变的劣化。为解决以上问题，本专利技术的目的是提供一种光盘，其能不用附加的机构而检出光盘的倾斜。相应地，为取得上述目的，提供了一种光盘，在其上以同心或螺旋轨迹的形式记录了一种具有凹点图案或镜面图案的编码列，其中至少在光盘的部分区域记录了一具有预定的编码列的倾斜检测图案。本专利技术的上述目的和优点将通过参照附图详细描述的优选实施例而变得更为明显，其中图1是简要地示出传统的倾斜检测装置的结构的视图。图2A到图2C是示出辐射到光盘表面上的激光束的分布的视图。图3A到图3C是示出辐射到光盘表面上的激光束的能量分布的图表。图4是示出一四元光检测器和一轨迹间的关系的视图。图5是示出一根据本专利技术用于倾斜检测的图案的例子，其记录在记录介质上。图6是由图5所示图案所产生的跟踪错误图案的波形图。图7是示出另一根据本专利技术用于倾斜检测的图案的例子，其记录在记录介质上。图8是由图7所示图案所产生的跟踪错误图案的波形图。图9A和9B是示出再一根据本专利技术用于倾斜检测的图案的例子，其记录在介质上。图10是示出图5，7和9所示的用于倾斜检测的图案在光盘上分布的例子视图。图11A到11B是示出图5，7和9所示的另一个用于倾斜检测的图案在光盘上分布的例子的视图。图12是由所述四元光检测器所产生的信号波形图，用于检测一具有根据本专利技术的倾斜检测图案的记录介质在没有倾斜的情况下所反射的光信号。图13是由所述四元光检测器所产生的信号波形图，用于检测一具有根据本专利技术的倾斜检测图案的记录介质在具有倾斜的情况下所反射的光信号。图2A和图2C是示出辐射到光盘表面上的激光束的分布的视图，其中图2A表示了没有倾斜产生的情况，图2B表示了有向下倾斜的情况，图2C表示了有向上倾斜的情况。当没有倾斜产生时，激光束的分布形成小的圆圈，激光束的能量集中到圆圈的中心。这种情况下的能量分布示于图3A。在没有倾斜的情况下，激光束的分布类似于高斯分布。当光盘产生倾斜时，激光束的分布扩展，与光盘不发生倾斜的情况相对，如图2B和2C所示，激光束的能量在中央和周围弥散。也就是说，一具有最大能量的主瓣10在圆圈的中间产生，而第一侧瓣12和第二侧瓣14在圆圈的周围产生。侧瓣12和14的位置由倾斜的方向决定，并且侧瓣在与物镜相近的位置产生。在这种情况下能量的分布示于图3B和3C。图3B示出当具有向下倾斜时的能量分布，也就是说，在下部的轨迹靠近物镜，而图3C示出当具有向上倾斜时的能量分布，也就是说，在上部的轨迹靠近物镜。如图3B和3C所示，由于激光束的能量没有集中在凹坑部分，通过四元光检测器的RF信号的幅值变得劣化。图4示出四元光检测器和轨迹之间的关系。在四元光检测器中，各光检测器表面为A，B，C和D。在轨迹准确设定的状况下，光盘的轨迹和光检测器的水平分裂线相互重合。其中光检测器被分成A+B和C+D。跟踪错误信号由推挽方法，微分相位检测(DPD)方法，以及三光束方法检出。推挽方法通过上下部分即A+B和C+D之间的光检测器的差示信号来检出跟踪误差信号；DPD方法中，从沿对角线方向的光检测器，即A+C和B+D的相位差信号得到跟踪误差信号。根据本专利技术，一种用于检测光盘倾斜的附加图案被记录在一特殊区域上，以便当光盘在播放机中重放时，就可以从这些图案的重放信号中得到光盘倾斜的信息。特别是，由于光盘倾斜是在两个方向产生，一系列用于倾斜检测的信号以两种方式被记录到光盘上，以便于光盘倾斜的检出。图5示出根据本专利技术的优选实施例记录在记录介质上的用于倾斜检测的图案。多个轨迹，n-2，n-1，n，n+1，n+2在图中示出。各轨迹具有一凹坑(pit)，其中一凹槽形成在光盘表面上用来记录信息以及一镜面(mirror)，镜面中没有凹槽形成。这里，第(n-1)条轨迹和第(n+1)条轨迹具有一第一倾斜检测图案区域20以及以第二倾斜检测图案区域22，各自分别用虚线框表示。只有镜面图案或凹坑图案形成在第一和第二倾斜检测图案区域20及22，并且每个倾斜检测图案区域的长度在这样的范围里确定，其中跟踪误差信号不会偏离太多。这里，第一倾斜检测图案区域20检测在图中下部分的倾斜，而第二倾斜检测图案区域22检测在图中上部分的倾斜。图6示出由图5所示的图案所产生的跟踪误差信号的波形。当具有图5的图案的光盘向上或向下倾斜时，如图6所示，在第一倾斜检测图案区域20或第二倾斜检测图案区域22跟踪信号的偏移(offset)就会变化。一系列记录在轨迹上的编码具有一数MHz的高频分量。由推挽方法得到的跟踪误差信号本质上具有一与相对于检测的当前轨迹的上轨迹部分和下轨迹部分之差相对应的分量，并具有数KHz的频率分量。在图5中，当准确跟踪，并在图中的下部分具有倾斜时，在第一倾斜检测图案区域20的跟踪差别信号(difference signal)具有一不同于其他区域的改变的偏移量。我们将假设当前检测的轨迹是第n条轨迹，并且一镜面图案记录在第一和第二倾斜检测图案区域20和22。既然仅记录有镜面图案的第一倾斜检测图案区域20是位于a部分的第(n-1)条轨迹，如图5所示，由于倾斜而在下部分产生的侧瓣反射的光量与其他部分相比较而增加。在a部分，由第(n+1)条轨迹反射的光量类似于其他部分。结果是，在a部分跟踪误差信号的大小减小(此处，假定跟踪误差信号是通过推挽方法得到)。也就是说，跟踪误差信号的中心线向下。如果没有倾斜，偏移的变化为零。然而，如果存在倾斜，如图2和图3所示产生偏移。同样，偏移的程度根据倾斜的量而变化。这样，通过检查在a部分中偏移变化的量，可以检测出光盘下部分倾斜的量。由b部分的第二倾斜检测图案区域22反射的光量并不增加。原因是当在图中的下部产生倾斜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘，具有凹坑图案或镜面图案的编码列记录在其上的以同心圆或螺旋形式形成的轨迹上，其中一具有一预定的编码列的倾斜检测图案记录在所述光盘的至少部分区域上。

【技术特征摘要】
KR 1998-3-14 8646/981.一种光盘，具有凹坑图案或镜面图案的编码列记录在其上的以同心圆或螺旋形式形成的轨迹上，其中一具有一预定的编码列的倾斜检测图案记录在所述光盘的至少部分区域上。2.如权利要求1所述的光盘，其中所述倾斜检测图案仅以镜面图案形成。3.如权利要求1所述的光盘，其中所述倾斜检测图案仅以凹坑图案形成。4.如权利要求1所述的光盘，其中所述倾斜检测图案是长度长于用于光盘上的编码列的平均长度的图案以及长度短于平均长度的图案的重复。5.如权利要求1所述的光盘，其中所述倾斜检测图案是用于光盘上的编码列中长度最长的编码列以及长度最短的编码列的重复。6.如权利要求1所述的光盘，其中所述倾斜检测图案具有一使跟踪误差信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑种三，李哲雨，朴仁植，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]