控制芯片的测试方法及相关设备技术

本公开实施例提供一种控制芯片的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该方法包括：读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；将该第一测试向量发送至该控制芯片；接收该控制芯片响应于该第一测试向量返回的第一输出信息；根据该第一输出信息及其对应的第一测试向量，获得该控制芯片的第一测试结果。本公开实施例提供的技术方案，可以利用存储器芯片存储控制芯片的测试向量，从而可以扩大测试向量的存储空间，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
控制芯片的测试方法及相关设备


[0001]本公开涉及半导体器件测试
，具体而言，涉及一种控制芯片的测试方法及相关设备。

技术介绍

[0002]随着半导体工艺尺寸不断缩小，IC(Integrated Circuit，集成电路)设计的规模越来越大，高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。一方面随着半导体工艺尺寸的缩小，存储器可能存在的缺陷类型越来越多；另一方面，随着IC产品的复杂度的提高，RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)等存储器在IC产品中的比重越来越大。
[0003]由于存储设备(例如DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器))中的控制芯片(例如base die/logic die等)中包含大量的用于实现各种控制逻辑的电路，例如包含大量的与门、与非门、非门、异或门等数字电路和其他模拟电路，因此，为了测试控制芯片是否能够正确地执行这些控制逻辑，需要大量的测试向量。
[0004]图1示出了相关技术中测试DRAM中的控制芯片的示意图。如图1所示，这里以包括堆叠于控制芯片上的四个DRAM芯片(DRAM芯片0-3)的存储设备为例，四个DRAM芯片之间通过TSV(Through Silicon Via，硅通孔)进行电性连接。相关技术中，采用ATE来测试存储设备的控制芯片，其中在ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)测试控制芯片之前，需要将测试控制芯片所需的大量测试向量存储至ATE机台的内部记忆体空间(即机台的内存)中。由于机台内存有限，会导致不能一次将测试控制芯片所需的全部测试向量加载至机台进行测试，从而会导致在测试过程中，读取测试向量不方便，需要分次存储，分次读取，使得测试的时间变长，测试效率变低，增加测试成本。
[0005]图1中的DA通道(direct access pads，直接访问通道)是指ATE发送至DRAM芯片的信号可以直接经过控制芯片，而不需要控制芯片中的电路对其进行处理。在测试时，ATE将测试向量通过控制芯片下的测试输入pad输入至控制芯片中，再经过测试输出pad返回处理后的响应数据至ATE。
[0006]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0007]本公开的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种控制芯片的测试方法及相关设备，能够克服上述相关技术存在的ATE机台内存空间有限，无法一次性存储大量用于测试控制芯片的测试向量的技术问题。
[0008]本公开实施例提供一种控制芯片的测试方法，所述方法包括：读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；将所述第一测试向量发送至所述控制芯片；接收所述控制芯片响应于所述第一测试向量返回的第一输出信息；根据所述第一输出信息及其对应的
第一测试向量，获得所述控制芯片的第一测试结果。
[0009]在本公开一些示例性实施例中，所述控制芯片和所述第一目标存储器芯片属于同一存储设备。
[0010]在本公开一些示例性实施例中，所述第一目标存储器芯片垂直堆叠于所述控制芯片之上或者之下。
[0011]在本公开一些示例性实施例中，所述控制芯片属于第二目标存储器芯片，所述第一目标存储器芯片和所述第二目标存储器芯片的类型相同或者不同。
[0012]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：读取存储于自动测试设备中的第二测试向量；将所述第二测试向量发送至所述控制芯片；接收所述控制芯片响应于所述第二测试向量返回的第二输出信息；根据所述第二输出信息及其对应的第二测试向量，获得所述控制芯片的第二测试结果。
[0013]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：将所述控制芯片的第一测试结果发送至第三目标存储器芯片中进行存储。
[0014]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：当所述控制芯片测试完成时，向所述第三目标存储器发送第一控制指令；接收所述第三目标存储器响应于所述第一控制指令返回的所述控制芯片的第一测试结果。
[0015]在本公开一些示例性实施例中，所述控制芯片、所述第一目标存储器芯片和所述第三目标存储器芯片属于同一存储设备。
[0016]在本公开一些示例性实施例中，所述第一目标存储器芯片和所述第三目标存储器芯片依次垂直堆叠于所述控制芯片之上或者之下。
[0017]在本公开一些示例性实施例中，所述控制芯片属于第二目标存储器芯片，所述第一目标存储器芯片、所述第二目标存储器芯片和所述第三目标存储器芯片的类型相同或者不同。
[0018]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：获取用于测试所述控制芯片的测试向量；将至少部分用于测试所述控制芯片的测试向量作为所述第一测试向量存储于所述第一目标存储器芯片中。
[0019]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：获取第四目标存储器芯片的当前状态；若所述第四目标存储器芯片的当前状态为空闲状态，则将至少另一部分用于测试所述控制芯片的测试向量存储于所述第四目标存储器芯片中。
[0020]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：获取用于测试所述控制芯片的测试向量；将至少部分用于测试所述控制芯片的测试向量作为所述第一测试向量发送至所述控制芯片，以通过所述控制芯片确定所述第一目标存储器芯片，并将所述第一测试向量发送至所述第一目标存储器芯片中进行存储。
[0021]在本公开一些示例性实施例中，所述方法还包括：对所述第一目标存储器芯片进行测试；若所述第一目标存储器芯片测试失败，则对所述第一目标存储器芯片进行修复。
[0022]在本公开一些示例性实施例中，所述方法由自动测试设备执行。
[0023]本公开实施例提供一种控制芯片的测试装置，所述装置包括：第一测试向量读取单元，用于读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；第一测试向量发送单元，用于将所述第一测试向量发送至所述控制芯片；第一输出信息接收单元，用于接收所述控制
芯片响应于所述第一测试向量返回的第一输出信息；第一测试结果获得单元，用于根据所述第一输出信息及其对应的第一测试向量，获得所述控制芯片的第一测试结果。
[0024]本公开实施例提供一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中所述的方法。
[0025]本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如上述实施例中所述的方法。
[0026]本公开某些实施例提供的控制芯片的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，可以利用除ATE以外的第一目标存储器芯片来存储用于测试控制芯片的第一测试向量，由此可以扩大测试向量的存储空间，实现一次性将本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种控制芯片的测试方法，其特征在于，所述方法包括：读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；将所述第一测试向量发送至所述控制芯片；接收所述控制芯片响应于所述第一测试向量返回的第一输出信息；根据所述第一输出信息及其对应的第一测试向量，获得所述控制芯片的第一测试结果。2.根据权利要求1所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述控制芯片和所述第一目标存储器芯片属于同一存储设备。3.根据权利要求2所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述第一目标存储器芯片垂直堆叠于所述控制芯片之上或者之下。4.根据权利要求1所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述控制芯片属于第二目标存储器芯片，所述第一目标存储器芯片和所述第二目标存储器芯片的类型相同或者不同。5.根据权利要求1所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：读取存储于自动测试设备中的第二测试向量；将所述第二测试向量发送至所述控制芯片；接收所述控制芯片响应于所述第二测试向量返回的第二输出信息；根据所述第二输出信息及其对应的第二测试向量，获得所述控制芯片的第二测试结果。6.根据权利要求1所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述控制芯片的第一测试结果发送至第三目标存储器芯片中进行存储。7.根据权利要求6所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当所述控制芯片测试完成时，向所述第三目标存储器发送第一控制指令；接收所述第三目标存储器响应于所述第一控制指令返回的所述控制芯片的第一测试结果。8.根据权利要求6或7所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述控制芯片、所述第一目标存储器芯片和所述第三目标存储器芯片属于同一存储设备。9.根据权利要求8所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述第一目标存储器芯片和所述第三目标存储器芯片依次垂直堆叠于所述控制芯片之上或者之下。10.根据权利要求6或7所述的控制芯片的测试方法，其特征在于，所述控制芯片属于第二目标存储器芯片，所述第一目标存储器芯片、所述第二目标存储器芯片和所述第三目标存储器芯片的类型相...

【专利技术属性】
技术研发人员：史传奇，章恒嘉，丁丽，刘杰，何军，应战，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：