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本公开实施例提供一种控制芯片的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该方法包括：读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；将该第一测试向量发送至该控制芯片；接收该控制芯片响应于该第一测试向量返回的第一...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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