芯片测试系统、驱动芯片、电子标签及芯片测试方法技术方案

本申请提供一种芯片测试系统，包括：测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。本申请还提供一种驱动芯片、电子标签及芯片测试方法。电子标签及芯片测试方法。电子标签及芯片测试方法。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试系统、驱动芯片、电子标签及芯片测试方法


[0001]本申请涉及参数测试
，尤其涉及一种芯片测试系统、驱动芯片、应用该驱动芯片的电子标签、应用于该芯片测试系统的芯片测试方法以及应用于该驱动芯片的芯片测试方法。

技术介绍

[0002]芯片制作完成之后，需要通过测试机台对该芯片的功能进行测试。测试机台依次输出多个测试信号至芯片，芯片根据所述多个测试信号依次输出多个功能参数，测试机台用于依次判断所述多个功能参数是否符合要求，以判断所述芯片是否合格。通常，对一颗芯片测试的功能参数达十几个甚至几十个，测试机台依次测试多个功能参数导致测试周期较长。

技术实现思路

[0003]本申请第一方面提供一种芯片测试系统，包括：
[0004]测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；
[0005]多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；
[0006]所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。
[0007]本申请第二方面提供一种驱动芯片，所述驱动芯片用于接收一测试指令，并用于根据所述测试指令生成多个功能参数；
[0008]所述驱动芯片包括：
[0009]多个比较单元，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于生成判断结果；
[0010]数据处理单元，电连接所述多个比较单元，用于接收所述多个比较单元输出的多个判断结果，根据所述多个判断结果生成一测试结果并输出，所述测试结果用于指示所述驱动芯片的工作正常或工作异常。
[0011]本申请第三方面提供一种电子标签，包括：
[0012]显示模组；
[0013]驱动芯片，电连接所述显示模组，所述驱动芯片如上述，所述驱动芯片还用于输出驱动信号驱动所述显示模组显示产品信息。
[0014]本申请第四方面提供一种芯片测试方法，用于测试一驱动芯片，包括：
[0015]输出一测试指令至所述驱动芯片，以使得所述驱动芯片输出多个功能参数；
[0016]接收所述多个功能参数，分别判断所述多个功能参数是否位于预设数值范围，并
生成多个判断结果；
[0017]根据所述多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。
[0018]本申请第五方面提供一种芯片测试方法，用于测试驱动芯片，包括：
[0019]接收一测试指令，以根据所述测试指令生成多个功能参数；
[0020]分别判断所述多个功能参数是否位于预设数值范围，并生成多个判断结果；
[0021]根据所述多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。
[0022]上述芯片测试系统，包括多个比较单元，每一比较单元用于接收一功能参数并用于判断所接收的功能参数是否位于所述预设数值范围内，并输出判断结果至测试机台，则多个比较单元可同时判断多个功能参数是否位于相应的预设数值范围内。也即，多个比较单元，使得测试机台输出测试指令给驱动芯片时，驱动芯片可同时输出多个功能参数，多个比较单元可同时判断多个功能参数是否位于相应的预设数值范围内并返回判断结果至测试机台，避免测试机台多次输出测试指令以分时获得多个功能参数，有利于缩短对驱动芯片的测试时长。
附图说明
[0023]图1为本申请实施例一的电子标签的结构示意图。
[0024]图2为本申请实施例一的驱动芯片和芯片测试系统的结构示意图。
[0025]图3为本申请实施例一的变更实施例中驱动芯片和芯片测试系统的结构示意图。
[0026]图4为本申请实施例一的芯片测试方法的流程示意图。
[0027]图5为本申请实施例二的驱动芯片和测试机台的结构示意图。
[0028]图6为本申请实施例二的变更实施例中驱动芯片和测试机台的结构示意图。
[0029]图7为本申请实施例二的芯片测试方法的流程示意图。
[0030]主要元件符号说明
[0031]电子标签
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10
[0032]驱动芯片
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100、400
[0033]显示模组
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200
[0034]芯片测试系统
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300
[0035]测试机台
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310、500
[0036]比较单元
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320、410
[0037]第一比较器
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P1
[0038]第二比较器
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P2、P3
[0039]第一端值
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V
up
[0040]第二端值
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V
low
[0041]步骤
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S11、S12、S13、S21、S22、S23
[0042]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0043]实施例一
[0044]电子标签多用于例如超市货架等需要展示产品信息的场景中。相较于传统纸质标
签，电子标签可根据驱动信号实时地改变其展示的产品信息。
[0045]请参阅图1，电子标签10包括驱动芯片100和显示模组200。驱动芯片100电连接显示模组200，用于输出驱动信号至显示模组200以驱动显示模组200显示产品信息。
[0046]驱动芯片100在出厂前需要进行测试，以评估驱动芯片100工作正常或工作异常。本实施例中，通过芯片测试系统对驱动芯片100进行检测。
[0047]请参阅图2，芯片测试系统300包括测试机台310及多个比较单元320。芯片测试系统300工作过程中，测试机台310电连接驱动芯片100，以输出测试指令至驱动芯片100，使得驱动芯片100可根据该测试指令输出多个功能参数。所述多个功能参数可包括工作电流IBIAS，参考电压VREF，逻辑电压VDD18、类比电压VCOM、HVR等。芯片测试系统300工作过程中，每一比较单元320分别电连接驱动芯片100及测试机台310。每一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述测试机台判断所述驱动芯片工作异常。3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述测试机台用于输出一校正指令至所述驱动芯片，以使得所述驱动芯片输出一校正后功能参数，所述校正后功能参数位于所述预设数值范围时，所述测试机台判断所述驱动芯片工作正常，所述校正后功能参数不位于所述预设数值范围时，所述测试机台判断所述驱动芯片工作异常或再次输出一所述校正指令。4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，每一所述比较单元包括一第一比较器，所述第一比较器具有第一输入端、第二输入端、第三输入端及一输出端；所述第一输入端用于输入第一端值，所述第二输入端用于输入一第二端值，所述第一端值与所述第二端值用于限定所述预设数值范围，所述第三输入端电连接所述驱动芯片，用于输入一所述功能参数，所述输出端电连接所述测试机台，用于输出一所述判断结果至所述测试机台。5.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，每一所述比较单元包括两个第二比较器，每一所述第二比较器具有一正相输入端、一反相输入端及一输出端；所述两个第二比较器的反相输入端分别用于输入一第一端值和一第二端值，所述第一端值与所述第二端值用于限定所述预设数值范围，所述两个第二比较器的正相输入端相互电连接，用于输入一所述功能参数，所述两个第二比较器的输出端分别电连接所述测试机台，用于分别输出一所述判断结果至所述测试机台。6.一种驱动芯片，其特征在于，所述驱动芯片用于接收一测试指令，并用于根据所述测试指令生成多个功能参数；所述驱动芯片包括：多个比较单元，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于生成判断结果；数据处理单元，电连接所述多个比较单元，用于接收所述多个比较单元输出的多个判断结果，根据所述多个判断结果生成一测试结果并输出，所述测试结果用于指示所述驱动芯片的工作正常或工作异常。7.如权利要求6所述的驱动芯片，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元判断所述驱动芯片工作异
常。8.如权利要求6所述的驱动芯片，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元用于生成一校正指令，以使得所述驱动芯片生成一校正后功能参数，所述校正后功能参数位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元判断所述驱动芯片工作正常，所述校正后功能参数不位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元判断所述驱动芯片工作异常...

【专利技术属性】
技术研发人员：林立家，朱畅，
申请(专利权)人：深圳天德钰科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：