适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，属于微波测试技术领域。采用本发明专利技术提供的方法，在进行微波集成电路电性能快速筛选检测时，只需要预先设置一次性将相关测控状态加载下发给各相关电路单元，根据检测需求提前设定检测结果的判断阈值并装载好同批次待测试的微波集成电路，就可以一次性同时而非分时地自动完成不少于10个微波集成电路的电性能快速筛选检测，有效解决电性能预先筛选环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。本发明专利技术提供的方法简便、经济，测试及资源应用效能较高，且可根据应用需求规模进行应用扩展，通用性较强。通用性较强。通用性较强。

【技术实现步骤摘要】
适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法


[0001]本专利技术属于微波测试
，具体涉及一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法。

技术介绍

[0002]随着微波集成电路及其技术的快速发展，微波集成电路的生产制造及应用的数量和规模不断增长。因此，在其生产制造过程中的测试工作量也越来越大，给电性能最终检测的效率及占用仪器资源等带来巨大挑战。应用传统方法，微波集成电路的生产制造与电性能最终检测之间不仅缺少预先筛选环节，而且主要采取微波集成电路、测试仪器资源以及测控模式以“1:1:1”的配比方式进行配置。如果待测试微波集成电路中存在不合格产品，则每个不合格产品与合格产品的测试过程以及占用时间、仪器资源等完全一样，但却是不创造价值的无效工作。因此，为有效降低电性能最终检测环节的无效工作率并提高时间、仪器等资源的使用效能，同时通过批次性的快速筛选检测评估为生产制造的工艺管控质量和状态提供改进参考，协同支撑微波集成电路生产制造综合能力的持续提升，需要创新提出或形成与实际应用需求相适应的快速检测方法与技术。
[0003]基于传统方法，微波集成电路在电性能最终检测前没有设置对可能存在的不合格产品进行预先筛选的环节，合格与否的判定仅取决于电性能最终检测的结果，而电性能最终检测就是依据规格参数的全性能测试要求，针对单个或多个被测微波集成电路按照“1:1:1”或“N:1:1”的配比方式进行相应测试仪器资源和测控模式的配置与集成开发，以同时或分时方式实现所需的性能测试目标。有鉴于此，本应仅提供合格产品性能测试结果的电性能最终检测环节不仅无法控制其无效工作率，而且对时间、仪器等资源占用和消耗很大且使用效能相对较低，难以有效满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。
[0004]根据微波集成电路生产制造的实际应用需求分析，采用传统方法，在电性能最终检测前对可能存在的不合格产品进行预先筛选存在着明显缺位和不足。基于传统方法，待测试微波集成电路的合格判定仅取决于电性能最终检测的结果，需要依据规格参数的全性能测试要求，针对同批次单个或多个待测器件的测试需求按照“1:1:1”的配比方式进行相应测试仪器资源和测控模式的配置与集成开发，以同时测试方式实现所需性能测试目标；或者按照“N:1:1”的配比方式进行相应测试仪器资源和测控模式的配置与集成开发，以分时测试方式实现所需的性能测试目标。基于该方法只能在缩短测试时间和减少仪器资源之间进行“二选一”的选择而无法实现兼顾优化。因此，基于传统方法，不仅无法控制电性能最终检测的无效工作率，而且对时间、仪器等资源占用和消耗很大且使用效能相对较低，难以有效满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。
[0005]随着微波集成电路及其技术的快速发展，微波集成电路的生产制造及应用的数量和规模不断增长。因此，在其生产制造过程中的测试工作量也越来越大，给电性能最终检测的效率及占用仪器资源等带来巨大挑战。为有效降低电性能最终检测环节的无效工作率并
提高时间、仪器等资源的使用效能，同时通过批次性的快速筛选检测评估为生产制造的工艺管控质量和状态提供改进参考，协同支撑微波集成电路生产制造综合能力的持续提升，需要一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测方法及电路，可以在微波集成电路进行电性能最终检测前预先快速筛选出不合格产品，以最大限度地满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。

技术实现思路

[0006]针对现有技术中存在的上述技术问题，本专利技术提出了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，设计合理，克服了现有技术的不足，具有良好的效果。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0008]适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路，包括自适应等长同相多通道路由载具单元、供电单元、信号合路单元、信号功分单元、信号分析单元、信号激励单元、处理器单元；
[0009]自适应等长同相多通道路由载具单元，包括控制器和路由，被配置为用于实现同批次至少10个发射类、接收类以及收发类微波集成电路的装载，以及进行电性能快速筛选检测时根据检测需求由“处理器单元+控制器+路由”实现微波集成电路的工作状态加载和相应各等长同相测试通道的自动构建与切换组合；
[0010]供电单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的直流供电的提供，并通过载具单元进行加载；
[0011]信号合路单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的发射类电性能参数检测时一次性同时而非分时地完成至少10路共时基的同频/异频等幅信号合路以及包括幅度和频率在内的多参数检测；
[0012]信号功分单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的接收类电性能参数检测时一次性同时而非分时地完成至少10路的单载波/多载波的激励信号分路以及协同支撑接收类输出响应特性检测；
[0013]信号激励单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的电性能筛选的单载波/多载波激励信号的产生；
[0014]信号分析单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的电性能筛选的同频/异频信号幅度、频率和接收类输出响应特性参数检测；
[0015]处理器单元，被配置为用于实现根据检测需求对自适应等长同相多通道路由载具单元、信号分析单元、信号激励单元进行一体协同控制，以一次性同时而非分时地完成至少10个微波集成电路的电性能快速筛选检测。
[0016]优选地，多参数检测包括含发射类、接收类、收发类电性能参数检测所需的输出响应特性检测。
[0017]优选地，“处理器单元+自适应等长同相多通道路由载具单元+供电单元”控制加载至少10个微波集成电路工作在共时基同频等幅输出的工作状态，如果待测试微波集成电路工作正常，则这至少10路经过等长同相测试通道并经过信号合路单元实现信号合路的合成信号功率为其中，n≥10；控制信号分析单元对该合成信号的幅
度进行检测就能够快速判断这10个微波集成电路是否存在发射类当前频率下输出信号幅度参数不合格的产品。
[0018]优选地，“处理器单元+自适应等长同相多通道路由载具单元+供电单元”控制加载至少10个微波集成电路工作在共时基异频等幅输出的工作状态，如果待测试微波集成电路工作正常，则这至少10路信号经过等长同相测试通道并经过信号合路单元实现信号合路后会输出合路损耗10dB的一组相应频率信号，通过信号分析单元对该信号的频率、频谱及幅度进行检测就能够快速判断这10个微波集成电路是否存在发射类相应频率下输出信号频率、频谱及幅度参数不合格的产品。
[0019]优选地，“处理器单元+自适应等长同相多通道路由载具单元+供电单元”控制加载至少10个微波集成电路工作在共时基同频或异频接收工作状态，控制信号激励单元根据检测需求提供单载波或多载波激励信号，并经过信号功分单元实现至少10路的激励信号分路，如果待测试微波集成电路工作正常，则其对应这10路激励信号分路的相应10路输出响应信号经过等长同相本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路，其特征在于：包括自适应等长同相多通道路由载具单元、供电单元、信号合路单元、信号功分单元、信号分析单元、信号激励单元、处理器单元；自适应等长同相多通道路由载具单元，包括控制器和路由，被配置为用于实现同批次至少10个发射类、接收类以及收发类微波集成电路的装载，以及进行电性能快速筛选检测时根据检测需求由“处理器单元+控制器+路由”实现微波集成电路的工作状态加载和相应各等长同相测试通道的自动构建与切换组合；供电单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的直流供电的提供，并通过载具单元进行加载；信号合路单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的发射类电性能参数检测时一次性同时而非分时地完成至少10路共时基的同频/异频等幅信号合路以及包括幅度和频率在内的多参数检测；信号功分单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的接收类电性能参数检测时一次性同时而非分时地完成至少10路的单载波/多载波的激励信号分路以及协同支撑接收类输出响应特性检测；信号激励单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的电性能筛选的单载波/多载波激励信号的产生；信号分析单元，被配置为用于实现待测试微波集成电路的电性能筛选的同频/异频信号幅度、频率和接收类输出响应特性参数检测；处理器单元，被配置为用于实现根据检测需求对自适应等长同相多通道路由载具单元、信号分析单元、信号激励单元进行一体协同控制，以一次性同时而非分时地完成至少10个微波集成电路的电性能快速筛选检测。2.根据权利要求1所述的适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路，其特征在于：多参数检测包括含发射类、接收类、收发类电性能参数检测所需的输出响应特性检测。3.根据权利要求1所述的适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路，其特征在于：“处理器单元+自适应等长同相多通道路由载具单元+供电单元”控制加载至少10个微波集成电路工作在共时基同频等幅输出的工作状态，如果待测试微波集成电路工作正常，则这至少10路经过等长同相测试通道并经过信号合路单元实现信号合路的合成信号功率为其中，n≥10；控制信号分析单元对该合成信号的幅度进行检测就能够快速判断这10个微波集成电路是否存在发射类当前频率下输出信号幅度参数不合格的产品。4.根据权利要求1所述的适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路，其特征在于：“处理器单元+自适应等长同相多通道路由载具单元+供电单元”控制加载至少10个微波集成电路工作在共时基异频等幅输出的工作状态，如果待测试微波集成电路工作正常，则这至少10路信号经过等长同相测试通道并经过信号合路单元实现信号合路后会输出合路损耗10dB的一组相应频率信号，控制信号分析单元对该信号的频率、频谱及幅度进行检
测就能够快速判断这10个微波集成电路是否存在发射类相应频率下输出信号频率、频谱及幅度参数不合格的产品。5.根据权利要求1所述的适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路，其特征在于：“处理器单元+自适应等长同相多通道路由载具单元+供电单元”控制加载至少10个微波集成电路工作在共时基同频或异频接收工作状态，控制信号激励单元根据检测需求提供单载波或多载波激励信号，并经过信号功分单元实现至少10路的激励信号分路，如果待测试微波集成电路工作正常，则其对应这10路激励...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭敏，王亚海，徐宝令，朱学波，阎涛，王尊峰，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：