【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及准光腔介电常数，具体涉及一种准光腔介电常数快速求解方法。
技术介绍
1、低损耗介质材料已广泛应用于微波和毫米波电路元件、雷达天线罩和准光学器件，由于微波材料在整个工作频段内具有不同的频率特性，在具体应用前了解各种介质的介电特性对于精确地设计电路、有源器件和无源器件是非常必要的。准光腔法作为低损耗材料毫米波频段介电性能测试最常用方法。
2、目前，市面上准光腔法产品都需要输入材料的介电常数初值，材料的介电常数初值需要自我估算，如若估算的初值与真值差距过大会将导致无法得到计算结果。另外，准光腔介电常数求解公式为复杂的超越方程，需要在宽介电常数范围内迭代求解，准光腔介电常数求解公式中的正切函数会引入断点，导致时间复杂度高、测试效率较低。
3、现有技术中，论文《w波段准光腔技术研究》、《介质材料在毫米波频段的复介电常数测量技术研究》中所采用的测量方法与本专利技术方法均不相同，本专利技术方法为准光腔测试方法，而《介质材料在毫米波频段的复介电常数测量技术研究》中则是利用天线主波束方向角反演介电常数的方法进行测量，...
【技术保护点】
1.一种准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，所述准光腔法介电常数求解公式为：
3.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，所述介电常数初始扫描求解步长设置为0.1。
4.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，所述真值解范围通过寻找波谷点的方式确定，真值解分布于介电常数函数曲线波谷点附近。
5.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，所述步骤3中，介电常数的扫描求解步长设置为
【技术特征摘要】
1.一种准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，所述准光腔法介电常数求解公式为：
3.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方法，其特征在于，所述介电常数初始扫描求解步长设置为0.1。
4.根据权利要求1所述的准光腔介电常数快速求解方...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕子敬，邹翘，江子奇，赵锐，王亚海，周治鑫，王梦慧，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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