校准方法、电路、存储介质、时钟恢复电路及电子装置制造方法及图纸

本申请提供一种校准方法、电路、存储介质、时钟恢复电路及电子装置。校准方法包括配置参考信号源输出参考信号，且参考信号包括第一数量的参考信号波；通过延迟链延迟参考信号以输出延迟信号，延迟链包括若干延迟单元；同步采样参考信号及延迟信号；当采样结果为预设状态时，进行加1计数并获取最终的计数值；判断计数值与第一数量的比值是否在预设范围内；当比值在预设范围内时，根据参考信号波的时间宽度及开启的延迟单元的数量，获取平均延迟时间；根据平均延迟时间输出控制信号至时钟恢复电路，以校准时钟恢复电路的延迟时间。本申请提供的校准方法可实现针对时钟恢复电路的动态校准。校准方法可实现针对时钟恢复电路的动态校准。校准方法可实现针对时钟恢复电路的动态校准。

【技术实现步骤摘要】
校准方法、电路、存储介质、时钟恢复电路及电子装置


[0001]本专利技术涉及电路领域，尤其涉及一种用于校准时钟恢复电路中的延迟时间的校准方法、校准电路、存储介质、时钟恢复电路及电子装置。

技术介绍

[0002]目前的高速串行总线协议中，通常都在数据中包含了时钟信号，而不再需要一根独立的时钟信号和数据并行传输。如此，为了在接收端能够正确对数据进行采样，需要在接收端将数据信号中的时钟信号提取出来，即是时钟恢复过程。
[0003]在时钟恢复电路的工作过程中需要提供适当的延迟时间，以避免因电路产生的抖动(Jitter)、偏移(Skew)及/或符号间干扰等使得数据传输失败的问题。然而现有的时钟恢复电路中，受到温度、电压、制程等影响，时钟恢复电路中每一延迟单元的延迟时间可能会出现偏差，使得延迟时间出现较大误差，从而导致数据无法正常传输。例如在一些情况下，温度每提升10度，时钟恢复电路的延迟时间增加1％，对应工作频率要降1％；电压每增加5％，延迟时间减少3％，对应工作频率提高3％。也就是说，目前时钟恢复电路中的延迟时间容易受到环境影响，从而影响数据传本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校准方法，用于校准时钟恢复电路的延迟时间，其特征在于，所述方法包括：配置参考信号源输出参考信号，且所述参考信号包括第一数量的参考信号波；通过延迟链延迟所述参考信号，以输出延迟信号，所述延迟链包括若干延迟单元；同步采样所述参考信号及所述延迟信号；当采样结果为预设状态时，进行加1计数，并获取最终的计数值；判断所述计数值与所述第一数量的比值是否在预设范围内；当所述比值在所述预设范围内时，根据所述参考信号波的时间宽度及所述延迟链中开启的延迟单元的数量，获取平均延迟时间；根据所述平均延迟时间输出控制信号至所述时钟恢复电路，以校准所述时钟恢复电路的延迟时间。2.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述延迟信号包括若干延迟信号波，所述预设状态为所述参考信号波与所述延迟信号波至少部分重叠。3.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述当所述比值达到预设阈值时，根据所述参考信号波的时间宽度及所述延迟链中开启的延迟单元的数量，获取平均延迟时间包括：根据所述参考信号波的时间宽度及所述延迟链中开启的延迟单元的数量，获取初始延迟时间；重复执行所述校准方法，以获取若干组所述初始延迟时间；根据预设规则及若干组所述初始延迟时间，获取所述平均延迟时间。4.如权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述预设规则包括：获取若干组所述初始延迟时间的平均值作为所述平均延迟时间；或获取若干组所述初始延迟时间的中值作为所述平均延迟时间。5.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述根据所述平均延迟时间输出控制信号至所述时钟恢复电路，以校准所述时钟恢复电路的延迟时间包括：获取所述时钟恢复电路的目标延迟时间；根据所述平均延迟时间...

【专利技术属性】
技术研发人员：许裕杰，柯凌维，陈俊佑，韦鸿运，
申请(专利权)人：深圳天德钰科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：