具多界面的快闪存储卡测试器具制造技术

本发明专利技术为一种具多界面的快闪存储卡测试器具，该测试器具主体上设有一个或一个以上的连接界面转接板，该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成一电性相连。再者，通过测试控制电路内所设置的微处理器及微处理器内的存储卡种类检测脚，将可检测所插入的存储卡属于何种规格，因此藉由测试器具上的测试电路板及连接界面转接板，将可测试具有不同界面的快闪存储卡，以节省不同界面的快闪存储卡测试器具设置成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种记忆存储卡的测试装置，尤其涉及一种具有多个 界面的快闪存储卡的测试器具，该器具用于计算机存储卡的测试领域。
技术介绍
目前闪存的技术有着快速地成长，近年来业者不断开发更大容量的闪存，如MP3播放器、个人数字助理、数字相机或数字摄影机等 多媒体装置及手机等通讯装置几乎皆设有存储卡。另外，现今市面上 一般的影音播放装置的本体内亦至少设立有控制芯片、闪存于其内， 其中该闪存可应用于数字影音译码及录音上使用，用以将计算机的影 音资料供使用者下载，并可由影音播放装置进行播放数字音乐使用， 另外，市面上亦有一种资料储存装置内单纯利用闪存使用的产品，此 种产品仅提供消费者增加除计算机外的资料记忆使用，且亦可随意插 拔于计算机上进行读取或存取资料使用，因此自从闪存问世已来即受到广大消费者的青睐，而成为一种几乎不可或缺的使用工具。但是，上述闪存的应用则因不同厂商或是需求，则存在不同类型、 不同尺寸规格的存储卡，然而目前市面上大致具有MMC卡(Mu 1 tiMediaCard) 、CF卡(CompactFlash Card) 、 SMC卡(SmartMediaCard) 、 MS 卡(MemorySt i ck)及SD卡(SecureDi gi talMemoryCard)等规格。快闪存储卡在出厂时，需要用快闪存储卡的测试器具来测试闪存 的瑕疵，因此在生产流程上就必须完全依据测试器具的设计来规划， 若测试器具设计不良，不仅不方便也浪费更多的工时与生产成本，且针对上述不同规格的快闪存储卡，生产快闪存储卡的厂商更需要利用 不同规格的测试器具来检测不同规格的快闪存储卡；然而针对闪存越 来越多样的应用，快闪存储卡的容量、界面和功能的设计发展也越来 越繁复，因此对于生产快闪存储卡的厂商而言，要兼顾大量生产不同 界面的快闪存储卡以及同时保证大量生产时的品质，则是一个严肃的 课题。缘此，上述现有技术的不足，便为从事此行业者所亟欲改善的课 题，而有待相关业者作进一步改进与创新设计的必要。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种具多界面的快闪存储卡测试器 具，该器具利用连接界面转接板可外接有不同界面的快闪存储卡，因 此快闪存储卡测试者可在同一测试器具主体上并利用不同的测试电路 板及连接界面转接板，来测试不同界面的快闪存储卡，以节省测试不 同界面的快闪存储卡所设置的器具成本。另外，本专利技术的次要目的在于提供的具多界面的快闪存储卡测试 器具，其测试电路板可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面， 因此当有单数的测试电路板或连接界面转接板损坏时，将可单独将该 元件进行更换，因此不需将测试器具主体进行修缮，藉此将可大幅减 少测试器具主体的维修时间及经费的功效。为达成上述目的，本专利技术采用的技术手段如下一种具多界面的快闪存储卡测试器具，其特征是，于测试器具上 设有一个或一个以上的连接界面转接板，且该连接界面转接板可通过 连接界面与测试电路板成电性相连。其中该测试电路板设有测试控制电路及控制此电路的程序。该测 试控制电路由微处理器、短路检测电路、存储卡电源供应电路及存储 卡插槽所构成。该微处理器设有存储卡种类检测脚。该测试电路板设 有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面。该连接界面转接板设有 测试电路板连接界面、连接界面转换电路及快闪存储卡连接界面。该 连接界面转接板与快闪存储卡相连接，并通过连接界面将测试信号传 送至测试电路板连接界面。该连接界面转接板设有电源标示、测试正 常标示、测试中标示或测试失败标示。通过上述技术特征，本专利技术与现有技术比较具下列优点 (--)本专利技术利用测试电路板通过连接界面与连接界面转接板相 耦接，且连接界面转接板可进一步外接不同界面的快闪存储卡，因此 快闪存储卡测试者可在同一测试器具主体上利用不同的测试电路板及 连接界面转接板，来测试不同界面的快闪存储卡，以节省设置不同界 面的快闪存储卡器具的成本。(二) 本专利技术通过连接界面转接板上的电源标示、测试正常标示、 测试中标示及测试失败标示或是通过操作系统或操作系统内建的应用 程序，快闪存储卡测试者将可以快速明了快闪存储卡测试后的结果， 并明确掌握测试器具主体的运作状态。(三) 该测试电路板可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制 界面，因此该测试器具主体将可针对复数的快闪存储卡同时进行测试， 且当若有单数的测试电路板或连接界面转接板损坏时，将可单独将该 元件进行更换，因此不需将测试器具主体进行修缮，藉此将可大幅减 少测试器具主体的维修时间及经费。(四) 而当快闪存储卡于受测时且有短路狀况发生时，该短路检 测电路则会将存储卡电源供应电路的电源关闭并切断存储卡插槽的电 源，以保护测试中的存储卡与测试电路板的电路。附图说明图l为本专利技术的系统架构方块示意图。 图2为本专利技术的测试电路板方块示意图。图3为本专利技术的测试控制电路方块示意图。图4为本专利技术的连接界面转接板方块示意图。图5为本专利技术的另一系统架构方块示意图。图6为本专利技术的电路图(一)。图7为本专利技术的电路图(二)。图8为本专利技术的电路图(三)。图9为本专利技术的电路图(四)。图10为本专利技术的电路图(五)。图中符号说明1、测试器具主体11、测试电路板111、 测试控制电路1111、 微处理器1112、 短路检测电路1113、 存储卡电源供应电路1114、 存储卡插槽112、 快闪存储卡的控制界面 1 2 、连接界面转接板12 1、测试电路板连接界面 12 2、快闪存储卡连接界面 12 3、电源标示 12 4、测试正常标示 12 5、测试中标示 12 6、测试失败标示 12 7、连接界面转换电路 1 3 、连接界面具体实施方式请参阅图l所示，为本专利技术的系统架构方块示意图，由图中所示 可清楚看出，本专利技术的测试器具主体1设置有测试电路板1 1、连接界面转接板1 2及连接界面1 3 ，其中该测试电路板1 1可通过连接界面l3将测试电路板1l与连接界面转接板l2相连接。请参阅图2所示，为本专利技术的测试电路板方块示意图，图中该测 试电路板l l设有测试控制电路l 1 1及控制此电路的软件程序，另 外，该测试电路板l 1亦设有快闪存储卡的控制界面1 1 2。请参阅图3所示，为本专利技术的测试控制电路方块示意图，并请参 阅图6、 7、 8、 9、 10，为本专利技术的电路图(一)、(二)、(三)、 (四)、(五)，该测试控制电路l11由可通过存储卡种类检测脚 讀取存储卡种类的微处理器1 111、可通过短路检测脚来检测电流 值的短路检测电路l 112、负责供应存储卡电源的存储卡电源供应 电路l 1 1 3以及可供存储卡插置的存储卡插槽1 1 1 4所构成，是 以，当短路狀况发生时则该测试控制电路11l不须经由微处理器l1 1 l的处理，该短路检测电路l 1 1 2即可通过存储卡电源开关来 立刻关闭电源，以减少对电路的伤害。请参阅图4所示，为本专利技术的连接界面转接板方块示意图，而该 连接界面转接板l 2由测试电路板连接界面1 2 1、快闪存储卡连接 界面1 2 2 、连接界面转换电路12 7、电源标示123、测试正常 标示l 2 4、测试中标示l 2 5及测试失败标示1 2 6所构成，而测 试电路板l1通过测试电路板连接界面12l与连接界面转换本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具多界面的快闪存储卡测试器具，其特征是，于测试器具上设有一个或一个以上的连接界面转接板，且该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成电性相连。

【技术特征摘要】
1.一种具多界面的快闪存储卡测试器具，其特征是，于测试器具上设有一个或一个以上的连接界面转接板，且该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成电性相连。2. 如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该 测试电路板设有测试控制电路及控制此电路的程序。3. 如权利要求2所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该 测试控制电路由微处理器、短路检测电路、存储卡电源供应电路及存 储卡插槽所构成。4. 如权利要求3所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该 微处理器设有存储卡种类检测脚。5. 如权利要求l所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该 测试电路板设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面。6. 如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该 连接界面转接板设有测试电路板连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈本慧，
申请(专利权)人：群联电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]