【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种存储器管理技术，尤其涉及一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元。
技术介绍
1、移动电话与笔记本计算机等可携式电子装置在这几年来的成长十分迅速，使得消费者对存储媒体的需求也急速增加。由于可复写式非易失性存储器模块(rewritable non-volatile memory module)(例如，快闪存储器)具有数据非易失性、省电、体积小，以及无机械结构等特性，所以非常适合内建于上述所举例的各种可携式电子装置中。
2、一般来说，存储器控制器每隔一段预设时间(例如几天或几个月)会在闲置状态下对可复写式非易失性存储器模块进行全盘扫描，以确认可复写式非易失性存储器模块的整体健康度。例如，在全盘扫描中，可复写式非易失性存储器模块中的每一个实体单元的数据存储状态会被检查。一旦检测到处于异常状态(例如比特错误率太高)的实体单元，存储器控制器可对此实体单元执行数据刷新或数据备份等维护行为。
3、实务上，可通过缩短上述预设时间(即缩短相邻两次执行全盘扫描的时间间隔)，来提升全盘扫描的执行频率，进而有效确保可复写式非易失性存储器模块的整体健康度始终符合规范。但是，在可复写式非易失性存储器模块的容量不断加大的情况下，每一次对可复写式非易失性存储器模块执行全盘扫描所需的时间也会对应增加。因此，若过于频繁地执行全盘扫描，很容易导致系统资源被无谓浪费，甚至可能缩短可复写式非易失性存储器模块的使用寿命。此外，若全盘扫描的执行频率太低，则又可能错过针对部分实体单元进行数据维护的最佳时间点，导致后续出现
技术实现思路
1、本专利技术提供一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元，可改善上述问题并提高对可复写式非易失性存储器模块的维护效率。
2、本专利技术的范例实施例提供一种存储器管理方法，其用于可复写式非易失性存储器模块。所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元。所述存储器管理方法包括：对所述多个实体单元执行第一操作，以获得对应于所述多个实体单元的品质评估参数；根据所述品质评估参数建立检查清单，其中所述检查清单记载所述多个实体单元中的第一实体单元的索引信息，且所述第一实体单元的数量少于所述多个实体单元的总数；以及响应于预设条件被满足，根据所述检查清单中的所述索引信息，对所述第一实体单元执行状态扫描。
3、在本专利技术的范例实施例中，所述品质评估参数至少反映所述第一实体单元的比特错误率与损耗程度的至少其中之一。
4、在本专利技术的范例实施例中，所述第一实体单元包括所述多个实体单元中数据存储品质相对较差的至少一实体单元。
5、在本专利技术的范例实施例中，所述的存储器管理方法还包括：根据所述品质评估参数，将所述多个实体单元中数据存储品质低于品质门槛值的至少一实体单元的索引信息记载于所述检查清单中。
6、在本专利技术的范例实施例中，根据所述品质评估参数建立所述检查清单的步骤包括：根据所述品质评估参数，排序所述多个实体单元；根据对所述多个实体单元的排序结果，从所述多个实体单元中挑选所述第一实体单元；以及将所述第一实体单元的所述索引信息记载于所述检查清单中。
7、在本专利技术的范例实施例中，所述的存储器管理方法还包括：响应于所述品质评估参数被更新，更新所述检查清单，以将所述多个实体单元中的第二实体单元的索引参数加入至所述检查清单中，并将所述多个实体单元中的第三实体单元的索引参数从所述检查清单中移除。
8、在本专利技术的范例实施例中，所述的存储器管理方法还包括：响应于包括所述可复写式非易失性存储器模块的存储器存储装置被上电或被唤醒，判定所述预设条件被满足。
9、在本专利技术的范例实施例中，所述的存储器管理方法还包括：根据所述状态扫描的结果执行第二操作，其中所述第二操作包括以下多个操作的至少其中之一：调整对应于所述第一实体单元的读取电压电平；调整对所述多个实体单元的维护策略；以及调整品质门槛值，其中所述品质门槛值用以管控是否将所述多个实体单元中的特定实体单元的索引信息记载于所述检查清单中。
10、在本专利技术的范例实施例中，调整对所述多个实体单元的所述维护策略的步骤包括：根据所述状态扫描的所述结果，调整对所述多个实体单元执行全盘扫描的频率。
11、在本专利技术的范例实施例中，根据所述状态扫描的所述结果执行所述第二操作的步骤包括：根据所述状态扫描的所述结果，获得代表性信息，其中所述代表性信息反映所述多个实体单元的整体数据存储品质；以及根据所述代表性信息执行所述第二操作。
12、本专利技术的范例实施例另提供一种存储器存储装置，其包括连接接口单元、可复写式非易失性存储器模块及存储器控制电路单元。所述连接接口单元用以连接至主机系统。所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元。所述存储器控制电路单元连接至所述连接接口单元与所述可复写式非易失性存储器模块。所述存储器控制电路单元用以：对所述多个实体单元执行第一操作，以获得对应于所述多个实体单元的品质评估参数；根据所述品质评估参数建立检查清单，其中所述检查清单记载所述多个实体单元中的第一实体单元的索引信息，且所述第一实体单元的数量少于所述多个实体单元的总数；以及响应于预设条件被满足，根据所述检查清单中的所述索引信息，对所述第一实体单元执行状态扫描。
13、在本专利技术的范例实施例中，所述存储器控制电路单元还用以：根据所述品质评估参数，将所述多个实体单元中数据存储品质低于品质门槛值的至少一实体单元的索引信息记载于所述检查清单中。
14、在本专利技术的范例实施例中，所述存储器控制电路单元根据所述品质评估参数建立所述检查清单的操作包括：根据所述品质评估参数，排序所述多个实体单元；根据对所述多个实体单元的排序结果，从所述多个实体单元中挑选所述第一实体单元；以及将所述第一实体单元的所述索引信息记载于所述检查清单中。
15、在本专利技术的范例实施例中，所述存储器控制电路单元还用以：响应于所述品质评估参数被更新，更新所述检查清单，以将所述多个实体单元中的第二实体单元的索引参数加入至所述检查清单中，并将所述多个实体单元中的第三实体单元的索引参数从所述检查清单中移除。
16、在本专利技术的范例实施例中，所述存储器控制电路单元还用以：响应于包括所述存储器存储装置被上电或被唤醒，判定所述预设条件被满足。
17、在本专利技术的范例实施例中，所述存储器控制电路单元还用以：根据所述状态扫描的结果执行第二操作，其中所述第二操作包括以下多个操作的至少其中之一：调整对应于所述第一实体单元的读取电压电平；调整对所述多个实体单元的维护策略；以及调整品质门槛值，其中所述品质门槛值用以管控是否将所述多个实体单元中的特定实体单元的索引信息记载于所述检查清单中。
18、在本专利技术的范例实施例中，所述存储器控制电路单元调整对所述多个实体单元的所本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种存储器管理方法，其特征在于，用于可复写式非易失性存储器模块，其中所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器管理方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述品质评估参数至少反映所述第一实体单元的比特错误率与损耗程度的至少其中之一。
3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述第一实体单元包括所述多个实体单元中数据存储品质相对较差的至少一实体单元。
4.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
5.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中根据所述品质评估参数建立所述检查清单的步骤包括：
6.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
7.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
8.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
9.根据权利要求8所述的存储器管理方法，其中调整对所述多个实体单元的所述维护策略的步骤包括：
10.根据权利要求8所述的存储器管理方法，其中根据所述状态扫描的所述结果执行所述第二操作的步骤包括：p>
11.一种存储器存储装置，其特征在于，包括：
12.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述品质评估参数至少反映所述第一实体单元的比特错误率与损耗程度的至少其中之一。
13.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述第一实体单元包括所述多个实体单元中数据存储品质相对较差的至少一实体单元。
14.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元还用以：
15.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元根据所述品质评估参数建立所述检查清单的操作包括：
16.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元还用以：
17.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元还用以：
18.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元还用以：
19.根据权利要求18所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元调整对所述多个实体单元的所述维护策略的操作包括：
20.根据权利要求18所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元根据所述状态扫描的所述结果执行所述第二操作的操作包括：
21.一种存储器控制电路单元，其特征在于，用以控制可复写式非易失性存储器模块，其中所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器控制电路单元包括：
22.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述品质评估参数至少反映所述第一实体单元的比特错误率与损耗程度的至少其中之一。
23.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述第一实体单元包括所述多个实体单元中数据存储品质相对较差的至少一实体单元。
24.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路还用以：
25.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路根据所述品质评估参数建立所述检查清单的操作包括：
26.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路还用以：
27.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路还用以：
28.根据权利要求21所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路还用以：
29.根据权利要求28所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路调整对所述多个实体单元的所述维护策略的操作包括：
30.根据权利要求28所述的存储器控制电路单元，其中所述存储器管理电路根据所述状态扫描的所述结果执行所述第二操作的操作包括：
...【技术特征摘要】
1.一种存储器管理方法，其特征在于，用于可复写式非易失性存储器模块，其中所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器管理方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述品质评估参数至少反映所述第一实体单元的比特错误率与损耗程度的至少其中之一。
3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述第一实体单元包括所述多个实体单元中数据存储品质相对较差的至少一实体单元。
4.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
5.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中根据所述品质评估参数建立所述检查清单的步骤包括：
6.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
7.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
8.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
9.根据权利要求8所述的存储器管理方法，其中调整对所述多个实体单元的所述维护策略的步骤包括：
10.根据权利要求8所述的存储器管理方法，其中根据所述状态扫描的所述结果执行所述第二操作的步骤包括：
11.一种存储器存储装置，其特征在于，包括：
12.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述品质评估参数至少反映所述第一实体单元的比特错误率与损耗程度的至少其中之一。
13.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述第一实体单元包括所述多个实体单元中数据存储品质相对较差的至少一实体单元。
14.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元还用以：
15.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元根据所述品质评估参数建立所述检查清单的操作包括：
16.根据权利要求11所述的存储器存储装置，其中所述存储器控制电路单元还用以：
17.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾士家，唐晨扬，许丞鞍，王志维，林纬，
申请(专利权)人：群联电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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