接口测试电路及方法技术

在某些实施例中，一种装置包括：导体；以及发送器，该发送器包括发送器测试电路以将测试属性嵌入测试模式信号并将该测试模式信号发送到导体。在某些实施例中，一种装置包括：导体，用于携带具有嵌入的测试属性的测试模式信号；和接收器测试电路，用于接收测试模式信号和提取测试属性，并确定提取的测试属性是否匹配期望的测试属性。描述了其它的实施例并要求了其权利。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的实施例一般涉及。例子包括例如可在内置自测 试(BIST)中使用的高速输入/输出电路(HSIO)的测试电路和方法。
技术介绍
商业集成电路(IC)(芯片)的价格不断受到压力但某些测试的成本即使不增加也 往往维持不变，与常规的数字计数器电路比较HISO的测试成本可能更高，因为它 可能更难以进行HISO测试工作并可能需要另外的专用高级自动测试设备(ATE)。 期望开发可加速生产测试发展并可提供灵活的测试接口的HISO测试电路和方法 以适应宽范围的测试应用。这种测试电路和方法可降低总的成本并增加产品的价 值。HISO中的BIST通常在发送器电路(TX)和接收器电路(RX)中使用伪随机二进 制序列(PRBS)生成器。图1中示出了常规的PRBSBIST的例子，其中大写字母Di 表示8比特数据测试向量而大写字母Ei表示发送器12(TX)中生成的10比特码字。 接收器14(RX)的对应动作用小写字母dj和ei表示。将8比特数据和10比特码字的 流包围在箭头括号e...中表示测试模式的开始和结束JRBS生成器18提供序列 〉...D3D2D^，该序列由编码器22编码以形成编码序列〉…E3E2E^，向其添加控制 字符^(可以是大量的控制字符)以形成测试模式>...￡必￡^>。接收器将控制字符 用于识别编码测试模式的开始。编码测试模式由串行器24串行化并通过信道28 提供给RX 14的解串器32。解串器32将接收的编码测试模式>...63^11^>提供给 解码器38，解码器38提供经解码的接收序列〉…d3d2d^。可在将测试模式提供给 解码器38之前或之后去除控制字符Ko。 RX 14中的PRBS生成器44生成的序列 〉...D3D2D^与TX 12中的相同，在框48中将其与经解码的接收序列〉…d3d2d^进行比较。如果两序列相同，则没有差错，如果它们不同，则存在差错。符号Di和di是8比特值而符号Ej和e;是对应的10比特编码值。符号Ko和 ko也是10比特值，但不一定从8比特值编码。8至10比特编码技术的例子包括公 知的8bl0b编码和最小化转换差分信令(transition minimized differential signaling)(TMDS)。 1999年4月2日的数字视频接口(DVI)标准版本1.0的第三章中 提供了 TMDS的概述，可从www.ddwg.org中的Digital Display Working Group(数字 显示器工作组)获得。DVI和高清晰度多媒体接口( HDMI)各自是基于TMDS 的信令传输协议。因为应该在无差错环境下在RX处接收相同的发送测试模式，所以HISO测试 通常包括在测试模式开始时经由专用控制字符比如Ko同步的两个相同的PRBS 18 和44。 TXPRBS生成用于发送的测试模式，而RXBIST生成用于比较的期望的输 出。TXPRBS可生成Ko并将其置于待发送的码字流之前。当检测到指定的控制字 符(K。)时RX PRBS开始将期望的测试模式与所接收的进行比较以识别故障。PRBS 中的测试模式基于线性反馈移位寄存器(LFSR)52来生成。LFSR 52的行为可由其 特征多项式来表征。LFSR52及其特征多项式的例子在图2中示出。符号 表示异 -OR(XOR)门而符号D表示D型触发器，但可采用除XOR门以外的其它门并可采 用除D型触发器以外的触发器。LFSR可生成固定的测试模式序列。其序列由称为 种子的初始态确定。RXPRBS中嵌入的固定多项式可使对于内部和外部用户的测试变复杂。某些 用户可能希望使用他们自己配备的不同多项式的LFSR或ATE。其测试应用还需 要来自数个不同的LFSR多项式或现有的LFSR生成的各种测试模式的洗牌式组合 版本的多样化测试模式。常规的PRBS通常缺少在线测试特征。在线或离线测试分别指在正常的功能 模式和测试模式期间的测试运行。在线测试能力可提供测量关于实际系统应用中的 比特差错率(BER)的信道质量。PRES通常在离线测试环境中使用。它仅在测试模 式期间运行而通常在正常的功能(正常工作)模式中被禁用。
技术实现思路
在某些实施例中， 一种装置包括导体；以及发送器，该发送器包括发送器 测试电路以将测试属性嵌入测试模式信号并将测试模式信号发送到导体。在某些实施例中， 一种装置包括导体，用于携带具有嵌入的测试属性的测试模式信号；以及接收器测试电路，用于接收测试模式信号和提取测试属性， 并确定提取的测试属性是否匹配期望的测试属性。在某些实施例中， 一种系统包括信道；发送器和接收器测试电路。发送 器包括发送器测试电路，以将测试属性嵌入测试模式信号中并将测试模式信号 发送到信道。接收器测试电路耦合到信道并接收测试模式信号和提取测试属性 以及确定提取的测试属性是否匹配期望的测试属性。描述了其它的实施例并要求了其权利。附图说明通过参考以下的描述和用于说明本专利技术的实施例的附图可理解本专利技术。然而， 本专利技术不限于这些附图的细节。实际上可通过不同的细节来实现本专利技术的实施例。 图1是包括发送器和接收器的现有技术系统的框图。图2是包括线性反馈移位寄存器(LFSR)的现有技术伪随机二进制序列(PRBS) 的框图。图3是包括发送器和接收器的接口测试系统的框图。图4是示出嵌入的测试属性和差错检测的发送器和接收器的框图。图5是包括发送器和接收器的接口测试系统的框图。图6是码字测试编码函数的框图和图示。图7是可配置的测试编码函数的的框图。图8是数据测试编码函数的框图和图示。图9是测试编码函数、类签名函数和类签名的框图和图示。图IO是按类签名划分码字的图示。图11是码字、测试编码函数输出和类签名序列的图示。图12示出按照类签名的测试属性的状态图。图13是按照类签名的测试属性的图示。图14是包括测试编码函数和类生成函数的框图。图15是包括测试编码函数和类签名函数的框图和图示。图16示出用于类生成函数的方程式的例子。图17和18分别是模式源和测试属性生成器的框图。图19是测试属性校验器的框图。图20示出用于类签名生成函数的方程式。图21和22分别是接口测试系统的框图。图23是DC平衡窗口的图例。图24示出用于类签名的方程式的例子。图25是接口测试系统的框图。图26是测试模式源的框图。图27是接口测试系统的框图。图28和29分别是发送器电路的框图。图30是对准校验器的框图。图31是多输入签名寄存器的框图。图32示出用于输入的方程式的例子。图33是测试编码函数、类签名函数和类签名的框图和图示。图34是测试编码函数的框图。图35示出用于签名函数的方程式的例子。图36是测试编码函数和类生成函数的框图。图37是模式源和测试属性生成器的框图。图38是测试属性校验器的框图。图39是接口测试系统的框图。图40和41分别示出用于计算类签名的方程式。图42和43分别是测试系统的框图。具体实施例方式在某些实施例中，将协议不敏感测试属性嵌入到待发送的数据，使得可在接 收器处检验相同的测试属性，以便如果发生差错的话检测出差错。在某些实施例中， 采用BIST电路，它与具体的编码技术无关并检测改变码字有效性的差错。可利用 嵌入测试属性来定义码字的有效性。从某些观点看来并在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种装置，包括：　　　　导体；以及　　　　发送器，包括发送器测试电路，以将测试属性嵌入测试模式信号并将所述测试模式信号发送到所述导体。

【技术特征摘要】
US 2006-11-15 60/859,355;US 2007-4-30 11/742,3581.一种装置，包括导体；以及发送器，包括发送器测试电路，以将测试属性嵌入测试模式信号并将所述测试模式信号发送到所述导体。2. 如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试属性包括类签名的 序列。3. 如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试模式信号包括由所 述发送器测试电路修改的码字的顺序模式。4. 如权利要求l所述的装置，其特征在于，所述发送器测试电路包括 测试编码函数，以响应于来自信号流的位提供经编码的位；以及 类生成函数，以响应于所述经编码的位和控制信号提供类签名序列，其中所述类签名序列包含在所述测试属性中。5. 如权利要求4所述的装置，其特征在于，来自所述流的位是来自所述 流中的信号段的第一组位置，并将所述类签名的序列插入所述信号段的第二组 位置中。6. 如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述信号段是码字。7. 如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述信号段是数据段。8. 如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述测试编码函数中的至少 一个包括门，以接收配置控制位来提供另外的编码可能性。9. 如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述测试编码函数和所述类 生成函数分别包括异-OR门。10. 如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述发送器测试电路还包括 模式源，以提供所述流和控制信号生成器以生成所述控制信号。11. 如权利要求l所述的装置，其特征在于，所述发送器测试电路包括至 少一个测试编码函数，以响应于来自信号流的位提供至少一位宽度的经编码的 位。12. 如权利要求l所述的装置，其特征在于，所述发送器测试电路包括至 少一个类生成函数，以响应于所述经编码的位和控制信号提供至少一位宽度的类签名，其中将类签名插入所述数据段。13. 如权利要求l所述的装置，其特征在于，所述发送器测试电路包括模 式源和调制器，以调制在生成所述测试模式信号中使用的所述模式源的输出。14. 一种装置，包括导体，用于携带具有嵌入的测试属性的测试模式信号；以及接收器测试电路，用于接收所述测试模式信号和提取所述测试属性，并确 定所述提取的测试属性是否匹配期望的测试属性。15. 如权利要求14所述的装置，其特征在于，所述接收器测试电路包括 响应于来自所述测试模式信号的信号段的第一组位置的位提供经编码的信号 的测试编码函数。16. 如权利要求15所述的装置，其特征在于，所述接收器测试电路包括 响应于所述经编码的信号和控制信号生成期望的类签名序列的电路，并且其中 所述期望的类签名序列用于确定所述提取的测试属性是否匹配所述期望的测 试属性。17. 如权利要求16所述的装置，其特征在于，响应于来自所述信号段的 第二组位置的位形成所述期望的...

【专利技术属性】
技术研发人员：C苏，HC金，G安，
申请(专利权)人：晶像股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]