薄膜形成装置及光学元件的制造方法制造方法及图纸

技术编号:2675181 阅读:174 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
用于红外区域实际使用波段的光学元件有一个衬底11和一个由形成在衬底11上的多层组成的光学薄膜。薄膜形成装置包括:测量可见区域特定波段中光谱特性的光学监视器4,测量红外区域特定波段中光谱特性的光学监视器5,和测量实际使用波段光谱特性的实际使用波段光学监视器。根据任一监视器4或5测得的光谱特性确定形成的各个层的膜厚度,并且根据这些膜的厚度调节还没有形成的层的膜厚度设置值。由实际使用波段光学监视器测得的光学薄膜形成过程中以及随后的薄膜形成过程结束时的光谱特性被反映到在下一衬底11上形成下一光学薄膜的过程中。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于在衬底表面形成由多层组成的膜的薄膜形成装置和一种制造光学元件的方法,其中该光学元件有一个衬底和一个由形成在该衬底表面上的多层组成的光学薄膜。
技术介绍
在诸如滤光片、透镜和反射镜的光学元件中,通常在这种光学元件的表面上形成由多层组成的光学薄膜,目的在于把各个波长处的透射率和反射率调节到特定的特性,把在各个波长处的相位特性调节到特定的特性,或提供抗反射特性。这种薄膜中的层数可以达到几十层,并且可以通过控制构成此光学薄膜的各个层的厚度来获得特定的光学特性。将诸如溅射装置和真空蒸发装置的薄膜形成装置用于形成这种光学薄膜或其它薄膜。在常规的薄膜形成装置中,安装有可见区域光学监视器,其根据形成在薄膜中的各层测量可见区域内波段的光谱特性,并试图获得具有理想特性的薄膜,该薄膜的理想特性通过确定根据由该可见区域光学监视器测得的光谱特性形成的各个层的膜厚度、并通过使形成为一定中间层的各个膜层厚度反映到随后形成的层的膜厚度中来精确地再现。例如日本专利申请JP2001-174226中所述的技术。但是,在此常规的薄膜形成装置中,只安装可见区域光学监视器作为测量由形成的各层建立的光谱本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜形成装置,用于在衬底表面上形成由多层组成的膜,该薄膜形成装置包括:第一光学监视器,测量形成的层在第一波段中显现的光谱特性;和第二光学监视器,测量形成的层在第二波段中显现的光谱特性。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:秋山贵之
申请(专利权)人:株式会社尼康
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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