一种电子控制模块测试装置及系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术适用于测试领域，提供了一种电子控制模块测试装置及系统。包括，控制电脑，与控制电脑连接的下位机。下位机进一步包括，连接器，连接下位机与被测电子控制模块，输出测试信号至被测电子控制模块的测试端口，接收被测电子控制模块驱动端口返回的状态信息；下位机控制器，连接控制电脑和连接器，接收控制电脑测试指令，执行测试步骤。本实用新型专利技术根据被测电子控制模块配置相应的测试指令，通过通用的下位机和连接线路，接收并执行控制电脑的测试指令，实现对现有或者新增电子控制模块的测试，测试准确、效率高，通用性很强。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试领域，尤其涉及一种电子控制模块测试装置及系统。
技术介绍
目前，对汽车电子控制模块的功能测试，通常针对特定的模块设计专用的 功能测试装置。在测试时，根据模块的测试端各端口的信号类型，分别连接开 关、自锁按钮、自复位按钮或可调旋钮，模块的驱动端连接指示灯，每一个连 接到输入输出端口的开关、按钮和指示灯均有明确定义。测试过程中，通过操 作人员手动操作开关、按钮，改变端口的信号状态，同时观察驱动端对应端口 的信号变化，信号的变化由指示灯亮或灭的状态表示。根据被测电子控制模块 的技术条件，人为判断模块的响应是否符合技术条件的要求，测试效率低，且 人为判断的出错几率大。同时，测试装置的通用性差，对于多车型、多种汽车 电子控制模块的功能测试，每一种模块需要设计制作专用的测试装置，投入成 本较高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电子控制模块测试装置，旨在解决已有测 试设备对电子控制模块的功能测试效率低、出错几率大，以及通用性差的问题。本技术是这样实现的， 一种电子控制模块测试装置，包括 连接器，通过测试线束与被测电子控制模块连接，将测试信号输出至被测 电子控制模块的测试端口 ，接收被测电子控制模块驱动端口返回的状态信息；下位机控制器，与控制电脑及所述连接器连接，接收控制电脑发送的测试 指令，执行测试步骤，将测试信号通过所述连接器输出至被测电子控制模块，将被测电子控制模块驱动端口的状态信息传送给控制电脑。本技术的另一目的在于提供一种电子控制模块测试系统，所述系统包括控制电脑，以及与所述控制电脑连接的下位机，所述下位机包括连接器，通过测试线束与被测电子控制模块连接，将测试信号输出至被测 电子控制模块的测试端口 ，接收被测电子控制模块驱动端口返回的状态信息； 以及下位机控制器，与控制电脑及所述连接器连接，接收控制电脑发送的测试 指令，执行测试步骤，将测试信号通过所述连接器输出至被测电子控制模块， 将被测电子控制模块驱动端口的状态信息传送给控制电脑。通过本技术，可以根据被测电子控制模块配置相应的测试指令，通过 通用的下位机和连接线路，接收并执行控制电脑的测试指令，实现对现有或者 新增电子控制模块的测试，测试准确、效率高，通用性很强。附图说明图i是本技术第一实施例提供的电子控制模块测试装置的结构图； 图2是本技术第二实施例提供的电子控制模块测试装置的结构图； 图3是本技术一个实施例中提供的下位机控制器的结构图； 图4是本技术另 一 实施例中提供的下位机控制器的结构图； 图5是本技术一个实施例提供的性能测试单元的结构图； 图6是本技术另 一 实施例提供的性能测试单元的结构图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图 及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。本技术根据被测电子控制模块，配置相应的测试指令，通过通用的下位机和连接线路，接收并执行控制电脑的测试指令，实现对现有或者新增电子 控制模块的测试。本技术对电子控制模块的测试包括功能测试和性能测试。功能测试是 指改变被测电子控制模块测试端的信号状态，检测电子控制模块驱动端对应端 口的输出信号变化是否与模块的功能要求相符。性能测试是指实时测试被测电 子控制模块在各种工作状况下的电压值及电流值，并据此计算被测电子控制模 块的功率损耗，以及测试被测电子控制模块承受过电压的能力和承受电源反接 的能力等。在本技术中，对被测电子控制模块的端口信号类型进行分类，其信号定义分别可以为，对于数字信号和脉冲信号，低电平为0V，高电平为+ 12V。 脉冲信号的频率，已知的频率范围为l~100Hz,要求最小调节间距lHz。模拟 信号的量值范围有0~ IOV、 0 20mA两种。本技术提供的测试装置通过测试传输电路输出满足上述要求的数字信 号、模拟信号和脉冲信号，模拟被测电子控制模块的测试端输入信号。数字信 号输入电路的电平测试范围也为低电平OV,高电平+12V。同时本测试装置提 供的脉沖信号频率留有余量，为O.HOOOHz,最小调节间距0.1Hz。图1示出了本技术第一实施例提供的电子控制模块测试装置的结构， 为了便于说明，仅示出.了与本技术相关的部分。下位机1中的下位机控制器11通过数据线连接至控制电脑的相应接口 ，接 收控制电脑发送的测试指令。另外，下位机控制器11还连接至连接器12，连 接器12通过测试线束与被测电子控制模块连接，实现对被测电子控制模块的测 试。作为本技术的一个实施例，下位机控制器11通过RS232串口数据线 连接到控制电脑的RS232串口 。 RS232串口数据线的两连接端均为9芯，串口 引脚定义遵循通用9芯串口引脚协议。串口数据线可根据串口引脚协议自制， 但应保证接收数据引脚(Receive Data, RXD )、发送数据引脚(Transmit Data,TXD )、请求发送引脚(Request to Send, RTS )和信号地引脚(System Ground, GND)的互连。连接器12包括插座和插头，插座的各针脚与下位机控制器11的输出端连 接，插头的各针脚分别与测试线束的一端针脚连接，测试线束的另一端针脚与 被测电子控制模块的测试端口和驱动端口连接，具体可以采用焊接等方式。测 试线束可以根据被测电子控制模块的技术要求自制，具体根据被测电子控制橫 块的技术要求而定。作为本技术的一个实施例，插座和插头可以分別采用50芯航空插座和 插头，当然插座的管脚数也可以大于或小于50芯。根据被测电子控制模块的端 口信号类型划分，可以对50芯航空插座的各针脚进行定义，具体可以根据被测 电子控制模块的测试要求进行灵活调整，例如定义1 ~ 20脚为数字信号输出通 道、21 ~ 36脚为数字信号输入通道、37 ~ 40脚为0 ~ 20mA才莫拟信号输出通道、 41 ~ 42为0 ~ 10V才莫拟信号输出通道、43 ~ 44脚为脉冲信号输出通道、47 ~ 48 脚为地(GND) , 49~ 50脚为+12V电源，45 ~ 46脚备用。测试时，下位机控制器11执行控制电脑发送的测试指令，通过连接器12 及测试线束向被测电子控制模块的测试端口发送测试信号，被测电子控制模块 驱动端口的状态信息通过连接器12及测试线束反馈给下位机控制器11,下位 机控制器11将被测电子控制模块驱动端口的状态信息通过RS232串口数据线 传送给控制电脑，控制电脑根据收到的被测电子控制模块驱动端口的状态信息 判断被测电子控制模块的功能是否正常。下位机控制器11也可以存储控制电脑发送的测试指令。当下位机控制器 11测试到下位才几1与控制电脑的通讯脱离时，可以自主控制下位机1对被测电 子控制模块进行测试。这种方式的测试，可以降低系统的测试成本，工作更加 可靠，可用于对被测电子控制模块进行耐久性测试。图2示出了本技术第二实施例提供的电子控制模块测试装置的结构， 为了^^于说明，仅示出了与本技术相关的部分。与第一实施例不同，下位机1中增加了性能测试单元13,对被测电子控制 模块进行性能测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子控制模块测试装置，其特征在于，所述装置包括：　　　　连接器，通过测试线束与被测电子控制模块连接，将测试信号输出至被测电子控制模块的测试端口，接收被测电子控制模块驱动端口返回的状态信息；以及　　　　下位机控制器，与控制电脑及所述连接器连接，接收控制电脑发送的测试指令，执行测试步骤，将测试信号通过所述连接器输出至被测电子控制模块，将被测电子控制模块驱动端口的状态信息传送给控制电脑。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周宇奎，苏茂田，龙光展，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]