集成电路的测试电路制造技术

本实用新型专利技术揭示了一种用于集成电路测试的测试电路，该电路包括：一比较器，两个输入端分别连接分压电阻以设置偏置电压；一检流电阻，一端接地，另一端连接至待测集成电路及一耦合电容；一限流电阻，一端连接于比较器，另一端连接一二极管；一二极管，正极与限流电阻相连，负极连接至一储能电容；一放电开关，并联在储能电容两端，其由测试控制端控制；二极管的负极、储能电容的一端以及放电开关的一端连接测试电路的测试输出端。采用本实用新型专利技术的技术方案，大大缩短单个芯片的测试时间同时节约了测试的成本。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及集成电路测试领域，更具体地说，本技术涉及一种含有高阶计数器的集成电路的测试电路。
技术介绍
含有高阶计数器的集成电路，例如以含有高阶计数器的电源监控芯片AZ809为例，其基本功能可参考图2所示。在测试时，如果电源VCC上升超过监控阈值VTH后，经过约280ms(典型值)之后输出RESET才会升高。因此在最终测试的时候，如果要测量监控阈值VTH，那么逐渐增加VCC，直到RESET变高，此时的VCC就是我们要测量的监控阈值VTH。例如VCC以10mV为步长上升，则每增加10mV都要等待几百毫秒，然后根据测到的输出RESET端的电压是否变高来确定是否找到了监控阈值VTH。对于大批量的最终测试，其成本是难以接受的。但如果不测监控阈值VTH，又不能保证芯片的监控阈值VTH都在其规格要求以内。于是就需要一种测试技术可以克服上述的传统测试方法费时和成本高的缺点。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种含有高阶计数器的集成电路的测试电路以缩短测试时间和节约成本。根据本技术的一方面，提供一种用于集成电路测试的测试电路，所述电路包括一比较器，两个输入端分别连接分压电阻以设置偏置电压；一检流电阻，一端接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于集成电路测试的测试电路，其特征在于，所述电路包括：　　　　一比较器，两个输入端分别连接分压电阻以设置偏置电压；　　　　一检流电阻，一端接地，另一端连接至待测集成电路及一耦合电容；　　　　一限流电阻，一端连接于所述比较器，另一端连接一二极管；　　　　一二极管，正极与所述限流电阻相连，负极连接至一储能电容；　　　　一放电开关，并联在所述储能电容两端，其由测试控制端控制；　　　　所述二极管的负极、储能电容的一端以及放电开关的一端连接所述测试电路的测试输出端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：施浩，
申请(专利权)人：BCD半导体制造有限公司，
类型：实用新型
国别省市：KY[开曼群岛]