温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型揭示了一种用于集成电路测试的测试电路，该电路包括：一比较器，两个输入端分别连接分压电阻以设置偏置电压；一检流电阻，一端接地，另一端连接至待测集成电路及一耦合电容；一限流电阻，一端连接于比较器，另一端连接一二极管；一二极管，正极与限...
该专利属于BCD半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过BCD半导体制造有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。