【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
液晶显示器由于具有轻、薄、便于携带和环保等诸多优点，获得广泛应用。但在液晶显示器制造的各种工序中，必须设置诸多检测步骤，尤其液晶显示器的基板制造过程中，需要多次检测，以提升良率，降低成本。常用的阵列基板检测装置及检测方法主要用于检测基板中的线路缺陷，如短路、断路等。如图1所示，是一种现有技术阵列基板检测装置。该阵列基板检测装置1主要包括一光电元件10、一电源11、一光源12、一光侦测器13和一监视器14。该光电元件10包括一可控制光通过与否的控光层101和一反射层102。该光电元件10设置在待测阵列基板16上方而且贴近该阵列基板16，电源11与光电元件10及阵列基板16上的像素电极15电连接。电源11在阵列基板16上的像素电极15和光电元件10之间施加电压，以形成一电场；光源12发出的光照射该光电元件10，被反射层102反射，光侦测器13接收来自光电元件10的反射光，并将该反射光对应的讯号输入与之连接的监视器14。若阵列基板16上有瑕疵，该瑕疵对应位置的电场强度将发生畸变，引起控光层101动作，导致对应点处控光层101的光通过率发...
【技术保护点】
一种阵列基板检测装置，其包括一光源、一可控制光通过与否的光电元件、一位于该光电元件一侧的光侦测器和一与该光侦测器连接的计算器系统，待测阵列基板设置在光电元件与光源之间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林至成，吴泽，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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