可测试集成电路制造技术

一种集成电路（１），包括具有时钟输出的内部时钟电路（１２），用于为集成电路（１）的功能电路（１０）提供时钟。所述集成电路配置有在测试期间使用的计数器电路（１６）和状态保持电路（１８）。将所述集成电路切换到测试模式，并且发送测试时间间隔开始的信号。从所述测试时间间隔开始的时候，对来自内部时钟电路１２的时钟脉冲进行计数，并且如果所述内部时钟电路从所述测试时间间隔开始后已经产生多于预定数目的时钟脉冲，则将状态保持电路（１８）锁定至预定状态。从集成电路（１）读出与在所述测试时间间隔中状态保持电路（１８）是否已经达到所述预定状态有关的信息，而且测试估计装置（２）使用所述信息来接受或拒绝集成电路（１）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具有可测试内部时钟电路的可测试集成电路。
技术介绍
如US专利No.6,131,173所述，集成电路可以包含多个时钟域。该集成电路通常配置有多个内部时钟电路，所述多个内部时钟电路用于为集成电路中的功能电路的不同部分提供时钟。许多这样的时钟电路包含分频器，例如，用于产生从更高频率的基准信号下分频而得到的时钟信号，或用于提供下分频后的时钟信号以锁定到基准信号。该时钟电路的测试通常包括对时钟信号的时间和频率进行测量。这可以通过将集成电路切换到测试模式来实现，其中来自内部时钟电路的时钟信号与集成电路的外部管脚相连。然后，使用与这些管脚相连的测试设备来测量时钟信号的性质。然而，难以对集成电路以外的高频时钟信号进行布线。至少这要求在集成电路内部的电路和测试环境两方面相当可观的电路开销。因为现代集成电路中的内部时钟信号的数目趋于增加，因而该开销也增加。可选地，已经知道为了测试的目的而把时钟信号测量电路包括在集成电路内。典型地，这包括内部计数器电路的使用，所述内部计数器电路接收内部时钟信号和外部使能信号，以在外部定义的时间点开始和停止计数。随后从计数器中读取所得到的计数，并且确本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可测试集成电路（１），包括：－测试接口电路（１４），被设置为将所述集成电路在功能操作模式和测试模式之间进行切换；－具有时钟输出的内部时钟电路（１２），用于至少在所述功能操作模式下为所述集成电路的功能电路（１０）提供时钟；－测试电路（１６、１８）包括：脉冲计数电路（１６），具有与时钟输出相连的时钟输入；状态保持电路（１８），与脉冲计数电路（１６）相连或作为脉冲计数电路（１８）的一部分，被设置为：在测试接口电路（１４）定义的时间间隔开始后，当已经把阈值数目的时钟脉冲施加到所述时钟输入时，状态保持电路（１８）将锁定至预定状态；测试接口电路（１４）与状态保持电路（１８）相连，用于从所述集成电路读出...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：史蒂文H德库柏，格雷姆弗朗西斯，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]