具有差错复原电路的系统和扫描输出电路技术方案

在一个实施例中，提供了一种带有系统电路、扫描输出电路和差错检测电路的设备。所述系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号。所述扫描输出电路适于响应于所述数据输入信号和所述系统时钟信号生成第二输出信号。所述差错检测电路连接至所述系统电路和所述扫描输出电路，其适于响应于所述第一输出信号和所述第二输出信号之间的相对条件生成差错信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的实施例涉及电子器件领域，具体而言，涉及针对电子器 件中的差错有复原能力的操作。
技术介绍
单粒子翻转(Single event upset， SEU)又称为软差错(SER)， 其是由高能粒子，例如，由宇宙射线生成的中子和来自包装材料的a 粒子在数字系统中引起的、由辐射诱发的瞬态差错。对于在先进技术 节点U30nm、 90nm等)内制造的设计而言，SEU具有不断增大的 重要性。因此，软差错对于那些以具有非常高的可靠性、数据完整性 和可用性的企业和应用为目标的微处理器、网络处理器、高端路由器 和网络存储部件而言是非常重要的。更具体地说，双稳态器件(锁存 器和触发器)可能是导致系统级软差错率的主要因素。由现代的超大规模集成(VLSI)芯片的不断提高的复杂性导致的 问题之一在于，难以对其进行调试，从而使其具备满负荷生产的资格。 一种扫描输出(scanout)机构可以帮助设计者在正常运行(实时)过 程中通过非侵入方式观察芯片内部节点的重要内部状态。所述扫描输 出机构具有俘获所观察到的信号，并使之串行输出，从而简化电路的 隔离、速度、逻辑和微码隐错的能力。在大多数高端微处理器中扫描本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种设备，包括：系统电路，其适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号；扫描输出电路，其适于响应于所述数据输入信号和系统时钟信号生成第二输出信号；以及差错检测电路，其连接至所述系统电路和所述扫描输出电路，从 而响应于所述第一输出信号和所述第二输出信号之间的相对条件生成差错信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：M张，S米特拉，T马克，V齐亚，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]