下载可测试集成电路的技术资料

文档序号:2631312

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一种集成电路(1),包括具有时钟输出的内部时钟电路(12),用于为集成电路(1)的功能电路(10)提供时钟。所述集成电路配置有在测试期间使用的计数器电路(16)和状态保持电路(18)。将所述集成电路切换到测试模式,并且发送测试时间间隔开始的...
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