专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
NXP股份有限公司
>
可测试集成电路制造技术
>技术资料下载
下载可测试集成电路的技术资料
文档序号:2631312
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种集成电路(1),包括具有时钟输出的内部时钟电路(12),用于为集成电路(1)的功能电路(10)提供时钟。所述集成电路配置有在测试期间使用的计数器电路(16)和状态保持电路(18)。将所述集成电路切换到测试模式,并且发送测试时间间隔开始的...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。