本发明专利技术披露一种集成电路元件测试插座（Ｓｏｃｋｅｔ）、插座基板（ｓｏｃｋｅｔｂｏａｒｄ）、测试机（ｔｅｓｔｅｒ）及其制作方法，其中的测试插座包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并且在此凹陷部设有多个弹性接触端子。另外，定位导持承座，容设于该凹陷部，此定位导持承座具有中央开口，用以接受并导正待测的集成电路元件的方位，在此中央开口的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。而且，另有锁合元件与弹性保持元件，将定位导持承座限制于凹陷部活动。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种集成电路元件测试设备及其制作方法，尤其涉及其中 的集成电路元件测试插座者。
技术介绍
一般集成电路元件在进行终端测试(Final Test)时，集成电路元件的电 性接点或接脚需要与测试插座(Socket)中的探针做压合的动作。因此，测 试信号可通过探针传至测试台(Tester)而判读集成电路元件的好坏。公知所 使用的测试插座(Socket)，其探针嵌在插座基底而呈悬臂状，测试时，极 容易因集成电路元件置入测试插座时刮除集成电路元件脚位或焊点上的 焊锡而导致使用寿命(Life Time)与合格率(Yidd)下降以及探针损伤，同时， 因探针积蓄过多刮落的焊锡亦造成集成电路元件卡料现象。为了解决此问 题，己有技术TW447178披露了一种非悬臂式的弹簧探针(pogo pin)结构， TW539128中披露一种以弹簧探针为基础的测试插座，TW485243披露一 种以弹簧探针为基础的插座基板。前述的已有技术虽然改善了悬臂式探针 的不利，然而却仍未解决当集成电路元件放入测试插座时若方位偏差而造 成的探针损伤与卡料问题。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提供一种集成电路元件测试插座(Socket)， 包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并且在此凹陷部设有多个弹 性接触端子。另外，定位导持承座，容设于该凹陷部，此定位导持承座具 有中央开口，用以接受并导正待测的集成电路元件的方位，在此中央开口 的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。而且，另有锁合元件与弹性保持元件，将定位导持承座限制于凹陷部活动。因此，本专利技术的主要目的是提供一种集成电路元件测试插座，可导正 待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接 触端子的使用寿命。本专利技术的次要目的是提供一种集成电路元件测试插座，可有效增加测 试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。本专利技术的另一目的是提供一种插座基板，其设置有集成电路元件测试 插座，可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步 地增加弹性接触端子的使用寿命。本专利技术的另一 目的是提供一种插座基板，其设置有集成电路元件测试 插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。本专利技术的另 一 目的是提供一种集成电路元件测试机，其设置有集成电 路元件测试插座，可有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的 使用寿命。本专利技术的另一 目的是提供一种集成电路元件测试机，其设置有集成电 路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的 使用寿命。本专利技术的另一目的是提供一种集成电路元件测试插座的制作方法，此 集成电路元件测试插座可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮 锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。本专利技术的另一目的是提供一种集成电路元件测试插座的制作方法，集 成电路元件测试插座可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座 的使用寿命。附图说明图1是根据本专利技术所提出的第一实施例的一种集成电路元件测试插座 的示意图。图2A是根据本专利技术所提出的第二实施例的另一种集成电路元件测试 插座的示意图。图2B是根据本专利技术所提出的第二实施例的一种由至少一个导持元件 所组配而成的定位导持承座组成的示意图。图3是根据本专利技术所提出的第三实施例的另一种集成电路元件测试插 座的示意图。图4是根据本专利技术所提出的第四实施例的一种插座基板的示意图。图5是根据本专利技术所提出的第五实施例的一种集成电路元件测试机的 示意图。主要元件标记说明集成电路元件测试插座20、 30、40插座本体21、 31、41凹陷部211、 411弹性接触端子2111定位导持承座22、 32、42中央开口221、肩部222螺栓231螺孔232定位导持元件321端子孔2211锁合元件23、 33、43弹性保持元件24、 34、44定位导持承座组成32导持元件 321插座基板 500集成电路元件测试机 600分类机 601测试台 60具体实施例方式由于本专利技术主要披露一种集成电路元件测试插座，其中所利用的集成 电路元件测试基本原理，已为所属
的技术人员所能明了，故以下 文中的说明，不再作完整描述。同时，以下文中所对照的附图，是表达与 本专利技术特征有关的结构示意图，并未亦不需要依据实际尺寸完整绘制，盍 先叙明。首先请参照图1，本专利技术所提供的第一较佳实施例，为一种集成电路 元件测试插座20 ，主要包含有插座本体21、定位导持承座22、锁合元件 23和弹性保持元件24。插座本体21邻近中央部位形成有一凹陷部211， 凹陷部211内设有多个弹性接触端子2111，并且凹陷部211内可以容设此 定位导持承座22。定位导持承座22将受测的集成电路元件导正并予以适 当定位，以避免方位不正的集成电路元件损伤弹性接触端子2111或产生 错误的测试结果。定位导持承座22具有中央开口 221，用以接收集成电路 元件，在中央开口 221的底部形成有多个容许弹性接触端子2111穿出的 端子孔2211。另外，有锁合元件23和弹性保持元件24，可以将定位导持 承座22限制于凹陷部211活动。上述的实施例中，锁合元件23为多个螺栓231与插座本体21配合的 多个螺孔232，螺孔232可设于凹陷部211的底部，或设于邻近于凹陷部 211与插座本体21的交界处。锁合元件23锁合时，定位导持承座22并未 完全贴合于凹陷部211，其间设有适当的间隙，可容许定位导持承座22 有微量的位移。另外，在定位导持承座22上，也可设有多个通孔(图中未 示出)供螺栓231穿设后，锁合于插座本体21的螺孔232。为了使集成电路元件测试插座20的体积控制在某一设定的范围，不要过于庞大，定位 导持承座22可进一步凹设有肩部222供螺栓231头部抵靠之。上述的肩 部222可设置于设置于定位导持承座22的四边外墙处，或设置于通孔处 (图中未示出)。再者，在上述的实施例中，定位导持承座22的多个端子孔2211和多 个弹性接触端子2111之间设有适当的间隙，因此可容许弹性接触端子2111 在横向的微量位移，以保护端子。另外，在上述的实施例中，插座本体21的凹陷部211与定位导持承 座22呈近似的四边形，以将定位导持承座22收容于凹陷部211内。而定 位导持承座22的中央开口部221形状则可配合受测的集成电路元件的形 状而设计。另外，在上述的实施例中，多个弹性接触端子2111可视需要排列于 插座本体21凹陷部211的底部四边、底部两对边或底部两邻边，以利于 不同类型的集成电路元件的测试。相对地，在定位导持承座22的中央开 口部221，对应在插座本体21凹陷部211的底部四边、底部两对边或底部 两邻边的多个弹性接触端子2111，亦设有多个端子孔2211。此外，多个 弹性接触端子2111可选择弹簧探针为宜，与集成电路元件接触时，端子 两端可沿着轴向伸縮运动。上述的实施例中，弹性保持元件24容设于凹陷部211与定位导持承 座22之间，当受测的集成电路元件置入定位导持承座22内，可提供缓冲 作用避免弹性接触端子2111或集成电路元件因撞击而损坏，同时提供弹 性保持力，使定位导持承座22定位于适当的位置。弹性保持元件24可以 为多个螺旋弹簧、或橡胶本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种集成电路元件测试插座，其特征在于至少包含 插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部； 多个弹性接触端子，设于该凹陷部； 定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口以容置受测的集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许上述这些弹性接触端子穿出的端子孔；以及 至少一个锁合元件与至少一个弹性保持元件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱华正，温进光，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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