【技术实现步骤摘要】
本技术涉及X射线荧光全息、全息层析和荧光层析等
,特别是一种涉及X射线荧光全息层析成像装置。1.X射线荧光层析该方法是在1986年由Boisseau第一次提出,他提出利用同步辐射微束X射线,进行荧光层析就可以得到样品内部元素的三维分布情况。X射线荧光是用高能量X射线光子激发原子的内层电子使其跃迁到高能态,该激发电子再由高能态向低能态跃迁,发出荧光辐射。发射的荧光光束谱是受激发元素的特征谱线,其强度与该元素在样品中的含量成正比。因此,利用X射线荧光,对样品进行层析成像就可以得到样品的元素组成含量及其在样品内部的分布情况。实验研究表明,X射线荧光层析成像技术在获取生物组织、工业材料等物质中元素的组、分布信息方面是十分可行的。最近,X射线荧光层析技术已经能够分辨出10-9克的元素含量,其元素空间分布的分辨率达到微米量级。1999年,Tohoru Takeda M.D.等人在同步辐射装置上采用荧光X射线层析技术,研究了人体甲状腺中含碘的三维分布(参见在先技术,Tohoru Takeda M.D et al,Human Thyroid SpecimenImagi ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:高鸿奕,陈建文,谢红兰,徐至展,
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所,
类型:实用新型
国别省市:
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