测定元件的处理设备制造技术

一种测定元件的处理设备包括：许多测定元件的处理模块（１０，１３－１９）。一个输送系统（１１，１２）把测定元件输送到每个处理模块处，输送系统适于把测定元件从输送系统送到模块处，使得输送系统能够在第一个测定元件被处理模块作处理的同时输送另一个测定元件。一个控制系统控制着输送系统（１１，１２）的操作，使得可按预定顺序在各模块之间输送每个测定元件，并且使得可以同时在不同模块中处理许多测定元件。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及了一种测定元件的处理设备，例如用于处理基片形式的测定元件，在测定元件上放置了包含不同反应物质，例如不同抗体的一排局部反应点。在本文中，“测定”意味着一种物质的定量分析，来确定某些有价值或有效成分的比例，例如药品中的活性成分的比例。免疫测定法是利用抗体和抗原之间的免疫反应，来测量生物采样中一种物质(分析物)的存在的技术。在化学/兽医诊断或药品筛选方面，需要分析采样来确定某些分析物的存在。目前，已建议在诸如片状基板的相关反应点上，提供一组不同的抗体。把采样放置在基片上，在通过孵化和其它过程之后，检测一个化学发光过程来发现在每个点上是否存在适当的分析物。这在EP-A-0902394中作了较详细的描述。分析这种基片所存在的问题是过程太复杂，并且要求小心地处理基片，因而手动干预很重要。WO-A-93/23732描述了玻璃载片采样的自动染色设备，但这是一个组织化学的过程，与测定无关。按照本专利技术的一个方面，一种测定元件的处理设备包括许多测定元件的处理模块；一个包括测定元件定位组件的输送系统，用于把测定元件输送到每个处理模块处，测定元件定位组件适于把测定元件输送到每个模块处，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定元件的处理设备包括：许多测定元件的处理模块；一个包括测定元件定位组件的输送系统，用于把测定元件输送到每个处理模块处，测定元件定位组件适于把测定元件输送到每个模块处，在处理已送到的测定元件的同时，能够使测定元件定位组件输送另一个测定元件；以及一个控制输送系统操作的控制系统，使得可按预定顺序在各模块之间输送每个测定元件，并且使得可以同时在不同模块中处理许多测定元件。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：詹姆斯鲁道夫迈耶，阿蒂卡莱维坎萨纳霍，斯蒂芬彼得菲茨杰拉德，罗伯特伊凡麦康奈尔，约翰维克多拉蒙特，曹柏林，
申请(专利权)人：兰道克斯实验有限公司，
类型：发明
国别省市：GB[英国]