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一种测定元件的处理设备包括：许多测定元件的处理模块（１０，１３－１９）。一个输送系统（１１，１２）把测定元件输送到每个处理模块处，输送系统适于把测定元件从输送系统送到模块处，使得输送系统能够在第一个测定元件被处理模块作处理的同时输送另一个测...
该专利属于兰道克斯实验有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过兰道克斯实验有限公司授权不得商用。

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