本申请提供可以准确地向电子元器件载置部照射从光照射部照射的光的电子元器件传送装置及电子元器件检查装置。一种电子元器件传送装置，向载置电子元器件的电子元器件载置部传送电子元器件，该电子元器件传送装置具备：传送电子元器件的传送部；向电子元器件载置部照射光的光照射部；以及具有引导件的铅直方向移动机构部，该引导件支承光照射部并沿铅直方向引导光照射部。
Electronic Component Transfer Device and Electronic Component Inspection Device
【技术实现步骤摘要】
电子元器件传送装置及电子元器件检查装置
本专利技术涉及电子元器件传送装置及电子元器件检查装置。
技术介绍
在现有技术中，例如已知有进行诸如IC器件等电子元器件的电气检查的检查装置(例如，参照专利文献1)。在该专利文献1记载的检查装置中，构成为在对IC器件进行检查时，将IC器件传送至检查用插座，并载置于检查用插座来进行其检查。此外，在专利文献1记载的检查装置中，在进行对于IC器件的检查之前，判断在检查用插座上是否残留有IC器件，即判断有无IC器件。作为该判断的必要性，是因为例如假设在检查用插座上残留有IC器件时，存在之后要检查的IC器件与该残留器件重叠，无法获得准确的检查结果的担忧。此外，在专利文献1记载的检查装置中，在对检查用插座照射狭缝光的状态下，获得拍摄定时不同(IC器件传送前后)的两张图像，检测这两张图像的不同(图像差)，基于该检测结果来判断有无IC器件。专利文献1：日本专利特开2014-196908号公报但是，在专利文献1记载的检查装置中，需要调整照射狭缝光的激光光源的位置(特别是铅直方向的位置)、朝向，但在上述检查装置中，不能调整激光光源的位置等。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述技术问题而做出的，可作为以下方面来实现。本专利技术的电子元器件传送装置其特征在于，具备：传送部，传送电子元器件；能够配置载置所述电子元器件的电子元器件载置部的区域；光照射部，能够向所述电子元器件载置部照射光；以及铅直方向移动机构部，将所述光照射部支承为能够移动，使得所述光照射部在铅直方向上的位置发生变化。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部具有沿铅直方向引导所述光照射部的导轨。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部具有使所述光照射部的移动速度减速的减速器。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部具有移动调整部，该移动调整部在所述光照射部停止了移动时，调整所述光照射部在移动目的地的位置。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述光照射部具有照射激光的多个激光光源。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述光照射部为所述多个激光光源单元化而成的光源单元。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部构成为以使所述各激光光源能够独立移动的方式支承所述各激光光源。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部构成为以使所述各激光光源能够一起向同方向移动的方式支承所述各激光光源。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述各激光光源沿铅直方向配置，以越是位于上侧的所述激光光源、所述激光光源相对于铅直方向的角度越小的方式来使用所述各激光光源。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，具备以使所述光照射部能够转动的方式支承所述光照射部的转动机构部。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述转动机构部具有使所述光照射部的角速度减速的减速器。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述转动机构部具有转动调整部，该转动调整部在所述光照射部停止了转动时，调整所述光照射部在转动目的地的位置。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，所述光照射部具有照射激光的多个激光光源，所述转动机构部构成为以使所述各激光光源能够独立转动的方式支承所述各激光光源。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，具备以使所述光照射部能够沿水平方向移动的方式支承所述光照射部的水平方向移动机构部。优选地，在本专利技术的电子元器件传送装置中，具备对所述电子元器件载置部进行拍摄的摄像部。本专利技术的电子元器件检查装置其特征在于，具备：传送部，传送电子元器件；检查部，具有载置所述电子元器件的电子元器件载置部，能够对载置于所述电子元器件载置部的所述电子元器件进行检查；能够配置所述检查部的区域；光照射部，能够向所述电子元器件载置部照射光；以及铅直方向移动机构部，将所述光照射部支承为能够移动，使得所述光照射部在铅直方向上的位置发生变化。附图说明图1是从正面侧观察本专利技术的电子元器件检查装置的第一实施方式的概略立体图。图2是示出图1所示的电子元器件检查装置的动作状态的概略平面图。图3是图2中的检查区域内的放大平面图。图4是从图3中的箭头A方向观察到的局部截面图(一个例子)。图5是从图3中的箭头A方向观察到的局部截面图(一个例子)。图6是从图3中的箭头A方向观察到的局部截面图(一个例子)。图7是从图3中的箭头A方向观察到的局部截面图(一个例子)。图8是示出在配置于图3所示的检查区域内的检查部中未载置IC器件的状态的平面图。图9是从图8中的箭头B方向观察到的局部截面图。图10是示出在配置于图3所示的检查区域内的检查部中载置有IC器件的状态的平面图。图11是从图10中的箭头C方向观察到的局部截面图。图12是示出图1所示的电子元器件检查装置具备的铅直方向移动机构部的构造的局部横截面图。图13是示出图1所示的电子元器件检查装置具备的铅直方向移动机构部的构造的局部横截面图。图14是示出图1所示的电子元器件检查装置具备的转动机构部的构造的局部纵截面图。图15是示出图1所示的电子元器件检查装置具备的转动机构部的构造的局部纵截面图。图16是从正面侧观察本专利技术的电子元器件检查装置(第二实施方式)的检查区域内的局部截面图。图17是从正面侧观察本专利技术的电子元器件检查装置(第三实施方式)的检查区域内的图。图18是本专利技术的电子元器件检查装置(第四实施方式)的检查区域内的放大平面图。图19是示出本专利技术的电子元器件检查装置(第五实施方式)具备的光照射部的构造的纵截面图。图20是本专利技术的电子元器件检查装置(第五实施方式)的检查区域内的放大平面图。图21是本专利技术的电子元器件检查装置(第五实施方式)的检查区域内的放大平面图。图22是本专利技术的电子元器件检查装置(第五实施方式)的检查区域内的放大平面图。附图标记说明1电子元器件检查装置；10电子元器件传送装置；11A托盘传送机构；11B托盘传送机构；12温度调整部；13器件传送头；14器件供给部；14A器件供给部；14B器件供给部；15托盘传送机构；16检查部；16A检查部；16B检查部；16C检查部；16D检查部；161凹部(袋形部)；161A凹部；161B凹部；161C凹部；162底面；17器件传送头；17A器件传送头；17B器件传送头；171把持部；18器件回收部；18A器件回收部；18B器件回收部；19回收用托盘；20器件传送头；21托盘传送机构；22A托盘传送机构；22B托盘传送机构；231第一间隔壁；232第二间隔壁；233第三间隔壁；234第四间隔壁；235第五间隔壁；241前盖；242侧盖；243侧盖；244后盖；245顶盖；25传送部；26电子元器件载置部；27盖部件；3残留检测单元；4光照射部；40光源单元；41激光光源；41A激光光源；41B激光光源；41C激光光源；411发光元件；412准直透镜；413支承部件；414棒形透镜；415壳体；5摄像部；51照相机；6铅直方向移动机构部；61导轨；62滑块；621第一部位；622第二部位；623第三部位；624阴螺纹部；63移动调整部；64限位器；641内侧部(制动部)；642外侧部；643连结部；644贯通本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电子元器件传送装置，其特征在于，向载置电子元器件的电子元器件载置部传送所述电子元器件，所述电子元器件传送装置具备：传送部，传送所述电子元器件；光照射部，向所述电子元器件载置部照射光；以及铅直方向移动机构部，具有引导件，所述引导件支承所述光照射部并沿铅直方向引导所述光照射部。
【技术特征摘要】
2018.01.25 JP 2018-0108551.一种电子元器件传送装置，其特征在于，向载置电子元器件的电子元器件载置部传送所述电子元器件，所述电子元器件传送装置具备：传送部，传送所述电子元器件；光照射部，向所述电子元器件载置部照射光；以及铅直方向移动机构部，具有引导件，所述引导件支承所述光照射部并沿铅直方向引导所述光照射部。2.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述铅直方向移动机构部具有使所述光照射部的移动速度减速的减速器。3.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述铅直方向移动机构部具有调整所述光照射部的位置的移动调整部。4.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述光照射部具有：第一激光光源，沿第一光轴照射激光；以及第二激光光源，沿第二光轴照射激光。5.根据权利要求4所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述光照射部具有支承所述第一激光光源和所述第二激光光源的支承部。6.根据权利要求4所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述铅直方向移动机构部具有：第一支承部，支承所述第一激光光源；以及第二支承部，支承所述第二激光光源。7.根据权利要求4所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述第一激光光源和所述第二激光光源沿铅直方向配置，在将沿铅直方向延伸的直线设为铅直线时，所述第二激光光源的所述第二光轴与所述铅直线的角度小于所述第一激光光源的所述第一光轴与所述铅直线的角度。8.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述电子元器件传送装置具备使所述光照射部转动的转动机构部。9.根据权利要求8所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述转动机构部具有使所述光照射部的角速度减速的减速器。10.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述光照射部具有：第一激光光源，沿第一光轴照射激光；以及第二激光光源，沿第二光轴照射激光，所述电子元器件传送装置具备：第一转动机构部，使所述第一激光光源转动；以及第二转动机构部，使所述第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：石田大辅，沟口安志，若林修一，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP
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