一种芯片动态电流测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片动态电流测试系统，解决了现有测试方式的精确性、效率及成本无法兼具的问题，其技术方案要点是，包括辅助控制模块、工作电源VCC、带有电流监测模块的测试电源VTEST和多组切换开关模块；每组切换开关模块对应连接于单块待测芯片的电源输入管脚并受控于辅助控制模块将待测芯片的电源输入管脚在工作电源VCC与测试电源VTEST之间切换，本发明专利技术的一种芯片动态电流测试系统，通过多个切换开关模块可以将带有电流监测模块的测试电源VTEST方便地在多块待测芯片间切换，以提高电流监测模块的利用率，简化电路设计，降低测试设备成本；同时电流监测模块可根据测试需要随时接入或者切出电路，不需要测量时再将电流监测模块摘除，可以降低系统功耗。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片动态电流测试系统
本专利技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片动态电流测试系统。
技术介绍
芯片(如存储芯片、闪存芯片等)在生产过程中，由于制程自身缺陷，会出现一些不良品，在芯片生产测试中会采用对芯片工作时候动态电流的测试分析(即将串联有电流表的测试电源连接至待测芯片的电源输入管脚，通过软件对待测芯片进行擦除、读、写等操作，电流表记录下各种操作过程中测试电源供给待测芯片的电流，并将测试结果实时输出给测试上位主机，上位主机将测试到的结果与预置的各个工作状态的电流比较，从而判断该芯片电流是否超出范围，如果超出，则判定为该芯片不良)，来挑出硬件不良品。传统测试方法主要包括如下几种，并分别存在有不同缺陷：传统测试方法1：将多块芯片直接接在同一块电流表上，这种方法的优点是可以同时测量多块芯片的总电流，效率高，但缺点是无法精准测量到每块芯片的电流，可能漏过不良品。传统测试方法2：每次只测试一块芯片，测试完成后换另外一块，这种方法的优点是能精准测量到每块芯片的工作电流，但缺点也显而易见，就是效率低下。传统测试方法3：同时使用多块电流表，对多块芯片并行测试。这种方法的好处是效率极高，但缺点也很明显，就是多块电流表导致测试机成本居高不下。因此现有的芯片动态电流测试方法还存在一定的改进空间。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种芯片动态电流测试系统，既能单独测试每块芯片的动态电流，以精确定位出故障芯片；又能将电流表在多块待测芯片间切换，从而提高电流表的利用率以及测试效率，同时简化电路设计，降低测试设备成本。本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种芯片动态电流测试系统，包括一辅助控制模块、一工作电源VCC、一带有电流监测模块的测试电源VTEST和多组切换开关模块；每组切换开关模块一一对应连接于单块待测芯片的电源输入管脚并受控于辅助控制模块将待测芯片的电源输入管脚在工作电源VCC与测试电源VTEST之间切换；所述辅助控制模块单次控制一块待测芯片上的切换开关模块平滑切换至测试电源VTEST，以使该待测芯片的电源输入管脚断开工作电源VCC并平滑接入测试电源VTEST，从而使该芯片进入测试状态，同时控制其它待测芯片上的切换开关模块平滑切换至工作电源VCC；当前芯片测试结束后，所述辅助控制模块将当前测试芯片的切换开关模块平滑切换至工作电源VCC，以使该测试芯片的电源输入管脚断开测试电源VTEST并平滑接入工作电源VCC；然后辅助控制模块控制下一块待测芯片上的切换开关模块平滑切换至测试电源VTEST，并重复上述步骤，直至所有待测芯片完成测试。采用上述方案，通过多个切换开关模块可以将带有电流监测模块的测试电源VTEST方便地在多块待测芯片间切换，以提高电流监测模块的利用率，简化电路设计，降低测试设备成本；同时电流监测模块可根据测试需要随时接入或者切出电路，不需要测量时再将电流监测模块摘除，可以降低系统功耗；另外，每块芯片能够单独测试，以准确定位出故障芯片，从而提高测试精度；并且多块芯片可一次装载，减少了装载时间，提高了测试效率。作为优选，所述电流监测模块电连接于辅助控制模块并将测得的电流数据传送至辅助控制模块；所述辅助控制模块内预置有基准电流值；当待测芯片进入测试状态后，所述辅助控制模块用于接收电流监测模块测得的电流数据，并将该电流数据对应的实际电流值与内置的基准电流值进行比较；若测得的实际电流值超出基准电流值，所述辅助控制模块判断当前测试芯片不合格；反之，所述辅助控制模块判断当前测试芯片合格。采用上述方案，辅助控制模块能通过测试芯片工作时的工作电流是否超出范围，来判断该芯片是否为良品。作为优选，于同一待测芯片上的切换开关模块设有多组，多组切换开关模块一一连接于对应待测芯片上的多个电源输入管脚；工作电源VCC、带有电流监测模块的测试电源VTEST也均设置有多组；每组切换开关模块与每组工作电源VCC以及带有电流监测模块的测试电源VTEST一一对应。采用上述方案，一般芯片的供电电源都不止一组，比如存储芯片，就会用到1.8V和3.3V两组电源；通过设置多组切换开关模块以及工作电源VCC、带有电流监测模块的测试电源VTEST，能够有效适配待测芯片存在多组供电电源(即电源输入管脚)的情况，并且位于同一待测芯片上的所有切换开关模块能够同步进行切换动作，以使对应芯片上的所有电源输入管脚能够同步在对应组别的工作电源VCC、带有电流监测模块的测试电源VTEST之间切换，以使待测芯片能够顺利进入测试状态或者正常工作状态。作为优选，每组切换开关模块包括两个场效应管开关电路，两个场效应管开关电路的输入端分别耦接于工作电源VCC和测试电源VTEST，两者的输出端共同耦接于同一待测芯片的同一电源输入管脚，且两者的控制端均耦接于辅助控制模块的输出端以分别接收由辅助控制模块发送的具有相反逻辑的控制信号；两个场效应管开关电路根据其控制端各自接收的呈相反逻辑的控制信号同步进行相反状态的通断，以使工作电源VCC和测试电源VTEST两者中的一个接入待测芯片的电源输入管脚。采用上述方案，多块待测芯片在测试过程中全都接在同一条总线上，总线上的芯片必须同时上电，否则未上电的芯片就会出现不确定态，导致总线锁死，使得测试工作无法进行；通过向每组切换开关模块中两个场效应管开关电路的控制端分别同时输入具有相反逻辑的控制信号，能够使两个场效应管开关电路同步进行相反状态的通断(即一通一断)，使得待测芯片能够接入工作电源VCC或者测试电源VTEST，以使待测芯片进入或者离开测试状态，并使芯片始终保持上电状态；由于开关切换存在延迟，在快速切换过程中会出现同时关闭的状态，续流二极管的存在可以保证工作电源VCC对待测芯片保持持续的工作电压，避免两个场效应管开关电路同时关闭。作为优选，于其中一个场效应管开关电路的控制端和辅助控制模块的输出端之间还耦接有倒相电路。采用上述方案，同一逻辑信号在经过倒相电路电路后，能够呈现相反的逻辑，这样设置，便能用一个信号同时控制两个场效应管开关电路以相反的逻辑顺序动作，即始终保持一通一断状态，从而实现单刀双掷功能，且在动作过程中不会造成待测芯片断电；同时又能简化电路结构，提升电路运行效率。综上所述，本专利技术具有以下有益效果：通过多个切换开关模块可以将带有电流监测模块的测试电源VTEST方便地在多块待测芯片间切换，以提高电流监测模块的利用率，简化电路设计，降低测试设备成本；同时电流监测模块可根据测试需要随时接入或者切出电路，不需要测量时再将电流监测模块摘除，可以降低系统功耗；另外，每块芯片能够单独测试，以准确定位出故障芯片，从而提高测试精度；并且多块芯片可一次装载，减少了装载时间，提高了测试效率。附图说明图1为本实施例的系统架构图；图2为本实施例的电路示意图。图中：1、辅助控制模块；2、电流监测模块；3、切换开关模块；4、倒相电路；5、主控制模块；6、待测芯片；7、总线。具体实施方式以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明。本实施例公开的一种芯片动态电流测试系统，如图1所示，包括一辅助控制模块1、一工作电源VCC、一带有电流监测模块2的测试电源VTEST和多组切换开关模块3。其中，辅助控制模块1为具有数据处理能力的芯片，包括但不限于单片机、CPU、MC本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片动态电流测试系统，其特征是：包括一辅助控制模块(1)、一工作电源VCC、一带有电流监测模块(2)的测试电源VTEST和多组切换开关模块(3)；每组切换开关模块(3)一一对应连接于单块待测芯片(6)的电源输入管脚并受控于辅助控制模块(1)将待测芯片(6)的电源输入管脚在工作电源VCC与测试电源VTEST之间切换；所述辅助控制模块(1)单次控制一块待测芯片(6)上的切换开关模块(3)平滑切换至测试电源VTEST，以使该待测芯片(6)的电源输入管脚断开工作电源VCC并平滑接入测试电源VTEST，从而使该芯片进入测试状态，同时控制其它待测芯片(6)上的切换开关模块(3)平滑切换至工作电源VCC；当前芯片测试结束后，所述辅助控制模块(1)将当前测试芯片的切换开关模块(3)平滑切换至工作电源VCC，以使该测试芯片的电源输入管脚断开测试电源VTEST并平滑接入工作电源VCC；然后辅助控制模块(1)控制下一块待测芯片(6)上的切换开关模块(3)平滑切换至测试电源VTEST，并重复上述步骤，直至所有待测芯片(6)完成测试。

【技术特征摘要】
1.一种芯片动态电流测试系统，其特征是：包括一辅助控制模块(1)、一工作电源VCC、一带有电流监测模块(2)的测试电源VTEST和多组切换开关模块(3)；每组切换开关模块(3)一一对应连接于单块待测芯片(6)的电源输入管脚并受控于辅助控制模块(1)将待测芯片(6)的电源输入管脚在工作电源VCC与测试电源VTEST之间切换；所述辅助控制模块(1)单次控制一块待测芯片(6)上的切换开关模块(3)平滑切换至测试电源VTEST，以使该待测芯片(6)的电源输入管脚断开工作电源VCC并平滑接入测试电源VTEST，从而使该芯片进入测试状态，同时控制其它待测芯片(6)上的切换开关模块(3)平滑切换至工作电源VCC；当前芯片测试结束后，所述辅助控制模块(1)将当前测试芯片的切换开关模块(3)平滑切换至工作电源VCC，以使该测试芯片的电源输入管脚断开测试电源VTEST并平滑接入工作电源VCC；然后辅助控制模块(1)控制下一块待测芯片(6)上的切换开关模块(3)平滑切换至测试电源VTEST，并重复上述步骤，直至所有待测芯片(6)完成测试。2.根据权利要求1所述的一种芯片动态电流测试系统，其特征是：所述电流监测模块(2)电连接于辅助控制模块(1)并将测得的电流数据传送至辅助控制模块(1)；所述辅助控制模块(1)内预置有基准电流值；当待测芯片(6)进入测试状态后，所述辅助控制模块(1)用于接收电流监测模块(2)测得的电流数据，...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡兴微，白光奎，
申请(专利权)人：马鞍山创久科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34