本发明专利技术公开一种处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片。所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道，所述方法包括：通过模数转换器接口获取采样信号；检测采样信号的采样电压，得到采样电压值；计算采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值；若预参考电压值未达到处理器芯片的供电电压，确定预参考电压值为参考电压值，否则，确定处理器芯片的供电电压为参考电压值；通过数模转换器接口向模数转换器采样通道输出电压值为参考电压值的模拟电压。本发明专利技术提供的技术方案，能够避免当采样信号的电压最大值比电源芯片的供电电压小很多时造成的采样精度比较低的问题。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片。
技术介绍
处理器芯片的采样电压，是指处理器芯片采样模块的采样电压(即输入电压)。目前的技术中，处理器芯片的采样模块是用处理器芯片的电源作为参考电源，如图1所示，电源芯片为处理器芯片供电，处理器芯片采样模块的参考电源便是电源芯片，因此，处理器芯片的采样电压便是电源芯片的供电电压，是一个固定的电压值。即与模数转换器接口相连接的模数转换器采样通道的参考电源(包括高电平VrefH和低电平VrefL)为电源芯片，假设电源芯片的供电电压为3.3V，则VerfH为3.3V，VrefL为0V，(处理器芯片以DSP芯片TMS320F28377为例)采样精度为12位，分辨率为212＝4096，当采样信号的电压Vin的最大值比电源芯片的供电电压小很多时，比如采样信号的电压Vin的变化范围为(0～1)V时，根据公式：寄存器值＝[Vin/(VrefH-VrefL)]*212，寄存器里面对应的数值范围为0-1241，数值范围较小，从而采样精度比较低。也就是说，目前的技术中，当采样信号的电压最大值比电源芯片的供电电压小很多时，采样信号在0到最大值之间变化时，寄存器里面对应的数值范围比较小，导致采样精度也相对比较低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片，能够根据采样信号的采样电压相应地调整模数转换器采样通道的参考电源的大小，避免当采样信号的电压最大值比电源芯片的供电电压小很多时造成的采样精度相对比较低的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种处理器芯片的采样电压调节方法，所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道，所述方法包括：通过所述模数转换器接口获取采样信号；检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1；若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值；通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。优选的，上述所述的处理器芯片的采样电压调节方法，所述模数转换器采样通道的高电平为所述模拟电压，所述模数转换器采样通道的低电平为0伏。优选的，上述任一个所述的处理器芯片的采样电压调节方法，所述预设倍数等于2。一种处理器芯片的采样电压调节装置，所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道，所述装置包括：获取模块，用于通过所述模数转换器接口获取采样信号；检测模块，用于检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；计算模块，用于计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1；确定模块，用于若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值；供电模块，用于通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。优选的，上述所述的处理器芯片的采样电压调节装置，所述模数转换器采样通道的高电平为所述模拟电压，所述模数转换器采样通道的低电平为0伏。优选的，上述任一个所述的处理器芯片的采样电压调节装置，所述预设倍数等于2。一种处理器芯片，包括：模数转换器接口；数模转换器接口；与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道；以及与所述模数转换器接口、所述数模转换器接口、所述模数转换器采样通道分别相连接的控制单元；所述控制单元用于：通过所述模数转换器接口获取采样信号，检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值，计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1，若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值，通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。优选的，上述所述的处理器芯片，所述模数转换器采样通道的高电平为所述模拟电压，所述模数转换器采样通道的低电平为0伏。优选的，上述任一个所述的处理器芯片，所述预设倍数等于2。经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本专利技术提供了一种处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片，所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道。本专利技术提供的技术方案，首先通过所述模数转换器接口获取采样信号，然后检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值，计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1，若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值，通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。也就是说，若所述采样电压值比所述处理器芯片的供电电压小很多时，计算得到的所述预参考电压值若未达到(一般达不到)所述处理器芯片的供电电压，则确定所述预参考电压值为参考电压值，以所述参考电压值作为所述模数转换器采样通道的参考电源，由计算寄存器值的公式可以确定，寄存器的值将变大，即寄存器里面对应的数值范围将变大，从而能够提高采样精度。因此，本专利技术提供的技术方案，能够根据采样信号的采样电压相应地调整所述模数转换器采样通道的参考电源(即所述模拟电压)的大小，避免当采样信号的电压最大值比电源芯片的供电电压小很多时造成的采样精度相对比较低的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为现有技术中处理器芯片的采样模块的供电结构图；图2为本专利技术实施例提供的一种处理器芯片的采样电压调节方法的流程图；...
【技术保护点】
一种处理器芯片的采样电压调节方法，其特征在于，所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道，所述方法包括：通过所述模数转换器接口获取采样信号；检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1；若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值；通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。
【技术特征摘要】
1.一种处理器芯片的采样电压调节方法，其特征在于，所述处理器芯片
包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模
数转换器采样通道，所述方法包括：
通过所述模数转换器接口获取采样信号；
检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；
计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设
倍数大于或等于1；
若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参
考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考
电压值；
通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述
参考电压值的模拟电压。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模数转换器采样通道
的高电平为所述模拟电压，所述模数转换器采样通道的低电平为0伏。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述预设倍数等于2。
4.一种处理器芯片的采样电压调节装置，其特征在于，所述处理器芯片
包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模
数转换器采样通道，所述装置包括：
获取模块，用于通过所述模数转换器接口获取采样信号；
检测模块，用于检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；
计算模块，用于计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电
压值，所述预设倍数大于或等于1；
确定模块，用于若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，
确定所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘亚祥，区均灌，刘文龙，程海珍，经琦，贾卫东，张东盛，
申请(专利权)人：珠海格力节能环保制冷技术研究中心有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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