用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置，包括缓存控制器（1）、测试插座（2）、存储模块（3）、通信接口（4）和用于实现多个信号采样缓存装置之间级联连接的级联插座模块，缓存控制器（1）分别与测试插座（2）、存储模块（3）、通信接口（4）相连，级联插座模块包括分别用于在级联工作状态时连接上一级信号采样缓存装置或者下一级信号采样缓存装置的第一级联插座（5）和第二级联插座（6），第一级联插座（5）、第二级联插座（6）分别与缓存控制器（1）相连。本发明专利技术具有无需FPGA片内RAM资源、存储空间利用率高、信号采样时间跨度大、多信号采样能力强、使用方式灵活的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及FPGA应用中逻辑debug (调试)领域，具体涉及一种用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置。
技术介绍
FPGA作为一种可重复编程的逻辑阵列芯片，广泛应用于原型验证系统和批量产品的设计中。用户逻辑通过FPGA厂商提供的设计工具经过逻辑综合、资源映射和布局布线过程产生相应的位流，将位流导入FPGA芯片后就可以执行特定的应用。由于FPGA芯片应用灵活、可重复编程的优点，利用FPGA芯片进行原型系统设计成为大多数ASIC投片之前进行逻辑验证的重要手段。FPGA芯片与ASIC芯片一样面临着内部信号观察难、不利于逻辑debug的问题。针对这个普遍的逻辑debug困难的问题，FPGA厂商分别提供了不同的解决方法。Xilinx公司提供了一种称为ChipScope的调试工具。这种工具借用芯片位流加载的JTAG下载电缆将调试终端与芯片内映射的信号观察IP交互，实现了一个简化的FPGA内部信号观测的逻辑分析仪功能。ChipScope利用FPGA芯片内用户逻辑未使用的BlockRAM资源作为被扑捉信号的存储部件，可以根据用户的需要调整扑捉深度和宽度以及触发条件。Altera公司也提供了本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置，其特征在于：包括缓存控制器（1）、测试插座（2）、存储模块（3）、通信接口（4）和用于实现多个信号采样缓存装置之间级联连接的级联插座模块，所述缓存控制器（1）分别与测试插座（2）、存储模块（3）、通信接口（4）相连，所述级联插座模块包括分别用于在级联工作状态时连接上一级信号采样缓存装置或者下一级信号采样缓存装置的第一级联插座（5）和第二级联插座（6），所述第一级联插座（5）、第二级联插座（6）分别与缓存控制器（1）相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张峻，齐星云，王桂彬，常俊胜，张建民，罗章，徐金波，董德尊，赖明澈，陆平静，王绍刚，徐炜遐，肖立权，庞征斌，王克非，夏军，童元满，陈虎，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：