多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术涉及一种多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器电性连接，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器形成各自的扫描链，控制器分别进行各自扫描链预设值的取得并生成差分测试数据，再推送差分测试数据至各自的扫描链以进行差分测试，借此可以达成提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的技术功效。

【技术实现步骤摘要】
多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法
本专利技术涉及一种测试系统及其方法，尤其是指一种提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的系统及其方法。
技术介绍
现有对于电路板上中央处理单元彼此之间的差分测试，仅能提供在单一电路板上进行，若是电路板彼此之间通过超级通道互连连接器相互连接，不同电路板彼此之间的中央处理单元并无法进行差分测试。综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此问题。
技术实现思路
鉴于现有技术存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，本专利技术遂说明一种多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法，其中：本专利技术所说明的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板、至少一次级电路板以及控制器。主电路板具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，UPI)连接器以及第一控制器连接器，每一个第一中央处理单元与第一超级通道互连连接器其中之一电性连接。至少一次级电路板具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器，每一个第二中央处理单元与第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器对应插接于第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的第二超级通道互连连接器形成扫描链。控制器通过第一控制器连接器与主电路板形成电性连接，控制器通过第二控制器连接器与次级电路板形成电性连接，控制器用以执行下列步骤：控制器分别取得扫描链的预设值(default)；控制器依据扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；控制器通过第二控制器连接器推送差分测试数据至第二中央处理单元以由扫描链推送至第一中央处理单元进行差分测试，以通过第一控制器连接器从第一中央处理单元接收结果数据；及控制器依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果。本专利技术所说明的多电路板的中央处理单元差分测试方法，其包含下列步骤：首先，提供具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，UPI)连接器以及第一控制器连接器的主电路板，每一个第一中央处理单元与第一超级通道互连连接器其中之一电性连接；接着，提供具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器的至少一次级电路板，每一个第二中央处理单元与第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器对应插接于第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的第二超级通道互连连接器形成扫描链；接着，提供控制器，控制器通过第一控制器连接器与主电路板形成电性连接，控制器通过第二控制器连接器与次级电路板形成电性连接；接着，控制器分别取得扫描链的预设值(default)；接着，控制器依据扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；接着，控制器通过第二控制器连接器推送差分测试数据至第二中央处理单元以由扫描链推送至第一中央处理单元进行差分测试，以通过第一控制器连接器从第一中央处理单元接收结果数据；最后，控制器依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果。本专利技术所说明的系统及方法如上，与现有技术之间的差异在于主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器电性连接，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器形成各自的扫描链，控制器分别进行各自扫描链预设值的取得并生成差分测试数据，再推送差分测试数据至各自的扫描链以进行差分测试。通过上述的技术手段，本专利技术可以达成提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的技术功效。附图说明图1示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试系统的系统方框图。图2A以及图2B示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试方法的方法流程图。图3A至图3D示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试方法的详细流程图。图4示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试的系统架构示意图。【附图标记列表】10主电路板11第一中央处理单元12第一超级通道互连连接器13第一控制器连接器20次级电路板21第二中央处理单元22第二超级通道互连连接器23第二控制器连接器30控制器41第一扫描链42第二扫描链主电路板次级电路板主电路板次级电路板具体实施方式以下将配合图式及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，借此对本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。接着，以下将以一个实施例来说明本专利技术实施例的操作系统与方法，并请同时参考图1、图2A、图2B、图3A至图3D以及图4所示，图1示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试系统的系统方框图；图2A以及图2B示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试方法的方法流程图；图3A至图3D示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试方法的详细流程图；图4示出了本专利技术多电路板的中央处理单元差分测试的系统架构示意图。本专利技术所说明的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板10、至少一次级电路板20以及控制器30。主电路板10具有至少一第一中央处理单元11、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，UPI)连接器12以及第一控制器连接器13，每一个第一中央处理单元11与第一超级通道互连连接器12其中之一电性连接(步骤110)，在图4中主电路板10具有两个第一中央处理单元11以及两个第一超级通道互连连接器12，并且两个第一中央处理单元11与相同的第一超级通道互连连接器12电性连接，在此仅为示意说明，并不以此局限本专利技术的应用范畴。至少一次级电路板20具有至少一第二中央处理单元21、至少一第二超级通道互连连接器22以及第二控制器连接器23，每一个第二中央处理单元21与第二超级通道互连连接器22其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器22对应插接于第一超级通道互连连接器12，每一个第一中央处理单元11通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器12以及每一个第二中央处理单元21通过相互电性连接的第二超级通道22互连连接器形成扫描链(步骤120)。在图4中具有一个次级电路板20，且次级电路板20具有两个第二中央处理单元21以及两个第二超级通道互连连接器22，并且两个第二中央处理单元21分别与不相同的第二超级通道互连连接器22电性连接，且两个第二超级通道互连连接器22与两个第一超级通道互连连接器12分别形成电性连接，借以分别形成第一扫描链41以及第二扫描链42，在此仅为示意说明，并不以此局限本专利技术的应用范畴。控制器30通过第一控制器连接器13与主电路板10形成电性连接，控制器30通过第二控制器连接器23与次级电路板20形成电性连接(步骤130)，控制器30分别取得第一扫描链41以及第二扫描链42的预设值(default)(步骤140)，其过程如下：控制器30是通过第二控制器连接器23以边界扫描(boundaryscan)技术推送取样(SAMPLE)指令至第一扫描链本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板，所述主电路板具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连连接器以及第一控制器连接器，每一个第一中央处理单元与所述第一超级通道互连连接器其中之一电性连接；至少一次级电路板，所述次级电路板具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器，每一个第二中央处理单元与所述第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，所述第二超级通道互连连接器对应插接于所述第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的所述第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的所述第二超级通道互连连接器形成扫描链；以及控制器，所述控制器通过所述第一控制器连接器与所述主电路板形成电性连接，所述控制器通过所述第二控制器连接器与所述次级电路板形成电性连接，所述控制器用以执行下列步骤：所述控制器分别取得所述扫描链的预设值；所述控制器依据所述扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；所述控制器通过所述第二控制器连接器推送所述差分测试数据至所述第二中央处理单元以由所述扫描链推送至所述第一中央处理单元进行差分测试，以通过所述第一控制器连接器从所述第一中央处理单元接收结果数据；以及所述控制器依据所述差分测试数据与所述结果数据判断差分测试结果。...

【技术特征摘要】
1.一种多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板，所述主电路板具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连连接器以及第一控制器连接器，每一个第一中央处理单元与所述第一超级通道互连连接器其中之一电性连接；至少一次级电路板，所述次级电路板具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器，每一个第二中央处理单元与所述第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，所述第二超级通道互连连接器对应插接于所述第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的所述第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的所述第二超级通道互连连接器形成扫描链；以及控制器，所述控制器通过所述第一控制器连接器与所述主电路板形成电性连接，所述控制器通过所述第二控制器连接器与所述次级电路板形成电性连接，所述控制器用以执行下列步骤：所述控制器分别取得所述扫描链的预设值；所述控制器依据所述扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；所述控制器通过所述第二控制器连接器推送所述差分测试数据至所述第二中央处理单元以由所述扫描链推送至所述第一中央处理单元进行差分测试，以通过所述第一控制器连接器从所述第一中央处理单元接收结果数据；以及所述控制器依据所述差分测试数据与所述结果数据判断差分测试结果。2.如权利要求1所述的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其特征在于，所述控制器分别取得所述第一扫描链以及所述第二扫描链的预设值还包含执行下列步骤：所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送取样指令至所述扫描链以通过所述第一控制器连接器获得所述扫描链的初始数值；所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送所述扫描链的初始数值至所述扫描链；所述控制器再次通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送所述扫描链的初始数值至所述扫描链；所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送EXTEST指令至所述扫描链；所述控制器再次通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送所述扫描链的初始数值至所述扫描链；所述控制器储存所述扫描链的初始数值为预设值；所述控制器通过所述第一控制器连接器获得结果值；所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送所述结果值至所述扫描链；所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送EXTEST_PULSE指令至所述扫描链；所述控制器再次通过所述第一控制器连接器获得所述结果值；以及所述控制器再次通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送所述结果值至所述扫描链，并回到上一个步骤，并重复N次为止，其中N为正整数。3.如权利要求1所述的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其特征在于，所述控制器通过所述第二控制器连接器推送所述差分测试数据至所述第二中央处理单元以通过所述扫描链推送至所述第一中央处理单元进行差分测试，以通过所述第一控制器连接器自所述第一中央处理单元接收所述结果数据更包含执行下列步骤：所述控制器通过所述第二控制器连接器再次推送所述差分测试数据至所述第二中央处理单元以通过所述扫描链推送至所述第一中央处理单元；以及所述控制器通过所述第一控制器连接器自所述第一中央处理单元读取并储存所述扫描链的差分测试结果。4.如权利要求1所述的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其特征在于，所述控制器还包含执行恢复所述扫描链初始状态的步骤。5.如权利要求4所述的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其特征在于，所述控制器执行恢复所述扫描链初始状态的步骤还包含下列步骤：所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送EXTEST指令至所述扫描链；以及所述控制器通过所述第二控制器连接器以边界扫描技术推送所述扫描链...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡幸，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31