靶核苷酸序列的检测方法、检测靶结构及制法以及试剂盒技术

本发明专利技术提供对检测靶核苷酸序列有用的检测靶结构的制造方法。提供由靶核酸（１）制造检测靶结构的方法。靶核酸（１）在其一部分含有靶核苷酸序列２（图１Ａ）。按照本发明专利技术的方法，可以制造靶核酸（１）的靶核苷酸序列２以外的部分可形成双链，使用引物进行核酸的延伸的检测靶结构４（图１Ｂ）。还给出了通过本发明专利技术制造的检测用靶结构、使用该靶结构的靶核苷酸序列检测方法、检测靶结构制造用试剂盒、以及靶核苷酸序列检测用分析试剂盒。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种为了检测靶核苷酸序列的有用的检测靶结构的制造方法：是包括在可获得适当延伸反应的条件下，使与位于靶核酸的５’端附近的靶核苷酸序列３’端以外的３’侧的序列互补、而且在３’末端含有不可延伸的修饰的终止核酸，与靶核酸的３’端附近的序列互补的引物，具有核苷酸延伸活性的酶和上述靶核酸反应，通过该反应，获得含有单链核酸部分和双链核酸部分，在上述单链核酸部分中含有靶核苷酸序列，在上述双链核酸部分中至少含有除去靶核苷酸序列的区域的靶核酸和与其互补的链的检测靶结构的方法。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：堀内秀纪，桥本幸二，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[]