The utility model discloses a chip testing device comprises a test socket and a control box; the test socket comprises a chip test base and chip test cover, chip test cover comprises a housing and a knob, a knob is arranged on the lower end of the first contact point, the housing is provided with second contact points corresponding to the first contact point, and the first point of contact second contact point contact, trigger control box start; control box is provided with a microcontroller, relay and PC, SCM is connected with the relay, the relay control for closed, connected with the host computer is used to start the electric relay, PC. Compared with the test process of the chip in the existing technology, the chip test device of the utility mode omits the process of manually clicking the host computer mouse to trigger the start button of the test program. After the chip is placed, the test is automatically realized. In the test operation of large scale chips, it is helpful to improve the efficiency of work and production, and it is very practical.
【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试装置
本技术涉及芯片测试
,特别是指一种芯片测试装置。
技术介绍
随着科学技术的发展,电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后,需要对芯片的合理性进行检测,以此来挑选出不合格的芯片,而保留合格的芯片。随着集成电路规模的增大,简化目前芯片的测试过程能够极大的提高生产效率。目前,基于现有的芯片的测试过程是先将待测芯片安装在测试板的测试插座上,然后拧紧旋钮,最后鼠标点击上位机测试程序的开始按钮,开始一次测试。此过程相对繁琐,极大影响生产效率。
技术实现思路
有鉴于此,本技术的目的在于提出一种芯片测试装置,该装置可以简化目前芯片的测试过程,先将待测芯片安装在测试板的测试插座上,在拧紧插座旋钮的同时即可触发上位机的测试程序开始按钮,开始一次测试。基于上述目的,本技术提供的一种芯片测试装置,包括测试插座和控制盒;所述测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖,所述芯片测试盖包括壳体和旋钮,所述旋钮下端设有第一接触点,所述壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点,所述第一接触点和所述第二接触点接触时,触发控制盒的启动;所述控制盒内设置有单片机、继电器和上位机,所述单片机与所述继电器电连接,用于控制所述继电器的闭合,所述继电器与所述上位机电连接,用于启动所述上位机的测试程序。本技术中,控制盒能够控制上位机的测试程序开始按钮,同时令测试插座旋钮作为该控制盒的触发开关。即,将待测芯片放置在测试插座上,拧紧旋钮的同时会启动控制盒内单片机的启动,单片机上电之后控制继电器闭合去启动上位机测试程序。优选的,所述单片机上设有上电开关,所述第一接触点与所述上电开 ...
【技术保护点】
一种芯片测试装置,其特征在于,包括测试插座和控制盒;所述测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖,所述芯片测试盖包括壳体和旋钮,所述旋钮下端设有第一接触点,所述壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点,所述第一接触点和所述第二接触点接触时,触发控制盒的启动;所述控制盒内设置有单片机、继电器和上位机,所述单片机与所述继电器电连接,用于控制所述继电器的闭合,所述继电器与所述上位机电连接,用于启动所述上位机的测试程序。
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置,其特征在于,包括测试插座和控制盒;所述测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖,所述芯片测试盖包括壳体和旋钮,所述旋钮下端设有第一接触点,所述壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点,所述第一接触点和所述第二接触点接触时,触发控制盒的启动;所述控制盒内设置有单片机、继电器和上位机,所述单片机与所述继电器电连接,用于控制所述继电器的闭合,所述继电器与所述上位机电连接,用于启动所述上位机的测试程序。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置,其特征在于,所述单片机上设有上电开关,所述第一接触点与所述上电开关的第一极相连,所述第二接触点与所述上电开关的第二极相连,旋钮锁紧待测芯片和测试插座时,所述第一接触点和所述第二接触点接触,使上电开关闭合,触发单片机的启动。3.根据权利要求1所述的芯片测试装置,其特征在于,所述旋钮的下端固定连接有螺纹管,所述壳体中间设置有中空部,所述中空部的内壁上设置有内螺纹,所述螺纹管与所述中空部的内螺纹相配合...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘净月,庞明奇,赵鹏,刘路扬,陈波,杨景阳,
申请(专利权)人:航天科工防御技术研究试验中心,
类型:新型
国别省市:北京,11
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