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本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括测试插座和控制盒；测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖，芯片测试盖包括壳体和旋钮，旋钮下端设有第一接触点，壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点，第一接触点和第二接触点接触时，触发控制盒的启动；控制...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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