一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台制造技术

本实用新型专利技术涉及一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，包括底座，所述底座的上表面竖直固设有挡板，所述挡板的底部沿着纵向均布有若干个横向通槽，所述横向通槽内均插设有横向延伸的滑板，所述滑板的两端部均垂直固设有凸块，所述滑板的一端凸块与挡板之间均连接有弹簧，若干个滑板的弹簧均位于同一侧。该适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台的结构简单。

A scanning electron microscope sample table suitable for semi cylindrical samples

Scanning electron microscopy, the utility model relates to a semi cylindrical sample comprises a base, a vertical surface of the base is fixedly provided with a baffle, the baffle and the bottom along the longitudinal direction is distributed with a plurality of transverse grooves, the transverse grooves are inserted with a laterally extending slide plate, both ends the slide are vertically and fixedly provided with a convex block, a spring is connected between the one end of the slide plate is convex block and the baffle plate, a plurality of spring slide are located on the same side. The structure of the scanning electron microscope sample table suitable for semi cylindrical samples is simple.

【技术实现步骤摘要】
一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台
本技术涉及一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台。
技术介绍
由于近年来，材料发展及应用越来越快速及广泛，以至于材料研究愈加频繁，而其中形状各异、厚度不一的材料样品被搬上实验台。然而目前市面上商用样品台功能单一，对于不同厚度样品同时进行测量方面尚无可用的合适样品台，这就促发了研究者对于集成型样品台的需求。对于不同厚度的样品进行测量时，通常是使用单试样样品台依次测量，如此操作效率低、用时长且准确性无保障。
技术实现思路
鉴于现有技术的不足，本技术所要解决的技术问题是提供一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，不仅结构简单，而且便捷高效。为了解决上述技术问题，本技术的技术方案是：一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，包括底座，所述底座的上表面竖直固设有挡板，所述挡板的底部沿着纵向均布有若干个横向通槽，所述横向通槽内均插设有横向延伸的滑板，所述滑板的两端部均垂直固设有凸块，所述滑板的一端凸块与挡板之间均连接有弹簧，若干个滑板的弹簧均位于同一侧。优选的，所述弹簧的一端与凸块固连、另一端与挡板固连。优选的，所述横向通槽的形状为方形。优选的，所述底座的长度为39.00m本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，其特征在于：包括底座，所述底座的上表面竖直固设有挡板，所述挡板的底部沿着纵向均布有若干个横向通槽，所述横向通槽内均插设有横向延伸的滑板，所述滑板的两端部均垂直固设有凸块，所述滑板的一端凸块与挡板之间均连接有弹簧，若干个滑板的弹簧均位于同一侧。

【技术特征摘要】
1.一种适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，其特征在于：包括底座，所述底座的上表面竖直固设有挡板，所述挡板的底部沿着纵向均布有若干个横向通槽，所述横向通槽内均插设有横向延伸的滑板，所述滑板的两端部均垂直固设有凸块，所述滑板的一端凸块与挡板之间均连接有弹簧，若干个滑板的弹簧均位于同一侧。2.根据权利要求1所述的适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，其特征在于：所述弹簧的一端与凸块固连、另一端与挡板固连。3.根据权利要求1所述的适用于半圆柱样品的扫描电镜样品台，其特征在于：所述横向通槽的形状为方形。4.根据权利要求1所述的适用于半圆柱样品的扫描...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪炳叔，张鼎，杨容，吴诗萍，刘慧敏，
申请(专利权)人：福州大学，
类型：新型
国别省市：福建,35